s8254系列內置高精度電壓檢測電路和延遲電路，是用于3節或4節串聯鋰離子/鋰聚合物可充電電池保護的IC。通過SEL端子的切換，可用來保護3節或4節串聯電池。

　　數據總線緩沖器

　　數據總線緩沖器是一個三態、雙向8位寄存器主要作用是與cpu進行數據交換，8位數據線D7～D0與CPU的系統數據總線連接，構成CPU和8254之間信息傳送的通道，CPU通過數據總線緩沖器向8254寫入控制命令、計數初始值或讀取計數值。

　　s8254內部結構圖

　　s8254應用電路

　　在SEL端子=VDD電位時選擇4節電池的情況下的S-8254A系列的測定方法。在SEL端子=VSS電位時，要選擇3節電池的情況下，請將電源V4短路。

　　1. 工作時消耗電流、休眠時消耗電流

　　1.1 工作時消耗電流（IOPE）

　　在V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V、VVMP = VDD時，VSS端子的電流即為消耗電流 （IOPE）。

　　1.2 休眠時消耗電流 （IPDN）

　　在V1 = V2 = V3 = V4 = 1.5 V、VVMP = VSS時，VSS端子的電流即為休眠時的消耗電流 （IPDN）。

　　2. 過充電檢測電壓、過充電解除電壓、過放電檢測電壓、過放電解除電壓、過電流檢測電壓1、過電流檢測電壓2、過電流檢測電壓3、CTL輸入電壓“H”、CTL輸入電壓“L”、SEL輸入電壓“H”、SEL輸入電壓 “L”

　　在VVMP = VSEL = VDD、VINI = VCTL = VSS、CDT端子=“開路”、V1 = V2 = V3 = V4 = 3.5 V的前提下，請確認COP端子以及DOP端子為“L” （VDD × 0.1 V以下的電壓） （以下記載為初始狀態）。

　　2.1 過充電檢測電壓 （VCU1）、過充電解除電壓 （VCL1）

　　從初始狀態開始緩慢提升V1的電壓，COP端子的電壓變為“H” （VDD × 0.9 V以上的電壓）時V1的電壓即為過充電檢測電壓 （VCU1）。之后，緩慢降低V1的電壓，COP端子的電壓變為“L”時V1的電壓即為過充電解除電壓 （VCL1）。

　　2.2 過放電檢測電壓 （VDL1）、過放電解除電壓 （VDU1）

　　從初始狀態開始緩慢降低V1的電壓，DOP端子的電壓變為“H”時V1的電壓即為過放電檢測電壓 （VDL1）。之后，緩慢提升V1的電壓，DOP端子的電壓變為“L”時V1的電壓即為過放電解除電壓 （VDU1）。只要使Vn （n = 2 ~ 4）的電壓產生變化，也與n = 1的情況相同可以計算出過充電檢測電壓 （VCUn）、過充電解除電壓（VCLn）、過放電檢測電壓 （VDLn） 以及過放電解除電壓 （VDUn）。

　　2.3 過電流檢測電壓1 （VIOV1）

　　從初始狀態開始緩慢提升VINI端子的電壓，DOP端子的電壓變為“H”時VINI端子的電壓即為過電流檢測電壓1 （VIOV1）。

　　2.4 過電流檢測電壓2 （VIOV2）

　　從初始狀態開始設置CDT端子的電壓為VSS之后，緩慢提升VINI端子的電壓，DOP端子的電壓變為“H” 時VINI端子的電壓即為過電流檢測電壓2 （VIOV2）。

　　2.5 過電流檢測電壓3 （VIOV3）

　　從初始狀態開始緩慢降低VMP端子的電壓，DOP端子的電壓變為“H”時VDD與VVMP的電壓差（VDD ? VVMP） 即為過電流檢測電壓3 （VIOV3）。

　　2.6 CTL輸入電壓“H” （VCTLH）、CTL輸入電壓“L” （VCTLL）

　　從初始狀態開始緩慢提升CTL端子的電壓，COP端子以及DOP端子的電壓變為“H”時CTL端子的電壓即為CTL輸入H電壓 （VCTLH）。之后，緩慢降低CTL端子的電壓，COP端子以及DOP端子的電壓變為“L” 時CTL端子的電壓即為CTL輸入L電壓 （VCTLL）。

　　2.7 SEL輸入電壓“H” （VSELH）、SEL輸入電壓“L” （VSELL）

　　從初始狀態開始設置V4 = 0V，確認DOP端子為“H”。之后，緩慢降低SEL端子的電壓，DOP端子的電壓變為“L”時SEL端子的電壓即為SEL輸入L電壓 （VSELL）。之后，緩慢提升SEL端子的電壓，DOP 端子的電壓變為“H”時SEL端子的電壓即為SEL輸入H電壓 （VSELH）。