ADC3664-xEP器件是一款低噪聲、超低功耗、14位、125MSPS、高速雙通道ADC。該器件專為最低噪聲性能而設計,可提供 -156.9dBFS/Hz 的噪聲頻譜密度以及線性度和動態范圍。ADC3664-xEP 提供 IF 采樣支持,使該器件專為廣泛的應用而設計。高速控制環路受益于低至一個時鐘周期的短延遲。ADC在125MSPS時僅消耗100mW/ch,功耗在較低采樣率下也能很好地擴展。
ADC3664-xEP 使用串行 LVDS (SLVDS) 接口輸出數據,從而最大限度地減少數字互連的數量。該設備支持雙通道、單通道和半通道選項。該器件支持–55°C至+105°C的擴展溫度范圍。
*附件:adc3664-sep.pdf
特性
- 耐輻射(僅限 -SEP):
- 單事件閂鎖 (SEL) 免疫高達 LET = 43 MeV-cm2/mg
- 單事件功能中斷 (SEFI) 表征高達 LET = 43 MeV-cm2/mg
- 總電離劑量(TID):30krad(Si)
- 增強型產品(-EP 和 -SEP):
- 符合 ASTM E595 釋氣規范
- 供應商物料圖紙 (VID)
- 溫度范圍:–55°C 至 105°C
- 一個制造、組裝和測試站點
- 金鍵合絲,NiPdAu 引線表面處理
- 晶圓批次可追溯性
- 延長產品生命周期
- 雙通道,125MSPS ADC
- 14 位分辨率(無遺漏代碼)
- 本底噪聲:–156.9dBFS/Hz
- 低功耗:100mW/ch(125MSPS 時)
- 延遲:2 個時鐘周期
- 電壓基準選項:
- 外部:1 至 125MSPS
- 內部:100 至 125MSPS
- 輸入帶寬:200MHz (3dB)
- INL:±2.6 LSB;DNL:±0.9 LSB(典型值)
- 片上 DSP(可選/可旁路)
- 抽取 2、4、8、16、32
- 32 位 NCO
- 串行LVDS數字接口(2線、1線和1/2線)
- 小尺寸:40 QFN (5 × 5mm) 封裝
- 頻譜性能 (fIN = 5MHz):
- 信噪比:77.5dBFS
- SFDR:84dBc HD2、HD3
- SFDR:92dBFS 最差支線
參數
方框圖

一、產品基礎信息與核心差異
ADC3664-SEP 與 ADC3664-EP 同屬 ADC3664-xEP 系列,核心架構均為 14 位雙通道同步采樣 ADC,共享低功耗、高動態范圍特性,主要差異集中在抗輻射能力與應用場景,具體參數對比如下:
| 參數分類 | 參數名稱 | ADC3664-EP(增強型) | ADC3664-SEP(抗輻射型) | 系列共同特性 |
|---|---|---|---|---|
| 基礎性能 | 抗輻射能力 | 無抗輻射設計 | 1. 單粒子鎖定(SEL)免疫:LET≤43 MeV-cm2/mg2. 單粒子功能中斷(SEFI):LET≤43 MeV-cm2/mg3. 總電離劑量(TID):30krad (Si) | 1. 14 位分辨率無失碼,采樣速率 1-125MSPS(外部基準)、100-125MSPS(內部基準)2. 低噪聲:噪聲譜密度 - 156.9dBFS/Hz,5MHz 輸入時 SNR 典型 77.5dBFS、SFDR 典型 92dBFS3. 低功耗:125MSPS 時 100mW / 通道,功耗隨采樣速率線性降低4. 輸入帶寬 200MHz(-3dB),支持 IF 采樣,適配高頻信號采集5. 集成片上數字下變頻器(DDC),支持 2/4/8/16/32 倍抽取,32 位 NCO6. 串行 LVDS 接口:支持 2 路、1 路、1/2 路輸出模式,輸出分辨率 14-20 位可調7. 工作溫度范圍 - 55°C 至 105°C,封裝為 5mm×5mm 40 引腳 WQFN(RSB) |
| 基礎性能 | 封裝與工藝 | 40 引腳 WQFN(RSB),NiPdAu 引腳鍍層,金鍵合線 | 同 ADC3664-EP,額外滿足航天級工藝要求 | |
| 應用場景 | 目標場景 | 工業高速數據采集、通信設備 | 衛星光學通信載荷、衛星成像 / 雷達 / LIDAR 載荷 | |
| 可靠性認證 | 合規標準 | 符合 ASTM E595 釋氣標準,單一制造 / 組裝 / 測試站點 | 除 ADC3664-EP 標準外,滿足航天抗輻射標準 |
二、關鍵功能特性詳解
1. 模擬輸入與信號調理
1.1 模擬輸入特性
- 輸入范圍與阻抗 :差分輸入滿量程 3.2Vpp,共模輸入電壓 0.9-1.0V(典型 0.95V);直流差分輸入電阻 8kΩ,輸入電容 5.4pF,等效輸入網絡含采樣開關與匹配電阻(如圖 7-1 等效輸入網絡所示),適配高頻信號。
- 線性度指標 :全溫度范圍(-55°C 至 105°C)內,INL 最大 ±7.5LSB(典型 ±2.6LSB)、DNL 最大 ±1.8LSB(典型 ±0.9LSB);增益誤差最大 ±3% FSR(內部基準)、±2% FSR(外部基準),溫度漂移最大 106ppm/°C(內部基準)、57ppm/°C(外部基準),保障寬溫域測量精度。
- 噪聲性能 :150Hz 帶寬內輸入噪聲低,5MHz 輸入時 THD 典型 - 80dBc,二次 / 三次諧波失真(HD2/HD3)典型 - 84dBc,無雜散動態范圍(SFDR)典型 92dBFS,適合弱信號采集。
1.2 基準電壓配置
- 內部基準 :默認啟用 1.6V 內部基準,需在 VREF 引腳外接 10μF+0.1μF 陶瓷去耦電容,基準溫度漂移 6-20ppm/°C,輸出阻抗 8Ω,額外消耗 4mA 模擬電流。
- 外部基準 :支持兩種外部基準模式:一是直接接入 1.6V 外部基準(VREF 引腳),負載電流 1mA;二是接入 1.2V 外部基準(REFBUF/CTRL 引腳),通過內部增益緩沖放大至 1.6V,負載電流<100μA,需在 REFBUF/CTRL 引腳額外外接 10μF+0.1μF 去耦電容。
2. 數字處理與接口功能設計
2.1 數字下變頻器(DDC)
- 抽取與濾波 :支持實抽取(無混頻,僅低通濾波)與復抽取(含 NCO 混頻),抽取倍數 2/4/8/16/32,復抽取時通帶帶寬約為采樣率的 80%,阻帶抑制≥85dB;實抽取通帶帶寬為復抽取的 1/2,適合不同帶寬需求場景。
- NCO 配置 :32 位數控振蕩器(NCO),頻率范圍 - FS/2 至 + FS/2,通過公式 NCO =fNCO ? ×232**/FS?(正頻率)或NCO**=**(**f**NCO**?**+**F**S**?**)**×**2**32**/**F**S**?(負頻率)計算配置值,支持相位反轉,可通過 SYNC 引腳或寄存器重置相位。
- 數據增益補償 :復抽取時信號經混頻后幅度衰減 6dB,實抽取衰減 3dB,可通過寄存器配置 3dB 或 6dB 數字增益補償,避免 SNR 損失。
2.2 LVDS 數據接口
- 接口模式 :支持三種輸出模式,適配不同數據速率需求:
- 2 路模式:雙通道分別從 DA0/DA1(通道 A)、DB0/DB1(通道 B)輸出,14 位時序列化倍數 7x,DCLK 頻率 = 3.5×FS。
- 1 路模式:雙通道數據合并從 DA0/DB0 輸出,14 位時序列化倍數 14x,DCLK 頻率 = 7×FS。
- 1/2 路模式:雙通道數據進一步合并從 DA0 輸出,14 位時序列化倍數 28x,DCLK 頻率 = 14×FS。
- 輸出格式 :支持 14/16/18/20 位輸出分辨率,16 位及以上時低位補 0;數據格式可通過寄存器(0x8F/0x92)配置為二進制補碼(默認)或偏移二進制,適配不同后端處理需求。
- 時序特性 :延遲低至 1-2 個時鐘周期(1/2 路 / 1 路模式 1 周期,2 路模式 2 周期),孔徑抖動典型 250fs,確保高速信號采集的實時性。
3. 電源與可靠性設計
3.1 電源配置
- 供電體系 :需雙電源供電,模擬電源(AVDD)1.75-1.85V(典型 1.8V),為 ADC 與模擬電路供電;I/O 電源(IOVDD)1.75-1.85V(典型 1.8V),為 LVDS 接口與數字電路供電,無電源上電順序要求。
- 功耗特性 :125MSPS 時,AVDD 電流典型 64mA(外部基準)、68mA(內部基準),IOVDD 電流典型 47mA(2 路模式);全局掉電模式下功耗僅 12mW,支持單獨關閉 ADC 通道、時鐘緩沖、基準放大器等模塊,靈活平衡功耗與功能。
3.2 可靠性與防護
- ESD 防護 :人體放電模型(HBM)2500V,帶電器件模型(CDM)1000V,需遵循 ESD 防護流程操作,避免器件損壞。
- 熱性能 :40 引腳 WQFN 封裝熱阻參數:結到環境(RθJA)30.7°C/W,結到板(RθJB)10.5°C/W,暴露熱焊盤需焊接至 PCB 接地平面,確保散熱效率。
三、電氣規格詳情(典型值,TA=25°C,AVDD=IOVDD=1.8V,1.6V 外部基準)
3.1 直流電氣參數
| 參數名稱 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 差分輸入滿量程(FS) | - | - | 3.2 | - | Vpp |
| 輸入共模電壓(VCM) | - | 0.9 | 0.95 | 1.0 | V |
| 輸入電阻(RIN) | 直流差分 | - | 8 | - | kΩ |
| 輸入電容(CIN) | 直流差分 | - | 5.4 | - | pF |
| 失調誤差(VOS_ERR) | - | -55 | ±30 | 55 | LSB |
| 失調漂移(VOS_DRIFT) | - | - | ±0.06 | - | LSB/°C |
| 增益誤差(GAIN_ERR) | 外部基準 | - | ±2 | - | %FSR |
| 增益誤差(GAIN_ERR) | 內部基準 | - | ±3 | - | %FSR |
| 增益漂移(GAIN_DRIFT) | 外部基準 | - | ±57 | - | ppm/°C |
| 增益漂移(GAIN_DRIFT) | 內部基準 | - | 106 | - | ppm/°C |
3.2 交流電氣參數(fIN=5MHz,-1dBFS 輸入)
| 參數名稱 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 噪聲譜密度(NSD) | -20dBFS 輸入 | - | -156.9 | - | dBFS/Hz |
| 信噪比(SNR) | 125MSPS | 72 | 77.5 | - | dBFS |
| 信號噪聲失真比(SINAD) | 125MSPS | - | 75.7 | - | dBFS |
| 有效位(ENOB) | 125MSPS | - | 12.6 | - | bit |
| 總諧波失真(THD) | 125MSPS | 71.5 | 80 | - | dBc |
| 二次諧波失真(HD2) | 125MSPS | 77 | 84 | - | dBc |
| 三次諧波失真(HD3) | 125MSPS | 73.5 | 84 | - | dBc |
| 無雜散動態范圍(SFDR) | 排除 HD2/HD3 | 84 | 92 | - | dBFS |
| 三階互調失真(IMD3) | f1=10MHz,f2=12MHz | - | 88 | - | dBc |
3.3 時序參數(125MSPS)
| 參數名稱 | 測試條件 | 最小值 | 典型值 | 最大值 | 單位 |
|---|---|---|---|---|---|
| 孔徑延遲(tAD) | - | - | 0.85 | - | ns |
| 孔徑抖動(tA) | 方波時鐘 | - | 250 | - | fs |
| 恢復時間 | +6dB 過載后 SNR 誤差≤1dB | - | 1 | - | 時鐘周期 |
| 上電喚醒時間 | 內部基準,帶隙使能 | - | 13 | - | μs |
| 數據延遲 | 1/2 路 LVDS | - | 1 | - | 時鐘周期 |
| 數據延遲 | 2 路 LVDS | - | 2 | - | 時鐘周期 |
四、寄存器配置體系
器件包含 112 個可配置寄存器(地址 0x00-0xFF),核心寄存器按功能分類如下,關鍵配置需通過 SPI 接口完成(SEN/SCLK/SDIO 引腳):
4.1 基礎配置寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名稱 | 核心功能 | 關鍵字段說明 |
|---|---|---|---|
| 0x00 | 復位寄存器 | 器件復位 | - RESET(bit0):1b 時復位所有寄存器,自動清零 |
| 0x07 | 輸出接口映射寄存器 | 配置 LVDS 接口模式 | - OP_IF_MAPPER(bit7-5):選擇接口映射(如 011=1 路,100=1/2 路)- OP_IF_EN(bit3):使能接口模式切換- OP_IF_SEL(bit2-0):選擇輸出路數(011=2 路,100=1 路,101=1/2 路) |
| 0x08 | 電源控制寄存器 | 模塊掉電控制 | - PDN_CLKBUF(bit5):1b 關閉時鐘緩沖- PDN_A/PDN_B(bit2-1):1b 關閉對應 ADC 通道- PDN_GLOBAL(bit0):1b 全局掉電 |
| 0x0E | 基準與時鐘配置寄存器 | 基準選擇與時鐘類型 | - REF_CTRL(bit3):1b 時通過 SPI 選擇基準,0b 時通過 REFBUF/CTRL 引腳選擇- REF_SEL(bit2-1):00 = 內部基準,01 = 外部 1.2V 基準,10 = 外部 1.6V 基準- SE_CLK_EN(bit0):1b 使能單端時鐘,0b 為差分時鐘 |
4.2 數字下變頻器(DDC)配置寄存器
| 寄存器地址 | 寄存器名稱 | 核心功能 | 關鍵字段說明 |
|---|---|---|---|
| 0x24 | DDC 使能寄存器 | 啟用 DDC 與通道復用 | - DDC_EN(bit1):1b 使能 DDC- DIG_BYP(bit2):1b 使能數字功能(含 DDC)- DDC_MUX(bit4-3):配置 ADC 與 DDC 連接(如 11 = 通道 A/B 平均后接入 DDC) |
| 0x25 | 抽取配置寄存器 | 選擇抽取倍數與模式 | - DECIMATION(bit6-4):001=2 倍,010=4 倍,…,101=32 倍- REAL_OUT(bit3):1b 實抽取,0b 復抽取- MIX_PHASE(bit0):1b 反轉 NCO 相位 |
| 0x26 | 混頻增益寄存器 | 補償混頻損失 | - MIX_GAIN_A/B(bit7-6/bit3-2):01=3dB 增益,10=6dB 增益- MIX_RES_A/B(bit5/bit1):1b 重置 NCO 相位并加載新頻率- FS/4_MIX_A/B(bit4/bit0):1b 使能 FS/4 混頻 |
| 0x2A-0x2D | NCO_A 配置寄存器 | 通道 A NCO 頻率 | - NCO_A [31:0]:32 位 NCO 值,按公式計算配置 |
| 0x31-0x34 | NCO_B 配置寄存器 | 通道 B NCO 頻率 | - NCO_B [31:0]:32 位 NCO 值,實抽取時自動置 0 |
五、應用設計與布局建議
5.1 典型應用場景
該系列 ADC 主要面向高頻、高動態范圍數據采集場景,包括:
- 衛星載荷 :衛星光學通信、成像、雷達 / LIDAR 信號采集(ADC3664-SEP 為主)
- 工業設備 :高速數據采集卡、軟件無線電(SDR)、超聲探傷(ADC3664-EP 為主)
5.1.1 頻譜分析儀應用方案
- 電路結構 :單端輸入信號經 THS4541 全差分放大器轉換為差分信號,通過采樣毛刺濾波器(DC-30MHz 時用 33Ω 電阻 + 82nH 電感 + 33pF 電容)與 ADC 輸入匹配;時鐘采用低抖動差分時鐘源,基準選用外部 1.6V 高精度基準(如 REF7040),ADC 輸出通過 LVDS 接口連接 FPGA 進行數據處理。
- 關鍵參數 :輸入信號帶寬 DC-30MHz,SNR≥75dBFS,THD≤-74dBc,滿足高頻信號頻譜分析需求。
5.2 電源與布局設計要點
5.2.1 電源去耦設計
- 去耦配置 :AVDD 與 IOVDD 引腳均需并聯 10μF+0.1μF 陶瓷電容,且靠近引腳布局,避免過孔;推薦電源架構為 “開關電源 + LDO”,開關電源(如 TPS7H4010-SEP)實現高效降壓,LDO(如 TPS73801-SEP)進一步濾除噪聲,確保模擬電源噪聲≤1mVpp。
- 隔離要求 :AVDD 與 IOVDD 需獨立布線,避免數字噪聲耦合至模擬電路;GND 與 IOGND 需單點連接,形成獨立接地平面。
5.2.2 PCB 布局準則
- 差分信號布線 :模擬輸入(AINP/AINM、BINP/BINM)與時鐘輸入(CLKP/CLKM)需采用 100Ω 差分布線,長度差≤5mil,避免過孔;LVDS 輸出(DA0/DA0M 等)采用緊密耦合 100Ω 差分布線,長度匹配。
- 基準防護 :VREF 與 REFBUF/CTRL 引腳的去耦電容需緊貼器件,布線長度≤5mm,避免與數字線平行;REFM 引腳直接連接至模擬地,路徑阻抗≤1Ω。
- 熱設計 :暴露熱焊盤(Thermal Pad)需焊接至 PCB 接地平面,通過過孔與內層地連接,確保散熱路徑通暢,避免結溫超過 105°C。
六、封裝與訂購信息
6.1 封裝規格
- 封裝類型 :40 引腳 WQFN(型號 RSB),尺寸 5mm×5mm,引腳間距 0.5mm,最大高度 0.8mm,暴露熱焊盤(面積約 3.15mm×3.15mm)用于散熱,焊盤推薦直徑 0.4mm,鋼網厚度 0.1mm。
- 焊接要求 :MSL 等級 3(260°C 峰值回流,168 小時濕敏存儲),需遵循 JEDEC J-STD-020 標準,熱焊盤焊接覆蓋率≥75%,確保熱性能。
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