11月14日舉辦了電壓檢測器(復位IC)網絡研討會。現將研討會答疑環節中各位提出的問題及解答內容予以公開。

電壓檢測器(復位IC)網絡研討會問答內容公開

Q1、當VIN端子與檢測端子共用同一電壓檢測器時，在VIN端子插入電阻需注意哪些事項?

A1、在VIN端口添加電阻主要有兩個目的：

1、作為RC濾波器，避免檢測到尖峰等陡峭的電壓變化。

2、通過電壓分壓實現高電壓檢測。

無論哪種情況，IC內部的工作電流和穿通電流都會增加，且外部電阻導致的VIN電壓波動可能引發檢測/解除動作反復進行的不穩定現象。

若數據手冊中對VIN電阻的使用注意事項或數值有規定，請嚴格遵守。

對于 CMOS 輸出，由于貫通電流較大、VIN 電壓波動更明顯，原則上不推薦使用。

對于 N 溝道開漏(Nch Open-Drain)輸出，電阻值的選擇也需十分謹慎。

通過在R旁并聯C可防止誤動作，但 R 的取值不宜過大。

因此，在 VIN 與檢測端子共用的電壓檢測器中，為實現高電壓檢測而進行的電阻分壓并不推薦。

雖然3引腳型(共用VIN與檢測端)電壓檢測器結構簡單，但建議優先考慮帶檢測端子的4引腳類型。

檢測端可輕松配置RC濾波器或電阻分壓，應用范圍更廣泛。

在小批量生產的工業設備中，檢測電壓為1V的獨立檢測端子型產品常被選用。利用電阻分壓可應對多種電壓，庫存管理也更便利。

本公司產品中，外接解除延時的XC6118、超低功耗XC6135、高功能XC6132/XC6133/XC6134被廣泛采用。

Q2、幾乎沒有遲滯(Hysteresis)的產品主要用于哪些場合?

A2、常見應用場景主要有兩種：

1、注重解除電壓精度的場合

例如電壓上升檢測、儲能元件充電完成檢測等。

使用一般方法“檢測電壓+約5%遲滯=解除電壓”時，由于檢測電壓和遲滯值各自存在偏差，會導致解除電壓精度下降。2、由 MCU處理檢測/解除信號的場合

通過MCU程序控制檢測/解除循環，可在相同電壓下實現檢測/解除。

當同時需要檢測/解除電壓精度與滯后特性時，外調滯后型更適用。

本公司產品示例：XC6132/XC6134，以及對檢測/解除雙通道進行高精度修整的XC6138。

Q3、 關于 貫 通 電 流， CMOS 輸 出 類 型 較 多，而 N 溝道開漏 類 ( Nch Open-Drain ) 類 型 較 少 嗎 ?

A3、是的，確實如此。

CMOS輸出類型在輸出級設有大型CMOS反相器，在高/低電平切換時可能產生瞬時mA至數十mA的穿通電流。

N溝道開漏(Nch Open-Drain)輸出類型因不存在大型CMOS反相器，且前級反相器較小，因此穿通電流可大幅降低。

Q4、對于可外部設置延遲時間的復位IC，如何減小包括延遲時間溫度特性在內的偏差?

A4、遺憾的是，由于延遲時間由內部元件決定，無法減小偏差。請選擇偏差較小的產品。

本公司推薦產品如下：

延遲時間內部固定型：XC6127(常溫下偏差約±15%)

延遲時間外部可調型：XC6132/XC6133/XC6134

(可通過外接Cd電容調節，含內部電阻Rp/Rn溫度特性偏差約±15%)

請同時參照數據手冊中的計算公式。

Q5、設置解除延遲時間時，Cd電容是否有最大值限制?

A5、沒有嚴格限制，但需注意以下事項：

1、高容量C的漏電流可能導致IC充電速度跟不上，造成無法充電的情況。尤其在高溫環境下需重點確認。

2、當大容量C放電(解除延遲)時，可能產生大峰值電流通過內部阻斷電路流向GND;或在IC電源驟降時，Cd端子殘留高于VIN(VDD)的電壓，導致電流通過內部寄生二極管。為此，部分設計要求在Cd端子與大容量C之間插入電阻，請務必充分確認。

Q6、若不使用可設置延遲的復位IC的Cd端子該如何處理?

A6、保持開路狀態即可。數據手冊中已明確規定開路狀態下的延遲時間。

※參考資料

我們準備了可直觀了解電壓檢測器(復位IC)種類、各項功能及使用示例的資料。

? 民用/工業設備用復位IC 產品概要

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