在SSD生產與質量控制過程中，高溫老化測試是保障產品長期可靠性的關鍵環節。許多固態產品企業面臨著測試周期長、流程復雜、卻必須確保結果準確穩定的雙重壓力。測試環節不僅直接關系到產品出廠良率，更是影響客戶返修率與品牌信譽的核心防線。

為此，閃德半導體推出一款面向嚴苛工業級標準的SSD高溫BIT老化測試設備——PCT 300。

該設備集高溫加速老化、恒溫穩態測試及高低溫交變試驗于一體，可在-60℃至150℃的寬溫域內實現自動化精準溫控，通過模擬極限環境應力，快速暴露產品潛在缺陷，有效驗證元器件封裝完整性、環境適應性與工作耐壓能力。

其定制化內箱結構確保溫場均勻穩定，整機電路高度集成，兼顧測試效率與運維簡便性，為SSD企業提供高可靠、高效率的測試解決方案。

SSD高溫BIT老化測試設備——PCT 300

設備定位：該設備是一款面向工業級可靠性驗證的嚴苛環境模擬與加速老化測試系統，定位為SSD生產與研發環節中高端質量檢測與可靠性篩選的核心設備。

設備特點

此設備用于模擬產品在氣候環境溫濕組合條件下（高低溫儲存，高低溫交變，高溫高濕，低溫低濕，溫度循環）檢測材料在各種環境下的適應能力與特性是否改變，適合各類科研單位，檢測機構，電子、電器、通訊、汽車配件、塑膠制品、金屬、食品、化學、建材、醫療、航天等制品檢測質量之用可制造苛刻的環境使用條件。

技術規格

溫度控制精度高，可制造【-60-150℃】的工業級別產品使用環境；冷媒伺服閥流量演算控制，省電30%，低溫工作1000小時不結霜；PWM技術控制調節實現對工作室溫度的自動恒定，可實現降低40%的能耗 ；耐高溫耐低溫線材，壽命更長；產品可根據要求設置上電測試溫度；正常產品測試傳輸速度，保證測試結果的準確性。

應用場景

該設備主要用于SSD產品的可靠性極限測試，可用于企業級SSD/工業級SSD在研發驗證、量產篩選，故障分析和品質改進等場景。

設備詳細參數