深入解析onsemi NTTFD018N08LC雙N溝道MOSFET
在電子設計領域,MOSFET作為關鍵的功率開關器件,其性能直接影響著電路的效率和穩定性。今天我們就來詳細探討一下onsemi推出的NTTFD018N08LC雙N溝道MOSFET。
文件下載:NTTFD018N08LC-D.PDF
一、產品概述
NTTFD018N08LC是一款集成了兩個專門的N溝道MOSFET的雙封裝器件。其內部連接了開關節點,這一設計極大地方便了同步降壓轉換器的布局和布線。控制MOSFET(Q2)和同步MOSFET(Q1)經過精心設計,能夠提供最佳的功率效率。
二、產品特性
低導通電阻
Q1和Q2在不同的柵源電壓和漏極電流條件下,都具有較低的導通電阻。例如,在$V{GS}=10V$,$I{D}=7.8A$時,最大$r{DS(on)}$為18mΩ;在$V{GS}=4.5V$,$I{D}=6.2A$時,最大$r{DS(on)}$為29mΩ。低導通電阻有助于降低導通損耗,提高功率轉換效率。
低電感封裝
該產品采用低電感封裝,能夠有效縮短上升/下降時間,從而降低開關損耗。這對于高頻開關應用來說尤為重要,可以減少能量損耗,提高系統的整體效率。
RoHS合規
符合RoHS標準,意味著該產品在環保方面符合相關要求,減少了對環境的影響,同時也滿足了一些對環保有嚴格要求的應用場景。
三、典型應用
48V輸入初級半橋
在48V輸入的初級半橋電路中,NTTFD018N08LC能夠發揮其低導通電阻和低開關損耗的優勢,提高電路的效率和穩定性。
通信領域
在通信設備中,對電源的效率和穩定性要求較高。該MOSFET可以用于通信設備的電源模塊,為設備提供穩定可靠的電源供應。
通用負載點應用
適用于各種通用負載點應用,為不同的負載提供合適的功率支持。
四、電氣參數
最大額定值
| 參數 | Q1 | Q2 | 單位 | |
|---|---|---|---|---|
| $V_{DS}$(漏源電壓) | 80 | 80 | V | |
| $V_{GS}$(柵源電壓) | ±20 | ±20 | V | |
| $I_{D}$(漏極電流) | 連續($T_{C}=25^{circ}C$) | 26 | 26 | A |
| 連續($T_{C}=100^{circ}C$) | 16 | 16 | A | |
| 連續($T_{A}=25^{circ}C$) | 6(注1a) | 6(注1b) | A | |
| 脈沖($T_{A}=25^{circ}C$) | 349 | 349 | A | |
| $E_{AS}$(單脈沖雪崩能量) | 32 | 32 | mJ | |
| $P_{D}$(功率耗散) | 單操作($T_{C}=25^{circ}C$) | 26 | 26 | W |
| 單操作($T_{A}=25^{circ}C$) | 1.7(注1a) | 1.7(注1b) | W | |
| $I_{S}$(源極電流) | 21 | 21 | A | |
| $T{J}$,$T{STG}$(工作和存儲結溫范圍) | -55至+150 | °C | ||
| $T_{L}$(焊接時引腳溫度) | 260 | 260 | °C |
電氣特性
關斷特性
- $B{V{DSS}}$:在$I{D}=250mu A$,$V{GS}=0V$時,Q1的$B{V{DSS}}$為80V。
- 零柵壓漏極電流:在$V{DS}=64V$,$V{GS}=0V$時,最大值為1μA。
- $I_{GSS}$:最大值為±100μA。
導通特性
- $V{GS(th)}$(柵源閾值電壓):在$V{GS}=V{DS}$,$I{D}=44A$時,Q1和Q2的典型值為1.5V,最小值為1.0V,最大值為2.5V。
- $r{DS(on)}$(漏源導通電阻):在$V{GS}=10V$,$I{D}=7.8A$時,典型值為15mΩ,最大值為18mΩ;在$V{GS}=4.5V$,$I_{D}=6.2A$時,典型值為22mΩ,最大值為29mΩ。
動態特性
- 輸入電容$C{ISS}$:Q1和Q2在$V{DS}=40V$,$V_{GS}=0V$,$f = 1MHz$時,典型值為856pF。
- 輸出電容$C_{OSS}$:Q1和Q2在上述條件下,典型值為230pF。
- 反向傳輸電容$C_{RSS}$:Q1和Q2的典型值為10pF。
- 柵極電阻$R{G}$:Q1和Q2在$T{A}=25^{circ}C$時,典型值為0.5Ω。
開關特性
- 開啟延遲時間$t{d(ON)}$:在$V{DD}=40V$,$V{GS}=4.5V$,$I{D}=6.2A$,$R_{GEN}=6Ω$時,Q1和Q2的典型值為9.4ns。
- 上升時間$t_{r}$:典型值為5.8ns。
- 關斷延遲時間$t_{D(OFF)}$:典型值為14.6ns。
- 下降時間$t_{f}$:典型值為5.5ns。
- 總柵極電荷$Q{g}$:在$V{GS}=0V$到10V時,Q1和Q2的典型值為12.4nC;在$V_{GS}=0V$到4.5V時,典型值為6.0nC。
漏源二極管特性
- 源漏二極管正向電壓$V{SD}$:在$V{GS}=0V$,$I_{S}=7.8A$時,典型值為0.82V,最大值為1.5V。
- 反向恢復時間$t{rr}$:在$I{F}=7.8A$,$di/dt = 300A/s$時,典型值為13.3ns;在$I_{F}=7.8A$,$di/dt = 1000A/s$時,典型值為10.3ns。
- 反向恢復電荷$Q_{rr}$:在上述條件下,分別為18.1nC和51nC。
五、熱特性
| 參數 | Q1 | Q2 | 單位 |
|---|---|---|---|
| $R_{JC}$(結到殼熱阻) | 4.8 | 4.8 | °C/W |
| $R_{JA}$(結到環境熱阻) | 70(注1a) | 70(注1b) | °C/W |
| 135(注1c) | 135(注1c) | °C/W |
熱特性對于MOSFET的性能和可靠性至關重要。合適的熱阻能夠確保MOSFET在工作過程中產生的熱量及時散發出去,避免因過熱而損壞。
六、封裝與標識
封裝
采用Power Clip 33對稱(WQFN12)封裝,這種封裝具有良好的電氣和熱性能,適合高密度集成應用。
標識
標識為D018 AYWWZZ,其中D018為特定器件代碼,A為組裝工廠代碼,Y為數字年份代碼,WW為工作周代碼,ZZ為組裝批次代碼。
七、總結
onsemi的NTTFD018N08LC雙N溝道MOSFET具有低導通電阻、低電感封裝、RoHS合規等優點,適用于多種應用場景。在設計電路時,電子工程師需要根據具體的應用需求,合理選擇MOSFET的參數,并注意其熱特性和最大額定值,以確保電路的穩定性和可靠性。大家在實際應用中,是否遇到過MOSFET的散熱問題呢?又是如何解決的呢?歡迎在評論區分享你的經驗。
-
電子設計
+關注
關注
42文章
2526瀏覽量
49906
發布評論請先 登錄
深入解析onsemi NTTFD018N08LC雙N溝道MOSFET
評論