隨著PCIe Gen 4和Gen 5的項(xiàng)目開發(fā)越來越多，很多公司希望在PCIe鏈路層注入故障來模擬針對主板/背板一側(cè)，或者外設(shè)一側(cè)（如插卡，NVMe SSD等）的各種異常，業(yè)內(nèi)主流的CPU廠商例如Intel和AMD, 以及PCIe Switch廠商Broadcom, Microchip目前都在使用英國Quarch的PCIe Gen 5 x16的測試卡實(shí)現(xiàn)針對Gen 5的測試。

Quarch公司提供針對PCIe Gen 4和Gen 5各種接口的測試插卡和模塊，包括U.2, U.3, M.2, AIC （x8和x16），EDSFF L1.S (x4) / L1.L (x8)，以及各類PCIe Cable的測試模塊等，滿足用戶測試的各種需求。當(dāng)然，除了針對NVMe SSD的各種模塊之外，傳統(tǒng)的針對24G/12G/6G SAS和6G SATA也提供相應(yīng)的測試模塊。

下面的功能概覽適用于上述所有各種PCIe接口，工程師可以根據(jù)需要通過GUI或者Phyton API腳本對于主板/背板端，或者外設(shè)（插卡，NVMe SSD）端進(jìn)行測試。

模擬在任意針腳上注入信號毛刺，進(jìn)行物理層/協(xié)議層故障注入

可以設(shè)置信號毛刺的多少，注入一次毛刺，還是持續(xù)加毛刺，間隔時(shí)間多長等

信號毛刺的高低，疏密，持續(xù)的時(shí)間長短

通過調(diào)整信號毛刺參數(shù)實(shí)現(xiàn)針對PCIe協(xié)議的故障注入，如bit error，CRC error等。

模擬盤的熱插拔

模擬盤熱插拔過程中導(dǎo)致的pin bounce時(shí)斷時(shí)通等接觸不好的情況

模擬某些針腳斷掉

模擬某些針腳長通

模擬某個(gè)Lane中的某些差分信號有毛刺，或者某個(gè)Lane不通

模擬非常快速的插拔（通/斷）測試

電壓拉偏和功耗測試是測試SSD的基本測試項(xiàng)，包括PCIe/NVMe SSD和傳統(tǒng)的SAS/SATA HDD/SSD。其中，電壓拉偏測試主要是保證SSD在接入不同廠商設(shè)計(jì)的主板/背板時(shí)候如果其輸出電源和標(biāo)準(zhǔn)有偏離，那么SSD是否還可以正常穩(wěn)定的工作，該測試電壓拉偏的設(shè)置最低允許工程師以1us作為粒度調(diào)整電壓。

功耗測試是找出SSD在不同的業(yè)務(wù)負(fù)載等情況下的電壓/電流/功耗的情況，Quarch可編程電源支持最大250K采樣率，可以實(shí)現(xiàn)非常精細(xì)的電壓/電流/功耗計(jì)量，在最小采樣率7Hz設(shè)置的時(shí)候其內(nèi)部記錄buffer可以實(shí)現(xiàn)24小時(shí)以上的持續(xù)記錄，記錄的數(shù)據(jù)可以通過GUI界面分析，其Test Monkey圖形化軟件允許用戶放大/縮小插卡分析局部細(xì)節(jié)，同時(shí)也自動(dòng)自動(dòng)計(jì)算出電壓/電流/功耗的最大/最小/平均值，另外軟件也允許用戶將記錄的數(shù)據(jù)導(dǎo)出成.csv作離線進(jìn)一步分析。

關(guān)于Saniffer

Saniffer公司位于上海張江高科技園區(qū)，是國內(nèi)唯一專注于存儲(chǔ)測試工具領(lǐng)域的綜合服務(wù)提供商，涉及測試工具覆蓋了存儲(chǔ)生態(tài)的各個(gè)環(huán)節(jié)，從芯片開發(fā)，底層固件和驅(qū)動(dòng)開發(fā)/驗(yàn)證，測試工程，應(yīng)用工程，RDT可靠性測試，一直到生產(chǎn)測試。測試的產(chǎn)品涉及存儲(chǔ)控制器IP，芯片，HDD/SSD，存儲(chǔ)系統(tǒng)，服務(wù)器，網(wǎng)絡(luò)設(shè)備研發(fā)，設(shè)計(jì)，生產(chǎn)和制造。Saniffer提供的測試方案包括并不限下面涉及的技術(shù)：

PCIe/NVMe Gen 4/5

SAS 12/24G / SATA 6G

UFS 3.0/3.1

NAND 400MT/800MT/1.6GT

LPDDR/DDR 4/5

FC 32G

FCoE

iSCSI

NVMoF (NVMe over Fabric)

FC-NVMe (NVMe over FC)

隨著近幾年P(guān)CIe Gen 3/4/5技術(shù)及NVMe SSD在國內(nèi)的快速發(fā)展，Saniffer迅速成為國內(nèi)在該領(lǐng)域的知名供應(yīng)商，成為UNH IOL認(rèn)證的SerialTek, SanBlaze, Quarch在中國的獨(dú)家合作伙伴。

感興趣的朋友可以直接訪問：https://www.saniffer.com/cn/downloads/，或者訪問Saniffer官方網(wǎng)頁，然后點(diǎn)擊中文->文檔下載下面的“PCIe Gen 4 NVMe SSD測試環(huán)境搭建和常用工具圖解_ver3.0”下載最新的針對PCIe Gen 4 NVMe SSD的匯總的測試技術(shù)和產(chǎn)品文檔即可。或者，直接到下面的鏈接直接下載我們更新的測試工具白皮書，里面含有針對SerialTek PCIe Gen 4和Gen 5協(xié)議分析儀的更加詳細(xì)的功能介紹，文件大小15M字節(jié)：

鏈接: https://pan.baidu.com/s/1W6EXxybpC6S0XEy25SyRKg 提取碼: sqji

該文檔系統(tǒng)對于PCIe Gen 4 控制器芯片或NVMe SSD產(chǎn)品開發(fā)/測試常用的各種相關(guān)測試工具進(jìn)行圖解剖析，涉及PCIe Gen 4協(xié)議分析，性能/功能/協(xié)議兼容性/IOT測試，熱插拔自動(dòng)化測試，掉電測試，高低溫測試，以及如何構(gòu)建PCIe Gen 4 NVMe SSD測試環(huán)境，從Gen 4主板選型開始，涉及PCIe Gen 4 NVMe SSD三類接口（M.2, U.2, AIC）的端口擴(kuò)展，各種常用的主機(jī)卡，轉(zhuǎn)接卡，盤柜，延長線的選擇等，以及考慮到測試便利性使用的主板托架和實(shí)驗(yàn)室批量測試機(jī)架等解決方案。

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