我們很高興地宣布，Tessent In-System Test 在 Electronics Weekly 于倫敦舉辦的知名 Elektra Awards 中，榮獲“年度設計工具與開發軟件產品”大獎！該軟件支持在實際應用場景中部署制造質量測試向量，從而對半導體器件進行持續的測試與監控，確保其在整個運行周期內始終維持最優的性能、可靠性及安全性—這正是驅動人工智能應用的高性能計算 (HPC) 市場與汽車芯片市場的核心需求。

該軟件不僅契合我們對可持續發展的關注，更能幫助客戶顯著延長設備的有效使用壽命，從而同步實現環境效益與經濟效益。衷心感謝 Electronics Weekly 與 ElektraAwards 團隊，讓大家共同見證了推動電子行業發展的優質創新、行業領導力與杰出成就。

Tessent In-System Test 于 2024 年末推出，其研發革新了整個行業—它支持在芯片生命周期內的在系統測試/現場測試中應用高質量確定性測試向量。它已成為在系統測試 (In-System Test) 與硅生命周期管理 (SLM) 領域的行業標準。

會議報名

為了讓大家有機會更好地了解這一產品，我們為大家安排一場網絡研討會。主講人 Lee Harrison(西門子 EDA 產品營銷總監)介紹在系統中應用確定性測試向量的優勢，以及其在硅生命周期管理戰略中的價值。隨著半導體行業發展,測試需求從制造階段延伸到系統階段。這項技術使制造級測試向量可直接用于系統內測試，從而顯著提升測試質量。