ESD 測試產生失效的現象有兩種：一種是永久性失效，即導致手機損壞;另一種是軟失效，即測試結束后或重新啟動手機后失效的功能可以恢復。

　　ESD 測試過程中手機軟失效的現象有：

　　1) 手機自動關機，重啟后能恢復工作;

　　2) 手機通話中斷;

　　3) 手機自動重啟;

　　4) 手機死機，重啟后可恢復工作;

　　5) 屏幕顯示異常，如屏幕顯示白屏、黑屏、屏幕顯示模糊、屏幕出現亂碼、或屏幕出現條紋等;

　　6) 觸摸屏功能或按鍵功能喪失;

　　7) 軟件出現錯誤提示，如在充電器沒有插拔的情況下屏幕頻繁提示，“充電器已移除，充電器已連接”;

　　8) 測試過程中通話質量降低，聲音消失或斷續(xù)或出現嘯叫聲等。

　　ESD 導致手機損壞的現象有：

　　1) 自動關機后不能再次開機;

　　2) 由于部分器件損壞，手機的某些功能已無法恢復;

　　3) 處于充電狀態(tài)測試時，充電器發(fā)生損壞甚至爆炸等現象。

　　筆者試驗了213 批次手機，其中ESD 試驗不合格的有41 批次，不合格比例為19.2 %。試驗結果表明，ESD 抗擾性是電磁兼容測試主要不合格項目之一。試驗中失效最多的工作狀態(tài)為充電、專用模式，放電模式為空氣放電;失效點多集中在按鍵、接縫和LCD 顯示屏;出現失效現象頻率由高到低依次為：通話中斷;通話中斷，手機轉充電狀態(tài);手機自動重啟;死機，重啟后可恢復工作;試驗過程中充電器壞或爆炸;死機，試驗后不能恢復工作;實驗中白屏、死機、試驗后不能恢復工作等。

　　3 ESD 失效對策

　　手機ESD 試驗不合格，大部分是可恢復的暫時性功能失效，這些失效與手機抗靜電設計密切相關，為了提高手機的抗靜電能力，可以從以下幾個方面進行改進：

　　1) 從結構接地保護方面考慮，最好能實現多點接地，間隙要小。接地點應盡可能地多，縮短接地線長度，結構應盡可能地密封;

　　2) 敏感元件遠離縫隙或固定開孔;

　　3) 選用抗靜電等級較高的器件;

　　4) 加大塑膠墊的面積，加長靜電干擾路徑，削減ESD 對線路的影響;

　　5) 保持地電流遠離敏感電路及有關線路;

　　6) 對于敏感器件，通過使用保護器件(如TVS、ESD 防護器件) 來加強保護;

　　7) 保持敏感器件與靜電源隔離;

　　8) 減少回路面積，電源與地盡可能地近，走線盡可能地短，信號線盡可能地靠近地線。

　　4 結束語

　　本文介紹了手機電磁兼容測試標準及手機ESD 測試要求、方法和手機ESD 抗擾度試驗的主要失效現象、模式的分析，明確了電磁兼容測試中ESD 抗擾性是影響手機合格的一個關鍵指標。希望本文能對關心手機的ESD 抗擾性的生產廠家和設計人員有所幫助，同時也引起那些對ESD 抗擾性不太了解的生產廠家和設計人員的重視。