近日，概倫電子具有自主知識產權的器件參數分析儀FS800，成功中標南京大學半導體電子測量系統項目，將為南京大學在憶阻器、神經網絡架構等前沿領域的材料研究、器件制備、應用系統開發的全流程，提供高性能、高效率且安全可靠的電性參數測試技術保障，助力科研團隊加速突破關鍵技術難題。電性參數測試是洞悉器件物理特性、驗證工藝可行性的關鍵環節，高精度測試如同科研的“精準測量基石”，為每一次創新探索提供可靠數據支持。隨著硅基芯片逼近物理極限，后摩爾時代的前沿半導體研究工作不斷突破傳統技術邊界，新興材料、新型器件結構、先進工藝迅速發展，科研團隊對電性參數測試的精度、效率與適配性的需求也在快速提升。

為精準匹配南京大學在憶阻器、神經形態器件等前沿半導體領域的研究需求，概倫電子基于功能全面、配置靈活的FS800器件參數分析儀，搭建了一整套電性參數測試平臺。該平臺在單機內集成了電流電壓(IV)測試、電容電壓(CV)測試、快速波形發生與測試以及高速時域信號采集等能力，可以為南京大學的突破性科研工作提供全方位、高精度的電性參數測試技術支撐。

模塊化架構，靈活部署按需擴展

FS800器件參數分析儀采用概倫電子自主知識產權的模塊化混合架構與高速數據總線設計，兼具高精度、高靈活性與強大擴展能力。該平臺可按需配置高精度SMU與低漏電矩陣模塊，支持多通道并行測試，在單臺臺式設備中即可覆蓋從單器件到大規模陣列的自動化電性參數表征，大幅提升測試效率并加速系統驗證進程。

高精度表征，揭示器件細微特性

FS800搭載自研高精度SMU模塊FS810，具備寬量程、fA級電流分辨率與精度，能夠在廣泛的工作條件下精準捕捉二維材料與憶阻器的細微電流電壓特性;同時，配合快速波形發生與測量套件，系統采樣速率可擴展至100 MS/s、最小脈寬縮短至130 ns，可高效支持憶阻器阻變過程及神經突觸器件在脈沖刺激下的高速電導演化的實時捕捉，從多維度實現類腦學習行為與器件可靠性的高精度特性表征與驗證。

智能化數據管理與分析，加速科研成果轉化

FS800搭載的LabExpress測試軟件提供直觀的圖形化界面與豐富的測試算法庫，廣泛覆蓋憶阻器與神經網絡架構等前沿研究中的動態參數、靜態參數和可靠性驗證等應用場景，用戶不僅無需編程即可高效完成各類測試任務，還可通過內置腳本編程平臺靈活定制復雜測試應用與批量任務，滿足個性化實驗需求，同時配合實時可視化、統計分析和高效導出功能，大幅提升科研過程中的數據管理效率與分析深度，加速從材料探索到器件應用的完整研發閉環。

此次中標不僅是南京大學對概倫電子產品性能與技術實力的高度認可，更是概倫電子以自主創新的量測解決方案助力半導體前沿研究的重要里程碑。未來，概倫電子將持續以前沿科研和產業需求為導向，堅持量測技術創新，為南京大學及更多科研機構提供更精準、高效的測試解決方案，攜手突破技術創新邊界，加速前沿應用落地，共同推進半導體行業邁向新的發展階段。