SuperViewW1白光干涉儀分析步驟介紹：
1.將樣品放置在載物臺鏡頭下方；
2.檢查電機連接和環境噪聲，確認儀器狀態；
3.使用操縱桿調節Z軸，找到樣品表面干涉條紋；
4.微調XY軸，找到待測區域，并重新找到干涉條紋；
5.完成掃描設置和命名等操作；
6.點擊開始測量（進入3D視圖窗口旋轉調整觀察一會）；
7.臺階樣品分析第一步：校平；
8.進入數據處理界面，點擊“校平”圖標，和平面樣品不同，臺階樣品需手動選取基準區域，選好基準區域后，先“全部排除”再“包括”；
9.若樣品表面有好幾處區域均為平面且高度一致，可多選擇幾個區域作為基準面進行校平；
10.臺階高度測量：線臺階高度測量
11.進入分析工具界面，點擊“臺階高度”圖標，即可直接獲取自動檢測狀態下的面臺階高度相關數據；
12.在右側點擊“手動檢測”，根據需求選擇合適的形狀作為平面1和平面2的測量區域，數據欄可直接讀取兩個區域的面臺階高度數值；
13.臺階高度測量：線臺階高度測量
14.進入數據處理界面，點擊“提取剖面”圖標，使用合適方向的剖面線，提取目標位置的剖面輪廓曲線；
15.進入分析工具界面，點擊“臺階高度”圖標，由于所測為中間凹槽到兩側平面高度，因此點擊右側工具欄，測量條對數選擇“2”，將紅色基準線對放置到凹槽平面中間，兩對測量線對分別放置在兩側平面，即可在數據纜讀取臺階高度數據。