一:測試硬件設備:
E5071C Keysight
4端口20GHz網絡分析儀,帶TDR選件。
適合測試20GHz以內的PCB板內S參數、阻抗 頻域、時域、信號。
二:測試夾具設計
2.1:測試夾具說明:

1.待測物焊盤:由待測物本身封裝決定;
2.測試通道走線:根據待測物大小以及測試方便設計合適寬度及長度的走線;
3. 2.92mm同軸轉接頭:適用于帶寬40GHz,用于連接矢網線纜和測試板,轉接頭和測試板配合的位置需要進行仿真匹配阻抗。
4.校準通道走線:設計校準通道走線長度為測試通道走線長度的兩倍,用于AFR校準,使用plts軟件。
2.2:測試夾具說明:
2.92mm同軸轉接頭datasheet

2.3:推薦疊層:

三:校準軟件
PLTS軟件:
Keysight 自動夾具一出(AFR PLTS)軟件。


4:測全通道s參數,校準通道s參數,得出待測物s參數
第一步:
將待測物精準焊接到測試板上,并使用儀器檢測是否有短路、虛焊、開路等情況。
第二步:
校準儀器后,分別將測試通道兩端的2.92mm同軸轉接頭連接到矢網上測得待測物和測試板整體的S參數,導出SNP1文件用于去嵌操作。
第三步:
測得校準通道的S參數,導出SNP2文件用于去嵌操作。
第四步:
將測得的整體S參數和校準通道的S參數導入PLTS軟件中,進行去嵌操作后就能將SNP1文件中包含的測試板本身數據消掉,從而得到待測物的S參數。
注:插入損耗使用S21讀取測試曲線,回波損耗或駐波比使用S11讀取測試曲線。


審核編輯 :李倩
-
測試
+關注
關注
9文章
6201瀏覽量
131346 -
PCB板
+關注
關注
27文章
1495瀏覽量
55206 -
阻抗
+關注
關注
17文章
988瀏覽量
49229
原文標題:SI-list【中國】夾具設計、校準及測試
文章出處:【微信號:si-list,微信公眾號:高頻高速研究中心】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。
發布評論請先 登錄
矢量網絡分析儀(VNA)校準與測試方法
同惠LCR測試儀TH2851電感參數測量設置指南
技術對比:矢量網絡分析儀的去嵌入和端口延伸
同惠TH2830高頻LCR測試儀精度優化技巧
是德E5071C矢量網絡分析儀多端口校準與S參數測試技巧
比特誤碼率測試儀接收端受限眼圖自動校準最佳實踐
同惠LCR測試儀如何實現高效批量自動化測量
同惠TH2836LCR測試儀校準有效期解析與維護建議
三泉參與起草的《魯爾圓錐接頭性能測試儀校準規范》開始實施
太陽光模擬器的光源校準分析
夾具設計、校準及測試
評論