針對消費電子觸控屏電路板時鐘、驅動、電源模塊在 300kHz~30MHz 易產生電磁騷擾的問題，采用北京海洋興業自研OI-EASS321EMI掃描儀，通過 “寬頻初掃 + 窄帶終掃成像” 定位干擾源，為 PCB 優化與 EMC 整改提供依據。

一、測試目的

1、完成 300kHz~30MHz 近場電場掃描，獲取觸控板干擾頻譜；

2、定位 1MHz~5MHz 差模干擾與共模干擾共存的頻率與強度；

3、借助 2D/3D 成像實現干擾源精準定位，輸出工程化結論。

二、測試依據

GB/T 9254.1-2021《信息技術設備 電磁兼容 發射要求》

CISPR 32:2015《多媒體設備電磁兼容 發射要求》（Class B）

CISPR 16-2-3 無線電騷擾測量方法

IEC 61967-3 集成電路近場輻射測量方法

三、測試系統與被測件

圖 1：OI-EASS321掃描儀

圖 2：OI-ICE08近場探頭

圖 3：觸控屏電路板

四、測試方法

采用兩步式智能掃描流程，由自研 EMI 軟件統一控制：

1、頻譜分析（初掃）：300kHz~30MHz 寬頻快速掃描，鎖定干擾尖峰頻點；

2、近場成像（終掃）：針對尖峰頻點設置 SPAN 窄帶精掃，生成2D/3D輻射成像。

測試參數：探頭距 PCB 2mm、步進 2mm、峰值檢波、RBW=10kHz、前置放大開啟。

圖 4：300kHz~30MHz 頻譜分析（初掃）干擾頻譜圖

五、測試結果

1、頻譜特征：1MHz以下，頻譜信號整體過高，隨之逐漸下降，并在1MHz之后出現多個尖峰諧波（差模與共模干擾）。

2、空間定位：2D/3D 成像顯示，干擾集中于觸控控制器、時鐘電路、電源模塊、FPC 接口區域，以近場電場輻射、共模噪聲為主。

圖 5：典型干擾頻點 2D 近場電場分布云圖

圖 6：典型干擾頻點 3D 輻射強度立體成像圖

圖 7：近場成像（終掃）效果圖

六、測試結論

1、自研系統頻段匹配度高，300kHz~30MHz 測試數據真實有效；

2、觸控板 1MHz 以上存在明顯 EMI 騷擾，符合消費電子產品特征；

3、兩步式掃描精準定位干擾源，可直接支撐 PCB 布局與濾波整改。

七、整改建議

1、1MHz 以上干擾區加裝 RC/LC 濾波或串聯阻尼電阻；

2、時鐘電路包地 + 縮短走線，降低諧波輻射；

3、優化觸控驅動回路面積，減少環路天線效應；

4、電源模塊增強濾波，改善接地連續性。