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Onsemi NTMT061N60S5F MOSFET:高性能單通道N溝道器件深度解析

lhl545545 ? 2026-03-30 17:15 ? 次閱讀
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Onsemi NTMT061N60S5F MOSFET:高性能單通道N溝道器件深度解析

在電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域,MOSFET作為一種關(guān)鍵的功率器件,其性能的優(yōu)劣直接影響到整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和效率。今天,我們就來深入探討Onsemi推出的NTMT061N60S5F單通道N溝道MOSFET,看看它在實(shí)際應(yīng)用中能為我們帶來哪些驚喜。

文件下載:NTMT061N60S5F-D.PDF

產(chǎn)品概述

NTMT061N60S5F屬于SUPERFET V MOSFET FRFET系列,該系列針對(duì)體二極管的反向恢復(fù)性能進(jìn)行了優(yōu)化。這一特性使得它在軟開關(guān)應(yīng)用中表現(xiàn)出色,例如PSFB(移相全橋)和LLC(諧振半橋)電路,能夠去除額外的組件,提高系統(tǒng)的可靠性。其采用的Power88封裝是一種超薄的SMD封裝,通過提供開爾文源配置和較低的寄生源電感,實(shí)現(xiàn)了卓越的開關(guān)性能。

產(chǎn)品特性

電氣性能優(yōu)越

  • 耐壓能力:在TJ = 150°C時(shí),可承受650V的電壓,典型的導(dǎo)通電阻RDS(on)為48.8mΩ。
  • 雪崩測(cè)試:經(jīng)過100%雪崩測(cè)試,確保了在高能量沖擊下的穩(wěn)定性。
  • 封裝優(yōu)勢(shì):開爾文源配置和低寄生源電感,有效降低了開關(guān)損耗。

環(huán)保合規(guī)

該產(chǎn)品符合Pb - Free(無鉛)、Halogen Free/BFR Free(無鹵/無溴化阻燃劑)標(biāo)準(zhǔn),并且滿足RoHS(有害物質(zhì)限制指令)要求,體現(xiàn)了環(huán)保理念。

應(yīng)用領(lǐng)域

NTMT061N60S5F廣泛應(yīng)用于多個(gè)領(lǐng)域,包括:

  • 計(jì)算與顯示電源:為計(jì)算機(jī)和顯示器提供穩(wěn)定的電源供應(yīng)。
  • 電信與服務(wù)器電源:滿足電信設(shè)備和服務(wù)器對(duì)電源的高要求。
  • 照明、充電器、適配器和工業(yè)電源:在各種電源應(yīng)用中發(fā)揮重要作用。

絕對(duì)最大額定值

在設(shè)計(jì)電路時(shí),我們必須關(guān)注器件的絕對(duì)最大額定值,以確保其安全可靠運(yùn)行。以下是NTMT061N60S5F的主要絕對(duì)最大額定值: 參數(shù) 符號(hào) 單位
漏源電壓 VDSS 600 V
柵源電壓(DC VGSS ±30 V
柵源電壓(AC,f > 1Hz) VGSS ±30 V
連續(xù)漏極電流(TC = 25°C) ID 41 A
連續(xù)漏極電流(TC = 100°C) ID 25 A
功耗(TC = 25°C) PD 255 W
脈沖漏極電流(TC = 25°C) IDM 146 A
脈沖源極電流(體二極管)(TC = 25°C) ISM 146 A
工作結(jié)溫和存儲(chǔ)溫度范圍 TJ, TSTG -55 to +150 °C
源極電流(體二極管) IS 41 A
單脈沖雪崩能量 EAS 376 mJ
雪崩電流 IAS 6.7 A
重復(fù)雪崩能量 EAR 2.55 mJ
MOSFET dv/dt dv/dt 120 V/ns
峰值二極管恢復(fù)dv/dt 70
焊接用引腳溫度(距外殼1/8″,10秒) TL 260 °C

需要注意的是,超過最大額定值可能會(huì)損壞器件,影響其功能和可靠性。

熱特性

熱特性對(duì)于功率器件的性能和壽命至關(guān)重要。NTMT061N60S5F的熱阻參數(shù)如下:

  • 結(jié)到外殼的熱阻(最大值):RJC = 0.49°C/W
  • 結(jié)到環(huán)境的熱阻(最大值):RJA = 45°C/W

電氣特性

關(guān)斷特性

  • 漏源擊穿電壓:V(BR)DSS在VGs = 0V,Ip = 1mA,T = 25°C時(shí),最小值為600V。
  • 漏源擊穿電壓溫度系數(shù):AV(BR)DSS/AT在Ip = 10mA,參考溫度為25°C時(shí),典型值為630mV/°C。
  • 零柵壓漏極電流:lpss在VGs = 0V,Vps = 600V,T = 25°C時(shí),最大值為10μA。
  • 柵源泄漏電流:IGss在VGs = +30V,Vps = 0V時(shí),最大值為±100nA。

導(dǎo)通特性

  • 導(dǎo)通電阻:Rps(on)在VGS = 10V,ID = 20.5A,TJ = 25°C時(shí),典型值為48.8mΩ,最大值為61mΩ。
  • 柵源閾值電壓:VGS(th)在VGS = VDS,ID = 4.6mA,TJ = 25°C時(shí),典型值為4.8V。
  • 正向跨導(dǎo):9FS在VDS = 20V,ID = 20.5A時(shí),最小值為39S。

開關(guān)特性

  • 導(dǎo)通延遲時(shí)間:td(on)在VGS = 0/10V,VDD = 400V,ID = 20.5A,RG = 4.7Ω時(shí),為42ns。
  • 上升時(shí)間:tr為15ns。
  • 關(guān)斷延遲時(shí)間:td(off)為108ns。
  • 下降時(shí)間tf為2.8ns。

源漏二極管特性

  • 正向二極管電壓:VGs = 0V,IsD = 20.5A,T = 25°C時(shí),典型值為1.2V。
  • 反向恢復(fù)時(shí)間:VGs = 0V,IsD = 20.5A,dl/dt = 100A/μs,Vpp = 400V時(shí),為124ns。
  • 反向恢復(fù)電荷:為717nC。

典型特性曲線

文檔中提供了多個(gè)典型特性曲線,直觀地展示了器件在不同條件下的性能表現(xiàn),例如:

  • 導(dǎo)通區(qū)域特性:展示了不同柵源電壓下,漏極電流與漏源電壓的關(guān)系。
  • 傳輸特性:體現(xiàn)了漏極電流與柵源電壓的變化關(guān)系。
  • 導(dǎo)通電阻變化特性:顯示了導(dǎo)通電阻隨漏極電流和柵源電壓的變化情況。

這些曲線對(duì)于工程師在設(shè)計(jì)電路時(shí)進(jìn)行參數(shù)選擇和性能評(píng)估非常有幫助。

機(jī)械封裝與訂購(gòu)信息

NTMT061N60S5F采用TDFN4 8x8 2P封裝,每盤3000個(gè),采用帶盤包裝。在訂購(gòu)時(shí),我們可以根據(jù)具體需求選擇合適的包裝方式。同時(shí),文檔中還提供了詳細(xì)的封裝尺寸和標(biāo)記圖,方便我們進(jìn)行PCB設(shè)計(jì)和焊接。

總結(jié)

Onsemi的NTMT061N60S5F MOSFET憑借其優(yōu)化的反向恢復(fù)性能、卓越的開關(guān)特性和環(huán)保合規(guī)性,在多個(gè)應(yīng)用領(lǐng)域具有廣闊的應(yīng)用前景。作為電子工程師,我們?cè)谠O(shè)計(jì)電路時(shí),需要充分考慮其電氣特性、熱特性和封裝要求,以確保系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。你在實(shí)際應(yīng)用中是否使用過類似的MOSFET呢?在使用過程中遇到過哪些問題?歡迎在評(píng)論區(qū)分享你的經(jīng)驗(yàn)和見解。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
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