AFR和端口延伸有什么區(qū)別？實際測試用哪一種方式較好呢？

有些射頻微波元件不是同軸的，例如PCB上的SMT元件，或者有的元件是半導體晶圓的一部分。測量這類元件時，用戶需要用到測試夾具或晶圓探針。測試時，我們通常先用標準校準件（例如N型或SMA型）在電纜線末端做校準，然后將校準平面“移”到DUT處。

有兩種方法：

– 端口延伸（Port Extension)

– 夾具去嵌入 （Fixture De-embedding）

端口延伸（Port Extension）

端口延伸（Port Extension）

這種移動校準平面的方法簡單易用。傳統(tǒng)上，端口延伸只用電延遲（delay）來標定夾具、探頭或適配器的物理長度。現在，很多VNA 在使用端口延伸時允許使用延遲（delay）和損失（loss）補償。損耗參數可以手動輸入，也可以使用自動端口延伸（Auto Port Extension）功能從測量中導出。

自動端口延伸（Auto Port Extension）

提供了一種方便、快速和簡單的方法來確定端口延伸所需的延遲（DELAY）和損耗（LOSS）參數。用戶可以測量夾具開路（例如，未插入或焊接 DUT ），或短路，或兩者兼而有之。

夾具去嵌入（Fixture De-embedding）

這是移動校準平面的方法更準確，因為它消除了測試系統(tǒng)與夾具或探針之間以及夾具或探針與DUT之間的損耗、延遲和失配效應。為了使該過程有效，用戶需要計算或測量夾具或探頭的S參數。S參數可以使用是德科技先進設計系統(tǒng)（ADS）等電路仿真工具進行建模，也可以從物理測量中獲取。而AFR便是客戶最喜歡的一種簡單易用的方法。Keysight P9370/80B系列模塊化網分具有自動夾具移除（AFR）的功能，它可以很容易的測量并獲得夾具的S-參數。AFR類似于自動端口延伸，可以使用開路或短路來獲得S-參數。當然，它也可以使用直通來代替反射標準，AFR使用先進的時域技術來獲得全套S-參數。

總結

AFR配合“去嵌入”得到夾具的S參數，Auto Port Extension配合“端口延伸”得到射頻轉接頭的損耗。去嵌入方法更準確，因為它可以消除損耗、延遲和失配效應；端口延伸更容易使用，但它只消除損耗和延遲效應。