內(nèi)存時序和內(nèi)存頻率一樣，都代表了一款內(nèi)存性能的高低。

內(nèi)存時序由4個數(shù)字組成，中間用破折號隔開，例如16-18-18-38

這些數(shù)字表示延遲，也就是內(nèi)存的反應(yīng)時間。當(dāng)內(nèi)存接收到CPU發(fā)來的指令后，通常需要幾個時鐘周期來處理它，比如訪問某一塊數(shù)據(jù)。所以，時間越短，內(nèi)存性能越好。

頻率和時序一起，共同決定了內(nèi)存可以跑得多快。不過相比頻率，時序由四位數(shù)字組成，每一個數(shù)字都代表不同的含義，在理解上自然更加復(fù)雜一些。

內(nèi)存時序分別對應(yīng)的參數(shù)為“CL-tRCD-tRP-tRAS”，單位為時間周期，它們的含義依次為：

CL（CASLatency）：列地址訪問的延遲時間，是時序中最重要的參數(shù)。

tRCD（RASto CAS Delay）：內(nèi)存行地址傳輸?shù)搅械刂返难舆t時間;

tRP（RASPrecharge Time）：內(nèi)存行地址選通脈沖預(yù)充電時間;

tRAS（RASActive Time）：行地址激活的時間。

看完它們的含義是不是很懵圈？沒關(guān)系，給你舉個例子。

我們可以把內(nèi)存存儲數(shù)據(jù)的地方想象成上面這樣，每個方格都存儲著不同的數(shù)據(jù)。CPU需要什么數(shù)據(jù)，就向內(nèi)存發(fā)來指令，比如想要的位置是C4。

接下來內(nèi)存就要先確定數(shù)據(jù)具體在哪一行，所以時序的第二個參數(shù)tRCD就是代表這個時間，意思就是內(nèi)存控制器接收到行的指令后，需要等待多長時間才能訪問這一行。

由于這一行含有多個數(shù)據(jù)，內(nèi)存并不能哪一個才是CPU需要找的，所以tRCD的值是一個估值。這就是為什么小幅改動這個值并不會影響內(nèi)存的性能表現(xiàn)。

內(nèi)存確定了行之后，要想找出數(shù)據(jù)，還得確定列。那么時序的第一個數(shù)字，也就是CL（CAS），表示內(nèi)存確定了行數(shù)之后，還得等待多長時間才能訪問具體列數(shù)的時間（時間周期）。

行列必然產(chǎn)生交點(diǎn)，也就是說確定了行數(shù)和列數(shù)之后，就能準(zhǔn)確找到目標(biāo)數(shù)據(jù)，所以CL是一個準(zhǔn)確的值，任何改動都會影響目標(biāo)數(shù)據(jù)的位置，所以它在時序當(dāng)中是最關(guān)鍵的一個參數(shù)，對內(nèi)存性能的發(fā)揮著舉足輕重的作用。

內(nèi)存時序的第三個參數(shù)tRP，就是如果我們已經(jīng)確定了一行，還要再確定另外一行所需要等待的時間（時間周期）。

然后第四個參數(shù)tRAS，可以簡單理解成是留個內(nèi)存寫入或者讀取數(shù)據(jù)的一個時間，它一般接近于前三個參數(shù)的總和。

所以，在保障穩(wěn)定性的前提下，內(nèi)存時序越低越好。

那么，時序?qū)?nèi)存性能影響有多大呢？

我們做了一個測試，在保持內(nèi)存頻率不變的情況下，內(nèi)存性能隨著時序的變小而不斷變強(qiáng)。

不過相比之下，時序改變后，內(nèi)存延遲的變化比內(nèi)存讀寫速度的變化更加明顯，這也說明了時序的影響側(cè)重在延遲方面。

現(xiàn)在，關(guān)于時序，你搞懂了嗎？