安森美半導體 NVTFS6H850N MOSFET 深度解析
引言
在電子設計的領域中,MOSFET作為關鍵元件,其性能直接影響到電路的效率、穩定性和整體性能。今天要為大家詳細介紹安森美半導體的一款N溝道功率單MOSFET——NVTFS6H850N。這款產品具備眾多出色的特性,適用于各類對空間和性能有較高要求的應用場景。
文件下載:NVTFS6H850N-D.PDF
產品特性亮點
小尺寸設計
NVTFS6H850N采用了3.3 x 3.3 mm的小封裝尺寸,這對于追求緊湊設計的電子產品來說至關重要。在如今小型化、集成化的趨勢下,能夠在有限的空間內實現更多功能,小尺寸的MOSFET無疑是理想之選。它可以幫助工程師在設計時節省電路板空間,為其他元件的布局提供更多可能性。
低導通電阻
該MOSFET具有低 (R_{DS (on) }) 的特點,能夠有效降低傳導損耗。在功率電路中,傳導損耗是影響效率的重要因素之一。低導通電阻意味著在電流通過時產生的熱量更少,不僅可以提高電路效率,還能減少散熱設計的壓力,延長產品的使用壽命。
低電容
低電容特性使得NVTFS6H850N能夠最大程度地減少驅動損耗。在高頻開關應用中,電容的存在會導致開關過程中的能量損耗增加。低電容值可以降低開關損耗,提高開關速度,從而提升整個系統的性能。
可焊側翼版本及汽車級認證
NVTFS6H850NWF版本帶有可焊側翼,方便進行視覺檢測和焊接質量控制。此外,該產品通過了AEC - Q101認證并且具備PPAP能力,這表明它符合汽車級應用的嚴格要求,可用于汽車電子等對可靠性要求極高的領域。同時,產品為無鉛設計,符合RoHS標準,滿足環保要求。
重要參數解讀
最大額定值
| 參數 | 符號 | 數值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 漏源電壓 | (V_{DSS}) | 80 | V |
| 柵源電壓 | (V_{GS}) | ±20 | V |
| 穩態連續漏極電流((T_{C}=25^{circ}C)) | (I_{D}) | 68 | A |
| 穩態連續漏極電流((T_{C}=100^{circ}C)) | (I_{D}) | 48 | A |
| 功率耗散((T_{C}=25^{circ}C)) | (P_{D}) | 107 | W |
| 功率耗散((T_{C}=100^{circ}C)) | (P_{D}) | 53 | W |
| 脈沖漏極電流((T{A}=25^{circ}C),(t{p}=10s)) | (I_{DM}) | 300 | A |
| 工作結溫和存儲溫度 | (T{J}),(T{stg}) | - 55 至 +175 | (^{circ}C) |
| 源極電流(體二極管) | (I_{S}) | 89 | A |
| 單脈沖漏源雪崩能量((I_{L(pk)} = 3.4A)) | (E_{AS}) | 271 | mJ |
| 焊接用引腳溫度(距外殼1/8″,10s) | (T_{L}) | 260 | (^{circ}C) |
從這些參數中我們可以看出,NVTFS6H850N在高電壓和大電流的應用場景下具有較好的性能表現。不過需要注意的是,實際應用中如果超過這些最大額定值,可能會對器件造成損壞,影響其功能和可靠性。
熱阻參數
| 參數 | 符號 | 數值 | 單位 |
|---|---|---|---|
| 結到殼熱阻(穩態) | (R_{JC}) | 1.4 | (^{circ}C)/W |
| 結到環境熱阻(穩態) | (R_{JA}) | 47 | (^{circ}C)/W |
熱阻參數對于評估MOSFET的散熱性能至關重要。在設計散熱系統時,需要根據這些參數合理選擇散熱片或其他散熱措施,確保器件在工作過程中的溫度處于安全范圍內。
電氣特性一覽
關斷特性
- 漏源擊穿電壓:當 (V{GS}=0V),(I{D}=250A) 時,(V_{(BR)DSS}) 為 80V,這表示在柵極電壓為0時,漏源之間能夠承受的最大電壓。
- 零柵壓漏極電流:在不同的溫度條件下,(I{DSS}) 的值不同。(T{J}=25^{circ}C) 時為 (10A),(T_{J}=125^{circ}C) 時為 (250A),溫度升高會導致漏極電流增大。
- 柵源泄漏電流:當 (V{DS}=0V),(V{GS}=20V) 時,(I_{GSS}) 為 100nA,較小的泄漏電流說明柵極的絕緣性能較好。
導通特性
- 柵極閾值電壓:當 (V{GS}=V{DS}),(I{D}=70A) 時,(V{GS(TH)}) 在 2.0 - 4.0V 之間,這是MOSFET開始導通的柵極電壓范圍。
- 漏源導通電阻:在 (V{GS}=10V),(I{D}=10A) 的條件下,(R_{DS(on)}) 為 8.5 - 9.5mΩ,低導通電阻有助于降低傳導損耗。
- 正向跨導:當 (V{DS}=15V),(I{D}=10A) 時,(g_{FS}) 為 63S,反映了柵極電壓對漏極電流的控制能力。
電荷和電容特性
- 輸入電容:在 (V{GS}=0V),(f = 1.0MHz),(V{DS}=40V) 的條件下,(C_{iss}) 為 1140pF。
- 輸出電容:(C_{oss}) 為 175pF。
- 反向傳輸電容:(C_{rss}) 為 10pF。
電容值的大小會影響MOSFET的開關速度和驅動損耗。較小的電容值可以提高開關速度,降低驅動損耗。
開關特性
- 導通延遲時間:當 (V{GS}=6.0V),(V{DS}=64V),(I{D}=10A) 時,(t{d(on)}) 為 11ns。
- 上升時間:(t_{r}) 為 32ns。
- 關斷延遲時間:(t_{d(off)}) 為 34ns。
- 下降時間:(t_{f}) 為 8.0ns。
這些開關時間參數決定了MOSFET在開關過程中的響應速度,對于高頻開關應用非常關鍵。
漏源二極管特性
- 正向二極管電壓:在不同溫度條件下,(V{SD}) 的值不同。(T{J}=25^{circ}C) 時為 0.8 - 1.2V,(T_{J}=125^{circ}C) 時為 0.7V。
- 反向恢復時間:當 (V{GS}=0V),(dI{S}/dt = 100A/s),(I{S}=10A) 時,(t{RR}) 為 40ns。
典型特性曲線分析
文檔中給出了多個典型特性曲線,包括導通區域特性、傳輸特性、導通電阻與柵源電壓的關系、導通電阻與漏極電流和柵極電壓的關系、導通電阻隨溫度的變化、漏源泄漏電流與電壓的關系、電容變化、柵源與總電荷的關系、電阻性開關時間隨柵極電阻的變化、二極管正向電壓與電流的關系、最大額定正向偏置安全工作區、最大漏極電流與雪崩時間的關系以及熱響應等。
通過這些曲線,工程師可以更直觀地了解NVTFS6H850N在不同工作條件下的性能表現。例如,從導通電阻與溫度的關系曲線中可以看出,隨著溫度的升高,導通電阻會逐漸增大。在設計電路時,需要根據實際工作溫度范圍來評估導通損耗的變化,從而采取相應的措施來保證電路的性能。
封裝及訂購信息
封裝尺寸
NVTFS6H850N有兩種封裝形式:WDFN8 3.3x3.3, 0.65P(CASE 511AB)和WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P(Full - Cut 8FL WF)(CASE 515AN)。文檔中詳細給出了這兩種封裝的機械尺寸圖和具體尺寸參數,包括長度、寬度、高度等,并且對尺寸的公差和標注進行了說明。在進行電路板設計時,需要根據這些尺寸信息來合理布局MOSFET,確保其與其他元件之間的間距和連接符合要求。
訂購信息
| 器件標記 | 封裝 | 包裝方式 |
|---|---|---|
| NVTFS6H850NTAG | WDFN8 3.3x3.3, 0.65P (Pb - Free) | 1500 / 卷帶包裝 |
| NVTFS6H850NWFTAG | WDFNW8 3.3x3.3, 0.65P (Full - Cut 8FL WF) (Pb - Free, Wettable Flanks) | 1500 / 卷帶包裝 |
工程師在訂購時需要根據實際需求選擇合適的封裝形式和器件標記。同時,對于卷帶包裝的相關規格,如零件方向和卷帶尺寸等,可以參考安森美的Tape and Reel Packaging Specifications Brochure(BRD8011/D)。
總結與思考
安森美半導體的NVTFS6H850N MOSFET憑借其小尺寸、低導通電阻、低電容等優點,在緊湊設計和高性能要求的應用中具有很大的優勢。無論是在汽車電子、工業控制還是其他電力電子領域,都可以發揮重要作用。
在實際應用中,工程師需要綜合考慮其各項參數和特性,根據具體的電路要求來選擇合適的工作條件。例如,在高溫環境下使用時,要注意導通電阻的增加對傳導損耗的影響,合理設計散熱系統;在高頻開關應用中,要關注開關時間和電容參數,優化驅動電路以提高開關效率。
你在使用過類似MOSFET的過程中,有沒有遇到過一些特殊的問題或者有哪些經驗可以分享呢?歡迎在評論區留言討論。
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