FQB22P10 P-Channel QFET? MOSFET:性能與應(yīng)用解析
一、引言
在電子工程師的日常設(shè)計(jì)工作中,MOSFET是一種常見且關(guān)鍵的電子元件。今天我們要深入探討的是Fairchild Semiconductor(現(xiàn)屬于ON Semiconductor)的FQB22P10 P-Channel QFET? MOSFET。這款MOSFET在眾多電子應(yīng)用中有著廣泛的應(yīng)用,下面我們將詳細(xì)了解它的各項(xiàng)特性。
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二、產(chǎn)品概述
FQB22P10是一款P-Channel增強(qiáng)模式功率MOSFET,采用了Fairchild Semiconductor的專有平面條紋和DMOS技術(shù)。這種先進(jìn)的MOSFET技術(shù)經(jīng)過特別設(shè)計(jì),旨在降低導(dǎo)通電阻,提供卓越的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度。它適用于開關(guān)模式電源、音頻放大器、直流電機(jī)控制和可變開關(guān)電源等應(yīng)用。
三、關(guān)鍵參數(shù)與特性
3.1 基本參數(shù)
- 電壓與電流:其額定電壓為 -100 V,連續(xù)漏極電流在 (T{C}=25^{circ} C) 時為 -22 A,在 (T{C}=100^{circ} C) 時為 -15.6 A,脈沖漏極電流可達(dá) -88 A。
- 導(dǎo)通電阻:在 (V{GS}=-10 ~V)、(I{D}=-11 ~A) 時,(R_{DS(on)}) 最大為 125 mΩ。
- 溫度范圍:工作和存儲溫度范圍為 -55 至 +175 °C,最大結(jié)溫額定值為 175°C。
3.2 特性優(yōu)勢
- 低柵極電荷:典型值為 40 nC,這有助于減少開關(guān)損耗,提高開關(guān)速度。
- 低Crss:典型值為 160 pF,能降低米勒效應(yīng),改善開關(guān)性能。
- 100%雪崩測試:保證了器件在雪崩情況下的可靠性。
四、電氣特性分析
4.1 關(guān)斷特性
- 擊穿電壓:(BV{DSS}) 在 (V{GS} = 0 V)、(I_{D} = -250 μA) 時為 -100 V,其擊穿電壓溫度系數(shù)為 -0.1 V/°C。
- 漏極電流:零柵極電壓漏極電流 (I{DSS}) 在 (V{DS} = -100 V)、(V{GS} = 0 V) 時為 -1 μA,在 (V{DS} = -80 V)、(T_{C} = 125°C) 時為 -10 μA。
- 柵極泄漏電流:正向柵極 - 體泄漏電流 (I{GSSF}) 在 (V{GS} = -30 V)、(V{DS} = 0 V) 時為 -100 nA,反向柵極 - 體泄漏電流 (I{GSSR}) 在 (V{GS} = 30 V)、(V{DS} = 0 V) 時為 100 nA。
4.2 導(dǎo)通特性
- 柵極閾值電壓:(V{GS(th)}) 在 (V{DS} = V{GS})、(I{D} = -250 μA) 時,范圍為 -2.0 至 -4.0 V。
- 靜態(tài)漏 - 源導(dǎo)通電阻:(R{DS(on)}) 在 (V{GS} = -10 V)、(I_{D} = -11 A) 時,范圍為 0.096 至 0.125 Ω。
- 正向跨導(dǎo):(g{FS}) 在 (V{DS} = -40 V)、(I_{D} = -11 A) 時為 13.5 S。
4.3 動態(tài)特性
- 輸入電容:(C{iss}) 在 (V{DS} = -25 V)、(V_{GS} = 0 V)、(f = 1.0 MHz) 時,范圍為 1170 至 1500 pF。
- 輸出電容:(C_{oss}) 范圍為 460 至 600 pF。
- 反向傳輸電容:(Crss) 范圍為 160 至 200 pF。
4.4 開關(guān)特性
- 導(dǎo)通延遲時間:(t{d(on)}) 在 (V{DD} = -50 V)、(I{D} = -22 A)、(R{G} = 25 Ω) 時,范圍為 17 至 45 ns。
- 導(dǎo)通上升時間:(t_{r}) 范圍為 170 至 350 ns。
- 關(guān)斷延遲時間:(t_{d(off)}) 范圍為 60 至 130 ns。
- 關(guān)斷下降時間:(t_{f}) 范圍為 110 至 230 ns。
- 總柵極電荷:(Q{g}) 在 (V{DS} = -80 V)、(I{D} = -22 A)、(V{GS} = -10 V) 時,范圍為 40 至 50 nC。
4.5 漏 - 源二極管特性
- 最大連續(xù)正向電流:(I{S}) 為 -22 A,最大脈沖正向電流 (I{SM}) 為 -88 A。
- 正向電壓:(V{SD}) 在 (V{GS} = 0 V)、(I_{S} = -22 A) 時為 -4.0 V。
- 反向恢復(fù)時間:(t{rr}) 在 (V{GS} = 0 V)、(I{S} = -22 A)、(dI{F} / dt = 100 A/μs) 時為 110 ns。
- 反向恢復(fù)電荷:(Q_{rr}) 為 0.6 μC。
五、熱特性
- 結(jié)到外殼熱阻:(R_{theta JC}) 最大為 1.2 °C/W。
- 結(jié)到環(huán)境熱阻:在最小 2 oz 銅焊盤時,(R{theta JA}) 最大為 62.5;在 1 in2 的 2 oz 銅焊盤時,(R{theta JA}) 最大為 40。
六、典型特性曲線
文檔中給出了多個典型特性曲線,如導(dǎo)通區(qū)域特性、傳輸特性、導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵極電壓的變化、體二極管正向電壓隨源極電流和溫度的變化、電容特性、柵極電荷特性、擊穿電壓隨溫度的變化、導(dǎo)通電阻隨溫度的變化、最大安全工作區(qū)、最大漏極電流與外殼溫度的關(guān)系以及瞬態(tài)熱響應(yīng)曲線等。這些曲線有助于工程師更直觀地了解器件在不同條件下的性能表現(xiàn)。
七、封裝與訂購信息
FQB22P10采用D2 - PAK封裝,器件標(biāo)記為FQB22P10,卷盤尺寸為330mm,膠帶寬度為24mm,每卷數(shù)量為800。
八、注意事項(xiàng)
8.1 系統(tǒng)集成
由于Fairchild Semiconductor與ON Semiconductor的整合,部分Fairchild可訂購的零件編號需要更改,以滿足ON Semiconductor的系統(tǒng)要求。Fairchild零件編號中的下劃線 (_) 將更改為破折號 (-),使用時需在ON Semiconductor網(wǎng)站上核實(shí)更新后的器件編號。
8.2 應(yīng)用限制
ON Semiconductor產(chǎn)品不設(shè)計(jì)、不打算也未獲授權(quán)用于生命支持系統(tǒng)、FDA Class 3醫(yī)療設(shè)備或具有相同或類似分類的外國醫(yī)療設(shè)備,以及任何用于人體植入的設(shè)備。如果購買或使用這些產(chǎn)品用于未預(yù)期或未授權(quán)的應(yīng)用,買方需承擔(dān)相關(guān)責(zé)任。
九、總結(jié)
FQB22P10 P-Channel QFET? MOSFET憑借其低導(dǎo)通電阻、良好的開關(guān)性能和高雪崩能量強(qiáng)度等特性,在眾多電子應(yīng)用中具有很大的優(yōu)勢。電子工程師在設(shè)計(jì)開關(guān)模式電源、音頻放大器等電路時,可以充分考慮這款MOSFET的性能特點(diǎn),合理選型和應(yīng)用。同時,在使用過程中要注意系統(tǒng)集成和應(yīng)用限制等問題,以確保設(shè)計(jì)的可靠性和安全性。大家在實(shí)際應(yīng)用中是否遇到過類似MOSFET的選型和使用問題呢?歡迎在評論區(qū)分享交流。
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電子應(yīng)用
+關(guān)注
關(guān)注
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