工裝夾具

是在加工組裝作業(yè)中為保證加工組裝工藝而設(shè)計(jì)的,許多工藝在現(xiàn)有機(jī)械設(shè)備水平的基礎(chǔ)上無(wú)法實(shí)現(xiàn)工藝要求,所以就必須用到一些輔助裝備或工具,來(lái)實(shí)現(xiàn)工件的裝夾與定位、組裝、即工裝夾具。設(shè)計(jì)工裝夾具主要是要緊扣產(chǎn)品,因?yàn)楣ぱb夾具是專(zhuān)門(mén)為某些產(chǎn)品特定的,要保證生產(chǎn)時(shí)無(wú)干涉現(xiàn)象、定位準(zhǔn)確、操作工操作便捷等。生產(chǎn)線中所用工裝應(yīng)適合該產(chǎn)品及人工操作的專(zhuān)用工具以提高生產(chǎn)效率,減少疲勞,增加品質(zhì)可靠性。

ICT測(cè)試治具

即Integrated Circuit Tester集成電路測(cè)試儀器治具的縮寫(xiě)，就是在線檢測(cè)、測(cè)試治具。是對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試設(shè)備。

它主要用于檢查在線的單個(gè)元器件以及各電路網(wǎng)絡(luò)的開(kāi)、短路情況，具有操作簡(jiǎn)單、快捷迅速、故障定位準(zhǔn)確等特點(diǎn)，ICT測(cè)試治具可進(jìn)行模擬器件功能和數(shù)字器件邏輯功能測(cè)試，故障覆蓋率高，對(duì)每種單板需制作專(zhuān)用的針床，這個(gè)針床在工業(yè)生產(chǎn)上就叫它ICT測(cè)試治具。

ICT測(cè)試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機(jī)種，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)，使用壓克力&電木&FR-4材質(zhì)（或指定），分析軟件采用主流分析處理軟件:CodeCAM ICT Analyse、fabmaster、宇柏林、騰博等，直接gerber文件處理生成鉆孔文件，保證鉆孔精度。測(cè)試程式自動(dòng)生成，避免手工輸入出錯(cuò)之可能適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takaya、gwposhell、src、concord,PTI816等ICT機(jī)型。兩被測(cè)點(diǎn)或被測(cè)點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于0.050"（1.27mm）。以大于0.100"（2.54mm）為佳，其次是0.075"（1.905mm）。治具的測(cè)試點(diǎn)分布也盡量均勻，保證壓上后板子不變型，以免造成產(chǎn)品的損壞。

ICT測(cè)試治具測(cè)試過(guò)的故障板,因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。因其測(cè)試項(xiàng)目具體，是現(xiàn)代化大生產(chǎn)品質(zhì)保證的重要測(cè)試手段之一。

FCT測(cè)試治具

英文全稱(chēng)為:Functional Circuit Test(即:功能測(cè)試)它指的是對(duì)測(cè)試目標(biāo)板(UUT:Unit Under Test提供模擬的運(yùn)行環(huán)境(激勵(lì)和負(fù)載),使其工作于各種設(shè)計(jì)狀態(tài),從而獲取到各個(gè)狀態(tài)的參數(shù)來(lái)驗(yàn)證UUT的功能好壞的測(cè)試方法。簡(jiǎn)單地說(shuō),就是對(duì)UUT加載合適的激勵(lì),測(cè)量輸出端響應(yīng)是否合乎要求。一般專(zhuān)指PCBA的功能測(cè)試。

功能測(cè)試依據(jù)控制模式的不同,可以分為手動(dòng)控制功能測(cè)試、半自動(dòng)控制功能測(cè)試、全自動(dòng)控制功能測(cè)試。最早的功能測(cè)試,主要以手動(dòng)和半自動(dòng)方式為主。對(duì)于一些簡(jiǎn)單的被測(cè)板的功能測(cè)試,基于簡(jiǎn)化設(shè)計(jì)和減少制作成本考慮,我們有時(shí)還是會(huì)采用手動(dòng)或者半自動(dòng)的測(cè)試方案。隨著科技的發(fā)展,為了節(jié)約生產(chǎn)成本,現(xiàn)在的功能測(cè)試絕大多數(shù)都是使用全自動(dòng)的方案。

另一種更普遍的分類(lèi)是依據(jù)功能測(cè)試的控制器類(lèi)型來(lái)分。在功能測(cè)試中,我們通常用的控制方式有MCU控制方式、嵌入式CPU控制方式PC控制方式、PLC控制方式等。

在PCBA的批量生產(chǎn)過(guò)程中,由于設(shè)備和操作者的各種可能的因素,不可能保證生產(chǎn)出來(lái)的PCA全部都是完好品。這就要求在生產(chǎn)的末端加入各種的測(cè)試設(shè)備和測(cè)試工具,以保證出用的所有實(shí)裝電路板與設(shè)計(jì)的各種規(guī)格和參數(shù)完全一致這就產(chǎn)生了ICT、AOI、 X-Ray、Boundary-Scan、FCT等各種測(cè)試手段。

天線耦合板antenna coupler

可以在不使用任何物理RF連接器的情況下在屏蔽箱中測(cè)量DUT的近場(chǎng)波，可用于當(dāng)前和未來(lái)的通信技術(shù)，如GSM，WCDMA，WiMAX，LTE，GNSS，藍(lán)牙，Wi-Fi，其頻率范圍從80MHz到6GHz，可以用于多頻帶DUT測(cè)試、GO/NOGO測(cè)試、2G，3G和4G網(wǎng)絡(luò)設(shè)備測(cè)試、執(zhí)行有效和穩(wěn)定的RF耦合。

射頻屏蔽箱 RF shielding box

屏蔽箱的基本含義：屏蔽箱是利用導(dǎo)電或者導(dǎo)磁材料制成的各種形狀的屏蔽體，將電磁能力限制在一定空間范圍內(nèi)，用于抑制輻射干擾的金屬體。并對(duì)傳導(dǎo)和輻射進(jìn)行處理，以實(shí)現(xiàn)給被測(cè)無(wú)線通訊設(shè)備提供無(wú)干擾的測(cè)試環(huán)境的設(shè)備。

對(duì)于無(wú)線通訊產(chǎn)品生產(chǎn)廠商而言，產(chǎn)品不能及時(shí)面市或迅速上量帶來(lái)的是大量產(chǎn)值和利潤(rùn)的流失。直接影響后續(xù)業(yè)務(wù)和市場(chǎng)份額的拓展。

射頻測(cè)試工藝通常是手機(jī)等無(wú)線通訊類(lèi)設(shè)備產(chǎn)線中最為復(fù)雜、影響最大的流程，通常也是產(chǎn)線的瓶頸。射頻測(cè)試站通常由測(cè)試儀表、屏蔽箱、測(cè)試軟件等幾部分構(gòu)成，通常又可分為校準(zhǔn)測(cè)試、綜合測(cè)試、天線測(cè)試等等幾類(lèi)。由于產(chǎn)能的要求，通常射頻測(cè)試工藝由多個(gè)相同的測(cè)試站并行運(yùn)行。某個(gè)或某些測(cè)試工位的通過(guò)率偏低；產(chǎn)出降低就會(huì)導(dǎo)致產(chǎn)線瓶頸、生產(chǎn)成本劇增，而究其原因，大致可分為： 產(chǎn)品設(shè)計(jì)或物料原因、測(cè)試的問(wèn)題（誤測(cè)問(wèn)題）、射頻干擾等環(huán)境因素、測(cè)試的不確定問(wèn)題。

電磁干擾/EMI是整個(gè)電子領(lǐng)域必須面臨和克服的一個(gè)問(wèn)題，一般在無(wú)線通訊產(chǎn)品比如：手機(jī)、無(wú)線網(wǎng)卡、無(wú)線路由器、無(wú)線耳機(jī)、藍(lán)牙耳機(jī)、wi-fi、wimax、數(shù)據(jù)卡、對(duì)講機(jī)、RFID等等無(wú)線通訊類(lèi)設(shè)備和無(wú)線通訊類(lèi)模塊等在進(jìn)行板測(cè)、終測(cè)過(guò)程中，都是通過(guò)使用射頻測(cè)試屏蔽箱來(lái)改善測(cè)試環(huán)境的。

三、屏蔽箱作用

隔離外部基站信號(hào)、外部干擾信號(hào)。

吸收箱內(nèi)射頻信號(hào)，降低干擾。

降低人員的影響，測(cè)試更精確。

節(jié)省操作時(shí)間，提高工作效率。

隔離相鄰測(cè)試設(shè)備的干擾。

多種測(cè)試流程的整合，簡(jiǎn)化流程提高效率。

應(yīng)用范圍：1、為無(wú)線通訊產(chǎn)品提供高效隔離的測(cè)試環(huán)境，避免公網(wǎng)信號(hào)的干擾，避免不同測(cè)試系統(tǒng)之間的干擾，如手機(jī)，wifi模塊，數(shù)據(jù)卡，CPE或其他電子產(chǎn)品測(cè)試；2、配合生產(chǎn)線穩(wěn)定性測(cè)試，自動(dòng)化機(jī)械手測(cè)試，大規(guī)模一致性測(cè)試；3、其他通信技術(shù)測(cè)試，如GSM，WCDMA，WiMAX，LTE，GNSS，Bluetooth，WIFI等等。