這款 25 位 1：1 或 14 位 1：2 可配置寄存器緩沖器設計用于 1.7V 至 1.9V VCC 工作。在 1：1引腳配置，每個DIMM只需要一個器件即可驅動9個SDRAM負載。在 1：2 引腳排列中 配置中，每個 DIMM 需要兩個設備來驅動 18 個 SDRAM 負載。

所有輸入均SSTL_18，但復位 （RESET） 和控制 （Cn） 輸入除外，它們是 LVCMOS。所有輸出都是 邊沿控制電路針對未端接的 DIMM 負載進行了優化，并滿足SSTL_18規格，但 漏極開路誤差 （QERR） 輸出。
*附件：sn74sstub32866.pdf

SN74SSTUB32866采用差分時鐘（CLK和CLK）工作。數據在十字路口登記 CLK 走高，CLK 走低。

SN74SSTUB32866在奇偶校驗位 （PAR_IN） 輸入端接受來自內存控制器的奇偶校驗位， 將其與與DIMM無關的D輸入（D2-D3、D5-D6、D8-D25，當C0 = 0時）上接收到的數據進行比較 和 C1 = 0;當 C0 = 0 且 C1 = 1 時，D2-D3、D5-D6、D8-D14;或 D1-D6、D8-D13 當 C0 = 1 時為 1） 并指示漏極開路 QERR 引腳上是否發生奇偶校驗錯誤（低電平有效）。約定是 均勻平價;即，有效奇偶校驗定義為與DIMM無關的數據輸入中的偶數個奇偶校驗， 與奇偶校驗輸入位結合。要計算奇偶校驗，所有與 DIMM 無關的數據輸入必須與已知的 邏輯狀態。

當用作單個器件時，C0 和 C1 輸入連接為低電平。在此配置中，在 PAR_IN輸入信號，在它所應用的輸入數據后一個周期到達。兩個時鐘周期后 數據被注冊，生成相應的部分奇偶校驗輸出 （PPO） 和 QERR 信號。

成對使用時，第一個寄存器的C0輸入為低電平，第二個寄存器的C0輸入為低電平 高。兩個寄存器的C1輸入都連接為高電平。奇偶校驗，在數據輸入后一個周期到達，該 它適用，在第一設備的PAR_IN輸入信號上進行檢查。數據注冊后兩個時鐘周期， 相應的 PPO 和 QERR 信號在第二設備上生成。第一個的 PPO 輸出 寄存器級聯到第二個SN74SSTUB32866的PAR_IN。第一個的 QERR 輸出 SN74SSTUB32866保持浮動狀態，有效錯誤信息鎖存在第二個的 QERR 輸出上 SN74SSTUB32866。

如果發生錯誤并且 QERR 輸出被驅動為低電平，則它將保持低電平鎖存至少兩個時鐘周期或 直到RESET被驅動為低電平。如果發生兩個或多個連續的奇偶校驗錯誤，則 QERR 輸出被驅動為低電平，并且 鎖存低電平時鐘持續時間等于奇偶校驗錯誤持續時間，或直到RESET被驅動為低電平。這 與 DIMM 相關的信號（DCKE、DCS、DODT 和 CSR）不包括在奇偶校驗計算中。

C0輸入控制1：2引腳排列的引腳配置，從寄存器A配置（低電平時）到。 register-B 配置（高電平時）。C1 輸入控制 25 位 1：1 的引腳配置（低電平時） 到 14 位 1：2（高電平時）。正常運行期間不應切換 C0 和 C1。它們應該是硬連線的 到有效的低電平或高電平，以將寄存器配置為所需模式。在 25 位 1：1 引腳排列配置中， A6、D6 和 H6 端子被驅動為低電平，是不使用（DNU）引腳。

在DDR2 RDIMM應用中，RESET被指定為相對于CLK和CLK完全異步。因此，無法保證兩者之間的時間關系。進入復位時，寄存器為 清除，并且數據輸出相對于禁用差分輸入所需的時間快速驅動為低電平 接收機。然而，當復位出來時，寄存器相對于所需的時間會迅速激活 使能差分輸入接收器。只要數據輸入較低，并且時鐘在 從RESET從低到高轉換到輸入接收器完全使能的時間，設計 SN74SSTUB32866確保輸出保持低電平，從而確保輸出上不會出現毛刺。

為確保在提供穩定時鐘之前從寄存器輸出定義，必須將RESET保持在 上電期間的低電平狀態。

該器件支持低功耗待機作。當RESET為低電平時，差分輸入接收器為： 禁用和未驅動（浮動）數據、時鐘和基準電壓 （V 裁判 ） 輸入。此外，當RESET為低電平時，所有寄存器都被復位，所有輸出都強制為低電平，QERR除外。LVCMOS RESET 和 Cn 輸入必須始終保持在有效的邏輯高電平或低電平。

該器件還通過監控系統芯片選擇（DCS 和 CSR）來支持低功耗有源作 當DCS和CSR輸入均為高電平時，輸入和門控Qn和PPO輸出的狀態變化。如果 DCS或CSR輸入為低電平，Qn和PPO輸出工作正常。此外，如果內部低功耗信號 （LPS1） 為高電平（DCS 和 CSR 變為高電平后一個周期），器件將 QERR 輸出從狀態變化中門控。 如果 LPS1 為低電平，則 QERR 輸出工作正常。RESET輸入優先于DCS和CSR控制 并且，當驅動低電平時，強制 Qn 和 PPO 輸出為低電平，并強制 QERR 輸出為高電平。如果 DCS 控制 不需要功能，CSR 輸入可以硬接線到地，在這種情況下，建立時間 對 DCS 的要求與其他 D 數據輸入的要求相同。要僅使用 DCS 控制低功耗模式， CSR 輸入應上拉至 VCC通過上拉電阻器。

兩個V裁判引腳（A3 和 T3）在內部連接在一起大約 150 個。但是，只需連接兩個 V 中的一個裁判引腳連接到外部V裁判電源。未使用的 V裁判引腳應以 V 結尾裁判耦合電容器。

特性

• 德州儀器 （TI） Widebus+ ? 系列成員
• 引腳排列優化了 DDR2 DIMM PCB 布局
• 可配置為 25 位 1：1 或 14 位 1：2 寄存器緩沖器
• 芯片選擇輸入可控制數據輸出的狀態變化，并最大限度地降低系統功耗
• 輸出邊沿控制電路可最大限度地降低未端接線路中的開關噪聲
• 支持SSTL_18數據輸入
• 差分時鐘（CLK和CLK）輸入
• 支持控制和RESET輸入上的LVCMOS開關電平
• 檢查與 DIMM 無關的數據輸入上的奇偶校驗
• 能夠與第二個SN74SSTUB32866級聯
• 支持工業溫度范圍（-40°C 至 85°C）

參數

?1. 產品概述?

• ?型號?：SN74SSTUB32866，屬于德州儀器（TI）Widebus+?系列。
• ?功能?：25位1:1或14位1:2可配置寄存緩沖器，專為DDR2 DIMM PCB布局優化設計。
• ?電壓范圍?：1.7V至1.9V VCC操作。
• ?應用場景?：支持工業溫度范圍（-40°C至85°C），適用于高可靠性環境。

?2. 核心特性?

• ?配置靈活性?：
  • 單設備模式：25位1:1配置，驅動9個SDRAM負載。
  • 雙設備模式：14位1:2配置（需兩片芯片），驅動18個SDRAM負載。
• ?低功耗設計?：片選輸入（Chip-Select）可控制數據輸出狀態，降低系統功耗。
• ?噪聲抑制?：輸出邊緣控制電路減少未端接線路的開關噪聲。
• ?兼容性?：
  • 數據輸入支持SSTL_18標準。
  • 控制輸入（RESET、Cn）支持LVCMOS電平。
  • 差分時鐘輸入（CLK/CLK）實現數據同步。

?3. 奇偶校驗功能?

• ?校驗機制?：
  • 接收內存控制器的奇偶位（PAR_IN），與DIMM獨立數據輸入（D2-D25等）比對。
  • 采用偶校驗規則，錯誤時通過開漏輸出引腳QERR（低電平有效）指示。
• ?錯誤處理?：
  • QERR低電平至少持續2個時鐘周期，或直至RESET信號觸發。
  • 支持級聯模式下的多設備校驗（首設備PPO輸出連接次設備PAR_IN輸入）。

?4. 關鍵引腳與控制邏輯?

• ?配置引腳?：
  • ?C0/C1?：控制引腳配置模式（如C0=0/C1=0為25位全校驗，C0=1/C1=1為14位校驗）。
• ?時鐘與復位?：
  • 數據在CLK上升沿/CLK下降沿時寄存。
  • RESET低電平有效，用于清除錯誤狀態。

?5. 封裝與訂購信息?

• ?封裝類型?：
  • LFBGA-ZKE（標記SB866）、LFBGA-ZWL，均提供卷帶包裝。
• ?型號示例?：
  • SN74SSTUB32866ZKER（ZKE封裝）、SN74SSTUB32866ZWLR（ZWL封裝）。

?6. 其他注意事項?

• ?ESD防護?：器件內置有限ESD保護，存儲時需短接引腳或使用導電泡沫。
• ?生產數據?：符合TI標準保修條款，參數測試可能未全覆蓋。

?總結?：SN74SSTUB32866是一款高性能、可靈活配置的DDR2寄存緩沖器，集成奇偶校驗和低功耗設計，適用于工業級內存模塊應用。