在半導體行業，Foundry、Fabless、IDM三種模式已經使用了幾十年，現在出現了新的半導體商業模式Fab-lite。Fab-lite模式由IDM演變而來，為需要半導體制造但面臨產能限制的行業提供低成本解決方案，是企業為了減少投資風險的一種策略。除此之外，還有一種是Fabless開始自建Fab（晶圓廠、封裝廠、測試廠等）向Fab-lite模式發展。

上揚軟件針對這一新的產業發展模式研發了應用于Fab-lite模式下測試廠的MES解決方案，該方案應用于晶圓測試（CP測試）和成品測試（FT測試），并向市場正式發布。

該解決方案的特色功能包括測試來料數據集成、計劃排料預約設備、CP Mapping管理、測試BIN良率卡控、測試治具和關鍵備件管理、OCAP和SPC管控，以及非EAP方案下實現測試數據文件解析和簡易測試程序管理等，滿足不同Fab-lite工廠的測試需求。

目前，上揚軟件已為數家Fab-lite工廠完成MES項目的開發實施，為客戶的后道測試提供先進的管理系統，提高晶圓和成品的測試效率。