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夾具設計、校準及測試

高頻高速研究中心 ? 來源:高頻高速研究中心 ? 作者:高頻高速研究中心 ? 2022-09-06 15:05 ? 次閱讀
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一:測試硬件設備:

E5071C Keysight

4端口20GHz網絡分析儀,帶TDR選件。

適合測試20GHz以內的PCB板內S參數、阻抗 頻域、時域、信號。

二:測試夾具設計

2.1:測試夾具說明:

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1.待測物焊盤:由待測物本身封裝決定;

2.測試通道走線:根據待測物大小以及測試方便設計合適寬度及長度的走線;

3. 2.92mm同軸轉接頭:適用于帶寬40GHz,用于連接矢網線纜和測試板,轉接頭和測試板配合的位置需要進行仿真匹配阻抗。

4.校準通道走線:設計校準通道走線長度為測試通道走線長度的兩倍,用于AFR校準,使用plts軟件。

2.2:測試夾具說明:

2.92mm同軸轉接頭datasheet

16f9f16c-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

2.3:推薦疊層:

170fbd76-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

三:校準軟件

PLTS軟件:

Keysight 自動夾具一出(AFR PLTS)軟件。

173ad74a-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

175b7c66-2db1-11ed-ba43-dac502259ad0.png

4:測全通道s參數,校準通道s參數,得出待測物s參數

第一步:

將待測物精準焊接到測試板上,并使用儀器檢測是否有短路、虛焊、開路等情況。

第二步:

校準儀器后,分別將測試通道兩端的2.92mm同軸轉接頭連接到矢網上測得待測物和測試板整體的S參數,導出SNP1文件用于去嵌操作。

第三步:

測得校準通道的S參數,導出SNP2文件用于去嵌操作。

第四步:

將測得的整體S參數和校準通道的S參數導入PLTS軟件中,進行去嵌操作后就能將SNP1文件中包含的測試板本身數據消掉,從而得到待測物的S參數。

注:插入損耗使用S21讀取測試曲線,回波損耗或駐波比使用S11讀取測試曲線。

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審核編輯 :李倩

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原文標題:SI-list【中國】夾具設計、校準及測試

文章出處:【微信號:si-list,微信公眾號:高頻高速研究中心】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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