国产精品久久久aaaa,日日干夜夜操天天插,亚洲乱熟女香蕉一区二区三区少妇,99精品国产高清一区二区三区,国产成人精品一区二区色戒,久久久国产精品成人免费,亚洲精品毛片久久久久,99久久婷婷国产综合精品电影,国产一区二区三区任你鲁

0
  • 聊天消息
  • 系統消息
  • 評論與回復
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學習在線課程
  • 觀看技術視頻
  • 寫文章/發帖/加入社區
會員中心
創作中心

完善資料讓更多小伙伴認識你,還能領取20積分哦,立即完善>

3天內不再提示

ESD耐性的測試方法耐性

GLeX_murata_eet ? 來源:村田中文技術社區 ? 2020-07-01 15:33 ? 次閱讀
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

本文對電容器ESD(Electrostatic Discharge:靜電放電)耐性進行說明。

ESD耐性的測試方法耐性

人體和設備所攜帶的靜電向整機及電子元件放電時,由于增加了沖擊性的電磁能量,則產品必須具備一定量ESD耐力。

ESD耐性測試方法根據產生靜電的模型,分為以下三種:

①HBM

②MM

③CDM

其中,我們為您說明一般較多用作電容器ESD耐性測試方法的①HBM。

①HBM(Human Body Model:人體模型):假設由人體靜電放電時的測試

②MM(Machine Model:機械模型):假設由機械靜電放電時的測試

③CDM(Charged Device Model:帶電設備模型):假設由帶電設備靜電放電時的測試

HBM的ESD測試規格有AEC-Q200-002和IEC61000-4-2等,HBM模型常熟如下表所示因規格有所不同。

AEC-Q200-002HBM的ESD測試電路及放電電流波形如圖1、圖2所示。

(i)開關2為斷開狀態,開關1閉合,施加高壓電源,充電用電容器(Cd)存儲電量。

(ii)開關1斷開,開關2閉合,電對測試對象電容器(Cx)施加Cd存儲的電量,進行測試。

※Cx:測試對象電容器 Cd:充電用電容器 Rd:放電用電阻 Rc:保護電阻

圖1.HBM的ESD測試電路

圖2.放電電流波形

根據AEC-Q200-002,HBM的ESD測試流程如圖3所示,級分類如表1所示。根據圖3的流程進行測試,耐電壓的分級如表1所示進行分類。

圖3.HBM的ESD測試流程

表1.HBM的ESD測試流程

DC:直流接觸放電 AD:空氣放電

電容器靜電容量與ESD耐性的關系

測試對象電容器的靜電容量對電容器兩端產生的電壓有影響。

圖4.HBM的ESD測試電路

測試對象電容器的靜電容量(Cx)和兩端產生的電壓(Vx)有如下關系。

電源電壓(Vd)及充電用電容器的靜電容量(Cd)恒定時,測試對象電容器的靜電容量(Cx)越大,測試對象電容器兩端產生的電壓(Vx)越小。

因此一般的測試對象電容器靜電容量越大,ESD耐性有變大的趨勢。

實際上,如電介質的種類及厚度之類的設計上的差異,耐電壓的性能范圍也有不同,并非所有的都如上述的趨勢一樣。

(參考數據)多層陶瓷電容器(GCM系列)的ESD耐性

展示了多層陶瓷電容器(GCM系列)的ESD耐性參考數據。

圖5. 高介電常數型電容器的ESD測試結果(Vd=25kV為測量范圍)

聲明:本文內容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網站授權轉載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發燒友網立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用,如有內容侵權或者其他違規問題,請聯系本站處理。 舉報投訴
  • 電容器
    +關注

    關注

    64

    文章

    6958

    瀏覽量

    107764
  • ESD
    ESD
    +關注

    關注

    50

    文章

    2402

    瀏覽量

    179926
  • 靜電
    +關注

    關注

    2

    文章

    553

    瀏覽量

    38258

原文標題:【工程師必看】一文了解電容器的ESD耐性

文章出處:【微信號:murata-eetrend,微信公眾號:murata-eetrend】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

收藏 人收藏
加入交流群
微信小助手二維碼

掃碼添加小助手

加入工程師交流群

    評論

    相關推薦
    熱點推薦

    ESD測試的詳細解釋

    ESD測試,即靜電放電測試(Electrostatic Discharge Testing),是一種用于評估電子設備或組件在靜電放電環境下的性能穩定性和可靠性的測試
    發表于 11-26 07:37

    ESD靜電保護元件的結構和原理

    上一篇我們聊了ESD的危害和測試標準,這一篇我們聚焦“防護主力”——ESD保護二極管(又稱TVS二極管)。這個看似簡單的元器件,到底是如何在瞬間將千伏級靜電“化解于無形”的?雷卯電子的ESD
    的頭像 發表于 11-17 09:58 ?3173次閱讀
    <b class='flag-5'>ESD</b>靜電保護元件的結構和原理

    開關電源測試流程方法合集

    開關電源作為電子行業中最為常見的電源類型,其應用領域十分廣泛,作為電源模塊測試系統的專業供應商,納米軟件接觸的用戶中,有很大一部的客戶需要我們為其提供開關電源的測試流程和方法,作為其自動化測試
    的頭像 發表于 10-31 09:36 ?1306次閱讀
    開關電源<b class='flag-5'>測試</b>流程<b class='flag-5'>方法</b>合集

    靜電、浪涌與TVS:從測試標準到選型指南,一篇搞定電路防護

    驗證。要想最大限度地避免這些問題,選擇合適的防護器件并在設計階段做好充分防護措施至關重要。本文將詳細介紹ESD和浪涌的測試標準、測試方法,以及如何選擇關鍵的TVS防護器件。什么是TV
    的頭像 發表于 10-29 14:27 ?625次閱讀
    靜電、浪涌與TVS:從<b class='flag-5'>測試</b>標準到選型指南,一篇搞定電路防護

    13保護器件ESD的VB VC IR IPP代表什么意思

    ESD
    上海雷卯電子
    發布于 :2025年10月26日 11:45:43

    基于JEDEC標準的閂鎖效應測試方法

    作為半導體器件的潛在致命隱患,Latch Up(閂鎖效應)一直是電子行業可靠性測試的重點。今天,SGS帶你深入揭秘這個“隱形殺手”,并詳解國際權威標準JEDEC JESD78F.02如何通過科學的測試
    的頭像 發表于 10-22 16:58 ?1922次閱讀
    基于JEDEC標準的閂鎖效應<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>方法</b>

    【EMC技術案例】芯片下方電源走線導致ESD測試Fail案例

    【EMC技術案例】芯片下方電源走線導致ESD測試Fail案例
    的頭像 發表于 10-20 17:02 ?735次閱讀
    【EMC技術案例】芯片下方電源走線導致<b class='flag-5'>ESD</b><b class='flag-5'>測試</b>Fail案例

    【EMC標準分析】消費電子與汽車電子ESD測試標準差異對比

    【EMC標準分析】消費電子與汽車電子ESD測試標準差異對比
    的頭像 發表于 09-09 17:32 ?1173次閱讀
    【EMC標準分析】消費電子與汽車電子<b class='flag-5'>ESD</b><b class='flag-5'>測試</b>標準差異對比

    為什么 ESD 測試能過,但實際應用還是被擊壞?

    在電子產品的開發過程中,靜電放電(ESD測試往往是EMC測試中的重要環節之一。很多客戶反饋:樣機在實驗室中按照IEC61000-4-2標準進行ESD
    的頭像 發表于 09-03 10:53 ?769次閱讀
    為什么 <b class='flag-5'>ESD</b> <b class='flag-5'>測試</b>能過,但實際應用還是被擊壞?

    揚杰科技分享如何通過硬件電路優化降低ESD干擾

    ? ? ? 在電子電路系統設計中,工程師處理ESD有時候總覺得沒有頭緒,主要原因是ESD測試難以量化,每次測試的結果也會存在差異,所以憑感覺處理起來很‘玄學’。 簡單說起來就是
    的頭像 發表于 08-25 14:16 ?7640次閱讀
    揚杰科技分享如何通過硬件電路優化降低<b class='flag-5'>ESD</b>干擾

    浪涌測試、脈沖群測試ESD測試的對比

    + 8/20μs 電流波) 1.2/50μs:電壓波(開路狀態) 8/20μs:電流波(短路狀態) 測試等級 :通常 ±0.5kV ~ ±4kV (線-線或線-地) 1.3 測試方法 直接耦合 :通過
    的頭像 發表于 08-12 21:46 ?1410次閱讀

    ESD技術文檔:芯片級ESD與系統級ESD測試標準介紹和差異分析

    ESD技術文檔:芯片級ESD與系統級ESD測試標準介紹和差異分析
    的頭像 發表于 05-15 14:25 ?4597次閱讀
    <b class='flag-5'>ESD</b>技術文檔:芯片級<b class='flag-5'>ESD</b>與系統級<b class='flag-5'>ESD</b><b class='flag-5'>測試</b>標準介紹和差異分析

    半導體芯片的ESD靜電防護:原理、測試方法與保護電路設計

    半導體芯片易受大電流與高電壓現象影響。為實現元件級保護,我們采用片上ESD保護電路來提供安全的靜電放電電流泄放路徑。靜電放電(ESD)是電子設備面臨的常見威脅。當ESD事件發生時,一定量的電荷會在
    的頭像 發表于 05-13 11:21 ?3645次閱讀
    半導體芯片的<b class='flag-5'>ESD</b>靜電防護:原理、<b class='flag-5'>測試</b><b class='flag-5'>方法</b>與保護電路設計

    ESD保護器件ESDAxxL系列規格書

    ESD保護器件ESDAxxL Series SOT-23
    發表于 03-24 10:46 ?0次下載

    淺談靜電放電(ESD)測試

    方式引發。ESD的特點是電荷積累時間長、放電電壓高、涉及電量少、電流小且作用時間極短。 靜電測試ESD)有哪些方式 ESD(靜電放電)測試
    的頭像 發表于 03-17 14:57 ?3201次閱讀