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　　1　引言

　　本文設計了一套基于微控制器的OLED光電性能綜合測試系統，系統以微控制器為核心，是一個將精密恒壓(恒流)電源、電壓電流測量、溫度測量、亮度測量有機地結合在一起的測量系統，可實現測試條件設置、數據存儲、分析、圖形化顯示、打印輸出等功能，實現了對OLED器件光電性能的高精度快速自動測量，使OLED器件的光電性能測試工作變得方便、快捷、科學。

　　2　系統總體結構

　　系統總體框圖如圖1所示。系統由上位機和下位機兩部組成。下位機以MSP430F149微控制器為核心，包括可編程直流電源IPD-3303SL、光電轉換電路、溫度測量電路、量程切換電路、顯示電路以及RS232接口電路;上位機為通用的PC機，配以專用數據處理軟件完成系統數據處理和光電性能分析等功能。

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　　系統工作過程如下：可編程直流電源IPD-3303SL按照上位機設置的電壓初始值、電壓終止值、步進值以及采樣周期驅動OLED 器件發光。樣品所發出的光入射到光敏二極管后轉換為電流信號，經過I/V轉換電路，將電流信號轉換為電壓信號，單片機控制量程切換電路來切換I/V轉換電路的反饋電阻，以在輸出端得到不同強度的電壓信號。輸出電壓二次放大后，進入單片機的A/D通道。器件的溫度被紅外熱電堆傳感器采集，輸入到單片機的A/D轉換通道，單片機將亮度和溫度的電壓信號轉換成數字量進行處理后通過LCD顯示出來，并通過RS-232接口將數據傳輸給上位機進行數據分析和處理，繪制出電壓-亮度、電流-溫度、電壓-電流曲線。

　　3　硬件設計

　　3.1　MCU單元

　　美國TI公司生產的MSP430單片機為高整合、高精度的單芯片系統，其利用精簡指令集，是16位高速處理單片機。另外它有豐富的外圍模塊，在應用時減少了外設空間。這里選擇MSP430F149單片機作為MCU，單片機的工作電壓為1.8~3.6V，有兩個16位定時器、兩個串行通信接口、片內看門狗和12位A/D，綜合功能和成本都比較適合本系統。

　　系統利用單片機自帶的ADC12模塊直接實現A/D轉換。MSP430F149自身帶8路轉換接口，通過ADC12模塊控制寄存器實現亮度和溫度兩路模擬信號的A/D轉換。利用單片機內部2.5V的基準源，ADC12的模擬多路器可以分時地將亮度和溫度信號轉換，并且具有采樣和保持功能，ADC12硬件通過設置可自動將轉換結果存放到相應的寄存器中。

　　3.2　電壓電流測量

　　系統選擇可編程直流電源供應器IPD-3303SL 作為測量OLED 電壓-電流特性的儀器。IPD-3303SL為可編程控制電源，工作在恒流或恒壓模式，能實現步進式電壓(電流)輸出，可以通過串口輸入命令控制，同時通過串口獲得輸出電流(電壓)值，另外還具有過流和過壓的保護功能，適合本系統中電流電壓的輸出和測量。

　　IPD-3303SL電壓輸出范圍為0～25V，測量電壓精度為1mV，電流精度為1μA。

　　3.3　亮度測量

　　亮度測量電路由I/V轉換電路和二級放大電路組成。OLED器件發出的光入射到光敏二極管GT101，輸出僅0.002～200μA 的電流信號，I/V轉換電路器件選用具有極低輸入偏置電流的單片電路靜電計型運算放大器OP07.OP07具有低輸入電流和低輸入補償電壓，因此適合作為非常敏感的光敏二極管的前置放大器。如圖2所示，通過調節R12可將運放的失調調零，R2補償集成運放的偏置電流。

　　本設計中亮度測量范圍為1×10-3～200×103　cd/m2，為6個數量級的跳變，單個放大器放大倍數不能滿足要求，因此需要量程切換。

　　I/V轉換電路使用6組不同的反饋電阻連接6路常閉模擬開關MAX312進行量程切換。MAX312僅有10Ω的導通電阻和0.35Ω的導通電阻平坦度。

　　將常閉端連接反饋電阻，公共端連接放大器輸出。

　　當輸入端為高電平時，公共端和常閉端導通，選通與之連接的反饋電阻，反之則斷開。

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　　第一級輸出0～200mV的電壓，A/D轉換采用2.5 V 的基準源。因此，第二級使用運放LF441CN，放大倍數12，將0～200mV電壓放大到0～2.4V.

　　放大后的電壓Vin分別輸入單片機A/D通道和由LM324組成的上下限電壓比較器，根據比較器輸出分析信號幅度是否在規定范圍內。為了使電路工作更穩定，比較電壓值需預留一定的豁量。如圖3所示，調節R10使比較上限電壓為2.3V，調節R17使比較下限電壓為0.1V，當Vin在0.1～2.3V時，量程合適，比較器輸出邏輯電平00，啟動A/D轉換電路。否則，當Vin>2.3V時，通過模擬開關MAX312并配合軟件來切換I/V轉換電路的反饋電阻，向大量程切換;當Vin<0.1V時，向小量程切換，以適應不同強度的光信號。

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　　3.4　溫度測量

　　測量過程中，OLED器件的溫度隨通過器件的電流變化，系統選用紅外熱電堆傳感器A2TPMI334-L5.50AA300非接觸式測溫。A2TPMI是一種內部集成了專用信號處理電路以及環境溫度補償電路的多用途紅外熱電堆傳感器，這種集成紅外傳感器模塊將目標的熱輻射轉換成模擬電壓，輸入到單片機的A/D通道，轉換為相應的數字量。

　　其主要性能為：靈敏度42mV/mW;響應時間35ms;半功率點響應頻率小于4Hz;測量目標溫度的范圍為-20～300℃。其溫度-電壓特性如下：

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　　Tobj=-2.815　56×6+51.719　67×5-386.824　1×4+1　510.241×3-3　267.076×2+3　820.25×-1792.6 (1)式中：Tobj表示目標溫度，x 表示相應目標溫度下的電壓值。

　　4　系統軟件設計

　　4.1　下位機軟件設計

　　系統軟件采用C語言編寫，在IAR公司提供的集成調試環境Workbech下采用模塊化思想進行設計。系統的軟件程序固化在MSP430F149單片機的內部Flash存儲器中。系統的程序流程如圖4所示。整個流程可分為初始化、命令解析、數據測量、數據處理及顯示程序。程序設計借鑒實時操作系統的思想，劃分事件和目標。系統按照工作過程共有命令解析、聯機、校準、測量判斷、數據采集、數據打包發送等幾個事件，通過對事件的處理來完成相應的功能，并進行必要的狀態轉換。當電壓改變后，接收到測量命令，進入測量狀態，將數據發送并顯示，回到空閑狀態繼續等待命令然后進行相應的操作。

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　　4.2　上位機軟件設計

　　上位機軟件使用visual　C++編寫，進行由上到下的模塊式總體設計，通過visual　C++中的串行通信編程控件MSComm，采用事件驅動方法接受數據。圖5所示為系統的總體設計框圖。

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　　上位機軟件管理系統由參數設置、實時監測、信息查詢分析顯示及其他輔助功能組成。

　　系統是集電壓、電流、亮度和溫度的自動采集、預處理、數據存儲為一體的綜合信息平臺。使用RS-232通信實現程控電源、下位機和計算機的通信，實時獲取亮度、溫度、電流數據，把當前電壓下對應的亮度、溫度和電流值存入數據庫中，并繪制出實時曲線。在歷史數據查詢中，可以對不同結構的OLED器件的測量結果進行對比分析。

　　5　結論

　　提出了一種以微控制器為核心的OLED光電性能綜合測試系統的方案，系統可以在一個平臺上同時對發光器件的各種光電特性進行測量，實現了光電特性實驗的計算機化。OLED光電性能綜合測試系統的開發過程和實際應用表明，該系統可以實現快速、準確、可靠的自動化測量，提高了工作效率。