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Onsemi NTMFS6H801N MOSFET:高性能單通道N溝道功率器件解析

lhl545545 ? 2026-04-10 17:15 ? 次閱讀
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Onsemi NTMFS6H801N MOSFET:高性能單通道N溝道功率器件解析

電子工程師的設計工作中,MOSFET(金屬 - 氧化物 - 半導體場效應晶體管)是一種極為常見且關鍵的功率器件。今天我們就來詳細探討一下Onsemi公司的NTMFS6H801N MOSFET,它是一款單通道N溝道功率MOSFET,具備諸多出色的特性,適用于多種應用場景。

文件下載:NTMFS6H801N-D.PDF

產品特性

緊湊設計

NTMFS6H801N采用了5x6 mm的小尺寸封裝,這對于追求緊湊設計的電子產品來說非常友好。在如今電子產品不斷向小型化、集成化發展的趨勢下,這種小尺寸封裝能夠有效節省電路板空間,為設計帶來更大的靈活性。

低損耗特性

  • 低導通電阻:其低 $R_{DS(on)}$ 特性能夠最大程度地減少導通損耗,提高功率轉換效率。這意味著在電路中使用該MOSFET時,能夠降低能量損耗,減少發熱,提高整個系統的穩定性和可靠性。
  • 低柵極電荷和電容:低 $Q_{G}$ 和電容特性可以最大程度地減少驅動損耗,降低對驅動電路的要求,同時提高開關速度,使電路能夠更高效地工作。

環保合規

該器件為無鉛產品,并且符合RoHS(有害物質限制)標準,滿足環保要求,符合現代電子產品對環保的趨勢。

主要參數

最大額定值

參數 數值
漏源擊穿電壓 $V_{DSS}$ 80 V
連續漏極電流($T_{C}=100^{circ}C$) 111 A
連續漏極電流($T_{A}=25^{circ}C$) 16 A
源極電流(體二極管 138 A

需要注意的是,應力超過最大額定值表中列出的數值可能會損壞器件。如果超過這些限制,不能保證器件的功能正常,可能會導致器件損壞并影響可靠性。

熱阻參數

參數 數值
$R_{θJC}$ 0.9 $^{circ}C$/W
$R_{θJA}$ 39 $^{circ}C$/W

整個應用環境會影響所示的熱阻值,它們不是常數,僅在特定條件下有效。該器件采用表面貼裝在FR4板上,使用 $650 mm^{2}$、2 oz. 的銅焊盤。

電氣特性

關斷特性

  • 漏源擊穿電壓 $V_{(BR)DSS}$:在 $V{GS}=0 V$,$I{D}=250 mu A$ 時,為80 V。
  • 零柵壓漏極電流 $I_{DSS}$:在 $V{GS}=0 V$,$V{DS}=80 V$ 時,有相應的數值。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數:$V{(BR)DSS}/Delta T{J}$ 為 $mV/^{circ}C$。
  • 柵源泄漏電流 $I_{GSS}$:在 $V{DS}=0 V$,$V{GS}=20 V$ 時,為100 nA。

導通特性

  • 閾值電壓 $V_{GS(TH)}$:典型值為4.0 V。
  • 正向跨導:在 $V{DS}=15 V$,$I{D}=50 A$ 時,有相應的數值。

電荷、電容和柵極電阻

  • 輸入電容 $C_{ISS}$:4120 pF。
  • 輸出電容 $C_{OSS}$:586 pF。
  • 反向傳輸電容 $C_{RSS}$:22 pF。
  • 輸出電荷 $Q_{OSS}$:87 nC。
  • 總柵極電荷 $Q_{G(TOT)}$:64 nC。
  • 閾值柵極電荷 $Q_{G(TH)}$:11 nC。
  • 柵源電荷 $Q_{GS}$:19 nC。
  • 柵漏電荷 $Q_{GD}$:13 nC。
  • 平臺電壓 $V_{GP}$:5.0 V。

開關特性

  • 導通延遲時間 $t_{d(ON)}$:25 ns。
  • 上升時間 $t_{r}$:74 ns。
  • 關斷延遲時間 $t_{d(OFF)}$:70 ns。
  • 下降時間 $t_{f}$:19 ns。

漏源二極管特性

  • 正向二極管電壓 $V_{SD}$:在 $T{J}=25^{circ}C$,$V{GS}=0 V$,$I{S}=50 A$ 時,為0.8 - 1.2 V;在 $T{J}=125^{circ}C$ 時,為0.7 V。
  • 反向恢復時間 $t_{RR}$:64 ns。
  • 充電時間 $t_{a}$:36 ns。
  • 放電時間 $t_{b}$:28 ns。
  • 反向恢復電荷 $Q_{RR}$:98 nC。

典型特性曲線

文檔中給出了多個典型特性曲線,這些曲線能夠幫助工程師更好地了解該MOSFET在不同條件下的性能表現。

  • 導通區域特性曲線:展示了不同 $V{GS}$ 下,漏極電流 $I{D}$ 與漏源電壓 $V_{DS}$ 的關系。
  • 傳輸特性曲線:體現了不同結溫 $T{J}$ 下,漏極電流 $I{D}$ 與柵源電壓 $V_{GS}$ 的關系。
  • 導通電阻與柵源電壓關系曲線:可以看到導通電阻 $R{DS(on)}$ 隨柵源電壓 $V{GS}$ 的變化情況。
  • 導通電阻與漏極電流和柵壓關系曲線:反映了導通電阻 $R{DS(on)}$ 與漏極電流 $I{D}$ 和柵壓的關系。
  • 導通電阻隨溫度變化曲線:顯示了導通電阻 $R{DS(on)}$ 隨結溫 $T{J}$ 的變化趨勢。
  • 漏源泄漏電流與電壓關系曲線:展示了漏源泄漏電流 $I{DSS}$ 與漏源電壓 $V{DS}$ 的關系。
  • 電容變化曲線:體現了輸入電容 $C{ISS}$、輸出電容 $C{OSS}$ 和反向傳輸電容 $C{RSS}$ 隨漏源電壓 $V{DS}$ 的變化情況。
  • 柵源與總電荷關系曲線:給出了柵源電荷 $Q{GS}$ 和柵漏電荷 $Q{GD}$ 與總柵極電荷 $Q_{G}$ 的關系。
  • 電阻性開關時間隨柵極電阻變化曲線:顯示了開關時間隨柵極電阻 $R_{G}$ 的變化情況。
  • 二極管正向電壓與電流關系曲線:展示了二極管正向電壓 $V{SD}$ 與源極電流 $I{S}$ 的關系。
  • 最大額定正向偏置安全工作區曲線:幫助工程師確定器件在不同條件下的安全工作范圍。
  • 雪崩電流與時間關系曲線:體現了雪崩電流 $I_{PEAK}$ 與雪崩時間的關系。
  • 熱響應曲線:包括瞬態熱阻抗 $R{θJA}(t)$ 和 $R{θJC}(t)$ 隨矩形脈沖持續時間 $t$ 的變化情況。

封裝與訂購信息

封裝

該器件采用DFN5(SO - 8FL)封裝,文檔中給出了詳細的機械尺寸圖和封裝尺寸參數,方便工程師進行電路板設計。

訂購信息

具體的器件型號為NTMFS6H801NT1G,標記為6H801N,采用DFN5(無鉛)封裝,以1500個/卷帶和卷軸的方式發貨。

總結

Onsemi的NTMFS6H801N MOSFET憑借其緊湊的設計、低損耗特性和出色的電氣性能,在功率電子領域具有廣泛的應用前景。工程師在設計電路時,可以根據其參數和典型特性曲線,合理選擇和使用該器件,以滿足不同應用場景的需求。同時,在使用過程中,一定要注意不要超過其最大額定值,以確保器件的正常工作和可靠性。大家在實際應用中是否遇到過類似MOSFET的選型和使用問題呢?歡迎在評論區分享交流。

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