RTTLIT（實時瞬態鎖相熱分析系統），是基于鎖相熱成像（LIT）技術內核。以“光與熱”突破性的檢測性能和多場景適配能力為電子半導體領域提供失效檢測的“卡脖子問題”。

RTTLIT 鎖相熱分析技術是通過創新周期性激勵源向目標物體施加特定頻率的電信號，促使物體產生同步的熱響應。在此過程中，環境噪聲易對檢測信號造成干擾，而致晟光電擁有鎖相解調單元與專屬算法，能夠精準篩選出與激勵頻率相關的熱信號，有效過濾背景噪聲，實現對微弱熱信號的高效提取。

從此次優化后從系統設計構成來看，RTTLIT 鎖相熱分析由四大核心部件協同發力：周期性激勵源為檢測提供穩定可控的能量基礎；高靈敏度紅外探測器負責捕捉物體的熱輻射信號，是實現高精度檢測的關鍵；鎖相解調單元承擔信號篩選與提純的核心職能；專業圖像處理軟件則將原始信號轉化為清晰直觀的缺陷圖像，為后續分析提供可視化支撐。這套高度集成的系統設計，確保了從信號激勵、捕捉到分析的全流程精準可控。

實時瞬態鎖相熱分析系統作為致晟光電的核心技術，RTTLIT 在性能指標上實現了行業領先的突破。其溫度靈敏度高達 0.0001°C，顯微分辨率低至 2μW，能夠捕捉到傳統設備難以察覺的微弱熱信號，即使是半導體器件內部極其細微的缺陷所產生的熱輻射，也能被精準識別。更值得關注的是，RTTLIT 具備無損檢測的顯著優勢，可在不破壞樣品結構與性能的前提下，對各類封裝狀態的半導體器件進行全面檢測。這一特性不僅降低了企業的檢測成本，避免了因樣品損壞造成的研發延誤，更適用于批量生產中的質量抽檢與成品驗證，大幅提升了檢測流程的效率與經濟性。

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審核編輯 黃宇