當基站支持多個無線接入技術時，3GPP第9版標準包含一系列有關MSR的文檔(3GPP TS37第9版)，并對基站一致性測試提出了要求。這些文檔覆蓋了采用3GPP頻分復用(FDD)制式(例如LTE FDD、W-CDMA/HSPA和GSM/EDGE)和3GPP時分復用(TDD)制式(例如LTE TDD和TD-SCDMA)的MSR多載波組合。接收機一致性測試類似于每個單制式的測試，而發射機一致性測試必須在MSR多載波分配情景下執行。

當測試MSR多載波配置時，TS37文檔定義的射頻要求指定了通道功率測量、誤差矢量幅度的調制質量(EVM)、頻率誤差(計算過程與EVM相同)、雜散發射、工作頻段殘余輻射或頻譜輻射模板(SEM)。在測試每個制式的每個載波時，要求對ACLR、占用帶寬(OBW)及各發射機路徑之間時間同步進行測量。盡管在MSR多載波配置時對上述三種測量沒有強制要求，但一些基站制造商仍然希望進行測試。這種測試需要貼近實際應用情景，覆蓋被測基站所支持的全部制式，并可為用戶提供出色的測試效率。

執行頻譜測量

圖1顯示了根據3GPP TS37.141定義的MSR一致性測試來進行測量的載波通道功率的掃描頻譜視圖。在本例中，針對MSR的測量應用軟件可掃描基于頻譜儀的MSR通道功率測量，測量非常簡單。或者，也可手動配置頻譜儀的分辨率帶寬(例如100kHz)進行掃描，帶寬需要足夠窄才可以區分GSM載波，同時可為每個感興趣的載波添加一系列頻帶功率游標。

圖1：使用在X系列信號分析儀上運行的Agilent N9083A MSR測量應用軟件來執行多載波通道功率測量。MSR被測信號是3GPP測試配置4c(TC4c)的一個示例，假設基站發射機的射頻帶寬為25MHz。它包括總計6個GMSK/8PSK的載波(在射頻帶寬的最低和最高頻偏上各有3個載波)、2個W-CDMA載波和1個LTE FDD 10MHz載波。數字調制質量的測量

對于發射機一致性測試，使用被測器件的任意重復碼型波形(例如各種測試模式)來進行測量。3GPP TS37.141 MSR基站一致性測試標準定義了幾個用于測試配置的MSR多載波分配碼型。因此，即便是不使用寬帶前端硬件來同時捕獲所有可用的MSR多載波，發射機一致性測試也可借助傳統的信號采集方法來完成。

本質上講，測試工程師捕獲每個單載波并逐個進行調制質量測量，隨后使用恰當的窄采集輸入帶寬前端來捕獲每個單載波。第二步，工程師將頻率轉換為第二個載波，捕獲并測量EVM，以此類推。這種方法不需要通過昂貴的寬帶前端硬件一次性覆蓋所有的載波，也不需要在捕獲寬帶信號之后使用大型波形采樣計算EVM，因而被工程師視為簡單易用、經濟高效的方法。目前最寬的蜂窩載波帶寬是LTE的20MHz帶寬。但LTE-Advanced又會如何呢?根據LTE第10版規定，LTE-Advanced將支持高達100MHz的系統帶寬。由于LTE-Advanced支持載波聚合，每個元器件載波都具有高達20MHz的帶寬。用戶需要花費額外的時間和精力逐個轉換每個載波測量，但所花費的時間和精力將完全取決于測試儀/分析儀設備或外部控制程序中的連續捕獲和解調計算過程/算法。如果選擇“快速本振和載波間模式轉換”，那么它在測試速率方面的劣勢會很不明顯。

使用寬帶寬分析儀硬件對全部感興趣的有效載波進行同時捕獲的成本要高于窄帶寬硬件，但它對MSR無線器件中的瞬時事件進行驗證和故障診斷(例如功能設計驗證和實際系統操作測試)非常有效(圖2)。從已采集的寬帶波形中取出每個載波，分別對其進行EVM測量。捕獲采樣結果包括所有的同時存在的有效載波。

圖2：該圖比較了使用窄帶寬硬件對每個載波進行連續采集(左側)和使用寬帶寬硬件對全部載波進行同時采集(右側)，以用于調制分析。

無論采用寬帶寬還是窄帶寬硬件分析儀方法，都要求使用恰當的接收機濾波器對每個感興趣的載波進行過濾。濾波器能夠抑制相鄰載波功率干擾，從而使分析儀在多載波條件下對每個載波都能達到很好的同步和調制穩定性。以W-CDMA(或TD-SCDMA)載波為例，標準規范明確定義了接收機濾波器形狀，濾波器為3.84MHz(TD-SCDMA為1.28MHz)、滾降因子為0.22的根升余弦濾波器。對于GMSK和LTE等制式，不存在如此明確的規范。相反，可能需要為滾降因子變化幅度較大的分析儀添加一個相鄰載波抑制濾波器(即便會影響調制質量)。
在對MSR多載波基站發射機器件進行頻譜和功率測量時，頻譜掃描的方法仍然適用。它同樣可用于每個載波發射機器件的測量。在分析MSR多載波配置下每個載波的調制質量時，可采用兩種方法。第一種方法，使用窄帶寬硬件前端連續采集每個載波。該方法假設MSR被測信號是一個任意重復測試模式信號，具有簡單和低成本的優點。第二種方法，使用寬帶寬硬件前端同時采集所有的載波。該方法能夠真正同時捕獲所有的載波，以便對瞬時事件進行故障診斷，缺點在于成本高昂。每種方法的總測試效率取決于測試序列算法的設計或編程方式。