3 測試方案

　　圖3所示為本文提出的測試解決方案。要解決波控電路輸入信號多且輸入信號之間有著嚴格的時序關系這一問題，可選用可編程器件（如FPGA，CPLD）來產生需要的信號。由于在測試波控電路時需要嚴格控制輸入高、低電平電壓，因此，在測試篩選時，去掉那些因工藝制造過程造成的輸入翻轉電平有缺陷的電路，可編程器件輸出不能直接傳輸給被測器件，需要加一級電平轉換驅動電路，才能滿足波控電路輸入測試要求。

　　圖3 波束控制電路測試方案

　　波束控制電路中最重要的參數就是功能測試的結果。由于輸出通道較多，邏輯關系比較復雜，測試向量較多，測試時無法窮舉所有邏輯關系，在實際測試時，常常選用部分真值表作為功能判斷依據。表1為一個常見的波控電路真值表，這種表格形式便于測試判斷。

　　表1 波束控制電路真值表

　　顯然，對于這種邏輯關系的判斷，最好的方式是采用現場可編程器件。可編程器件具有較多的IO資源，而且內部有一定的儲存空間，還可以進行邏輯運算，提高測試效率。

　　一般來說，波束控制電路輸出與可編程器件之間不兼容，不能直接連接，因此需要選擇一種方式解決電平不兼容的問題。有兩種比較簡單的方式：一種是采用電阻網絡，另一種是采用電平轉換接口芯片。這兩種方式各有優缺點：電阻網絡結構簡單，成本低，但是靈活性差；電平轉換接口芯片相對復雜一些，成本也相應較高，但是設計靈活。

　　本文推薦采用第二種方法，因為波束控制芯片輸出模式很可能會有很多種，比如0~-5V輸出，或0~5V輸出，或兩者皆有。利用比較器實現電平轉換是比較好的選擇。

　　至于時間參數及一些靜態參數的判斷，可以通過GPIB程控示波器和數字萬用表直接進行測試，從而保證參數的測試精度。