安捷倫科技（Agilent Technologies）于8月5-10日在匹茲堡舉辦的IEEE國際電磁相容技術研討會中，展示旗下的測試解決方案。

　　電磁相容性（EMC）已成為新的電氣和電子產品的關鍵需求，目前全球的政府法規，均要求進行正式的認證測試與實地（in-field）監測。安捷倫廣泛的電磁干擾（EMI）測試產品，包含了設計、塬型製作、製造與建置所需的測試功能。

　　安捷倫于研討會中展示下列測試解決方案：

　　SystemVue 2012.06：設計師可以使用這個軟體，來建立高速數位晶片對晶片（chip-to-chip）和機架到機架（rack-to-rack）鏈路所需的中通道（mid-channel）中繼器和光鏈路模型，比起使用C語言來進行手動編碼，可省下好幾個月的編程時間。這些模型之后可送交中繼器和光鏈路客戶，好讓他們使用ADS先進設計系統中的暫態/迴旋模擬器，將模型整合到完整的端對端通道模擬。

　　Agilent N9038A MXE：這款完全相容的EMI接收器，可以執行CISPR、MIL STD和DO-160量測。內建的診斷工具包括有頻譜分析、光譜圖、長條圖和柱狀圖。將Agilent N6141A EMI量測應用軟體搭配安捷倫X系列信號分析儀使用，可執行傳導放射與輻射放射先期認證測試。

　　FieldFox射頻分析儀和FieldFox向量網路分析儀：這些手持式測試儀器以適合野外/現場環境使用和堅固耐用聞名，可執行多種功能，包括天饋線分析、頻譜分析和向量網路分析，內建的QuickCal校驗功能，讓工程師不需將校驗套件帶到野外現場即可校驗網路分析儀。

　　新的Agilent PNA-L向量網路分析儀：這款測試儀器以較低的成本和經得起未來考驗的功能，提供中階VNA中最高的效能。安捷倫將使用PNA-L來展示EMC室的特性描述。

　　Agilent E5061B-3L5 ENA LF-RF向量網路分析儀：Agilent E5061B是符合業界標準的ENA系列網路分析儀的一員，可解決電子元件和電路設計師從低頻到高頻的各種量測需求。

　　安捷倫EEsof EDA高速數位設計產品經理Dr. Colin Warwick，在EMC Symposium Global University Signal Integrity課程系列中的The Power of S-Parameters for High Speed Digital Design主題發表演說，該課程涵蓋S參數模型的運用，并提供可避免突發問題的秘訣和訣竅。