今天為大家介紹一項國家發明授權專利——一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準方法及裝置。該專利由國家電網公司申請，并于2018年8月31日獲得授權公告。

內容說明

本發明涉及電力儀器儀表技術領域，特別涉及一種應用在電能表中RTC （Real-Time Clock，實時時鐘）模塊的補償校準方法及裝置。

發明背景

對于大多數對時間精確度要求較高的系統來說，RTC模塊式必不可少的實時時鐘生成模塊，它可以為芯片提供精確地實時時鐘。RTC模塊一般會外掛晶體，根據晶體的固有振蕩頻率輸出時鐘信號，其結構比較簡單，成本較低。但是晶體的振蕩頻率受到溫度影響，其振蕩頻率會有一定的偏移，造成分頻后的時鐘失準，因此，在應用中需要根據晶體的溫度漂移特性對RTC模塊輸出時鐘信號進行校準。

為了使RTC模塊的輸出時鐘達到實時時鐘的要求，現有技術的很多方法都采用對分頻時鐘頻率補償的方式提高RTC模塊輸出時鐘的精確度。其中，最為廣泛采用的是，在每次補償周期都測量晶體的溫度，然后根據晶體振蕩的溫度漂移特性將振蕩的偏移量，即補償參數補償到RTC模塊輸出時鐘里。

但由于受到補償模塊中最小補償單位的限制，不能精確的將每個周期的偏移量完全補償到實時時鐘里去，會留下補償余數，造成微小的補償偏差。在單個時鐘校準周期中，這種微小的補償余數對時鐘精確度影響不大，但多個周期累積起來的偏差會對時鐘的精確性造成不能忽視的影響。

發明內容

為了解決現有技術中對RTC模塊的補償方法容易產生的補償余數累積誤差、無法滿足高精度的要求等技術問題，本發明提出一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準方法及裝置。

一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準方法，包括：根據測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數；根據所述補償參數和RTC模塊的最小補償單位計算補償校準值和補償余數；根據所述補償校準值和所述補償余數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。

優選地，在第一個補償周期中，所述根據所述補償校準值和所述補償余數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準，具體包括：按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，并存儲所述補償余數。

在第n個補償周期中，根據所述補償參數和RTC模塊的最小補償單位計算補償校準值和補償余數，具體包括：根據第n-1個補償周期存儲的補償余數、第n個補償周期獲取的補償參數和RTC模塊的最小補償單位計算第n補償周期的補償校準值和補償余數。

所述根據第n-1個補償周期存儲的補償余數、第n個補償周期獲取的補償參數和RTC模塊的最小補償單位計算第n補償周期的補償校準值和補償余數，具體包括：an+mn-1=nn*b+mn。其中，n為大于1的自然數，an代表第n個補償周期獲取的補償參數，mn-1代表第n-1個補償周期存儲的補償余數，nn代表RTC模塊的最小補償單位，b代表RTC模塊的最小補償單位的整數倍，mn代表第n個補償周期的補償余數。

在第n個補償周期中，所述根據所述補償校準值和所述補償余數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準，具體包括：按照所述第n個補償周期的補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，并存儲所述第n個補償周期的補償余數。

所述存儲所述第n個補償余數具體包括：用第n個補償周期的補償余數覆蓋第n-1個補償周期的補償余數。

一種應用在電能表中RTC模塊的補償校準裝置，包括：溫度測量模塊，用于根據測量的RTC模塊的晶體溫度獲取時鐘校準所需的補償參數；控制模塊，用于根據所述補償參數和RTC模塊的最小補償單位計算補償校準值和補償余數，并根據所述補償校準值和所述補償余數對RTC模塊的時鐘頻率進行校準。

所述控制模塊，具體用于在第一個補償周期中，按照所述補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，并將所述補償余數存入存儲模塊；所述存儲模塊，用于存儲所述補償余數。所述控制模塊，還具體用于在第n個補償周期中，根據第n-1個補償周期存儲的補償余數、第n個補償周期獲取的補償參數和RTC模塊的最小補償單位計算第n補償周期的補償校準值和補償余數。

優選地，所述控制模塊，還具體用于在第n個補償周期中，按照所述第n個補償周期的補償校準值對所述RTC模塊的時鐘頻率進行校準，并存儲所述第n個補償周期的補償余數。所述控制模塊，具體用于用第n個補償周期的補償余數覆蓋存儲模塊中存儲的第n-1個補償周期的補償余數。

本實施例提供的方案中，通過采用在每次的補償周期將之前多個補償周期的累積余數誤差考慮進去，再進行當次的補償校準的技術手段，解決了現有技術中，普通的RTC補償方法無法滿足對實時時鐘精度要求較高的系統需求的技術問題，并取得可減小累積誤差對實時時鐘精度的影響，提供RTC模塊時鐘精確度的技術效果。