隨著半導體材料和制造工藝的不斷升級，小型化、高性能化已成為芯片和器件的重要發展趨勢，這意味著芯片的信號采集、處理、功耗等性能將得到持續提升，對于測試裝置的精度、穩定性、集成度等重要指標，也提出了更高的標準和要求。

接下來，小編將為您分享NGI高性能可編程直流電源在AFE、射頻、激光器芯片中的應用和相關案例。

AFE芯片

AFE（Analog Front End，模擬前端）芯片是一種用于模擬信號采集和處理的芯片，可對輸入信號進行放大、濾波、采樣、量化等處理，以便后端MCU進行分析。目前，AFE芯片已廣泛應用于電動汽車、儲能、醫療、工業等領域。

以電動汽車為例，AFE芯片是汽車電池電壓、溫度等參數采集的重要基礎，因此，其電壓采集精度的準確性、靜態功耗是芯片設計、電池、主機廠等產業鏈上下游的關注重點。

NGI自主研發的N23010/N23020系列高精度多通道可編程直流電源可廣泛應用于AFE芯片測試。產品具有如下特點：

高精度：電壓精度最高可達0.1mV，可滿足市面主流規格AFE芯片電壓測試需求；

高集成度：3U空間最多可集成24通道，較傳統桌面式電源節省超50%空間，可滿足封測、流片、生產等大規模測試場景需求；

功能豐富：支持nA級電流測量，滿足芯片或拼板漏電流測試需求，為客戶節省額外高精度數字萬用表的采購成本。

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射頻芯片

射頻芯片是一種對信號進行放大、濾波、開關切換等處理的器件，廣泛應用于雷達、通信、醫療、消費類電子等行業。紋波容易導致芯片輸出混有雜散信號，影響信號處理。因此，供電電源輸出紋波和穩定性對射頻芯片性能至關重要。

以國內某TOP3射頻芯片廠家Z為例，前期Z需針對射頻功率芯片進行高溫老化壽命測試（HTOL），單次測試時間高達1000h，樣品須至少231片，前期Z在老化測試過程中，面臨測試過度占用空間、額外增加成本等問題：

占用空間：為滿足多批次測試需求，須使用8臺傳統桌面式程控電源，占用至少12U空間；

額外增加成本：為測試芯片漏電流，須采購高精度數字萬用表，也額外占用測試空間。

經多方技術比對后，Z選擇了N23010高精度多通道可編程直流電源，解決了空間和成本問題。

19英寸3U標準空間集成24通道，僅傳統方案的四分之一；

電源集成μA級漏電流測量功能，可有效降低客戶采購成本；

電壓紋波≤2mVrms，長時間穩定性≤80ppm/1000h，可保證測試供電質量的純凈性和穩定性。

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半導體激光器芯片

半導體激光器已廣泛應用于材料加工、醫療、光通信、傳感、國防等領域，而激光器芯片是激光器的核心部件，目前恒流老化測試已貫穿于研發、生產、品控等全流程環節。以國內某規模TOP2激光二極管芯片生產企業L為例，前期老化測試過程中，面臨如下兩方面問題：

傳統程控電源本身啟動瞬間容易出現電流過沖，開機后需要將電源調整為恒流模式，否則容易燒壞芯片；

電源輸出電流最大5A，僅支持20塊老化板，且產品不支持序列模式，導致老化測試效率偏低。

針對前期客戶需求，NGI提供了更安全可靠、更大輸出電流的N39200高精度雙通道可編程電源。首先，N39200支持CC&CV優先輸出模式，可保證輸出平穩無過沖；同時，電源支持序列模式，支持8A/10A/20A等多種輸出電流，支持更多老化板測試，經驗證，單臺8A電源便可支持30塊老化板，對比前期測試方案，效率提升50%。

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NGI將持續深耕場景需求和行業應用，不斷推出業界領先的產品和測試方案，全方位解決客戶實際應用需求，加速推進標準化體系建設，助力中國半導體行業高質量發展。