干貨來了

1.1測試用到的儀器：電流表與電壓表

1820年，奧斯特意外地發現載流導線的電流會作用于磁針，使磁針改變方向。后人在此基礎上發明了電流計，即利用電磁力矩使指針轉動一定力度，F = I * B * L * sinα。在保證磁場強度與導體長度不變的情況下，僅僅改變電流I的大小，就可形成與電流成正比的力矩。

上面的電流計靈敏度高，只能測量微弱的小電流，無法實際應用。接下來，我們通過搭配電阻，構造實際的電流表與電壓表。

假設電流計的內阻為r

如上圖電路圖中：Im = I + U/R = I + I * r / R 即為所測電流

如上圖電路圖中：Vm = I * (R + r) 即為所測電壓

我們已經了解到電流表與電壓表的原理，那么接下來就可以進行測試了

1.2 測試基礎器件：電阻，二極管

如果測量某一點的電流，則需要將該點斷開，再將電流表串聯進去，注意要區分正負極；

如果測量某兩點的電壓，則直接將電壓表并聯在這兩點。

首先對于電阻的阻值測試。

R = V / I

V為電壓表測試得電阻兩端的電壓，I為電流表測試得流經電阻的電流

依據歐姆定律，兩者相除可以計算出電阻的阻值

下來將我們所學到的二極管理論知識與實際相關聯

無論是哪種二極管，我們都可以區分P極或N極 ， 一般可用萬用表二極管檔位測試。

萬用表的二極管、電阻、通斷檔位，是指FIMV，就是給驅動電流，測試電壓。一般我們測試模擬器件，都是給電流、測電壓（FIMV），給電壓、測電流（FVMI）。

先將二極管打到二極管檔位，紅/黑表筆接二極管管腳。

萬用表顯示有值（一般不大于1.2V），則此刻紅表筆接的為P極、黑表筆接的為N極；

萬用表顯示OL，則此刻紅表筆接的為N極、黑表筆接的為P極；

對于一些集成電路芯片，內部都集成有ESD保護二極管，這就成了測試芯片開短路的方法。

對于一般二極管，主要有三項參數VF、VBR、IR，之前也有提到過。

其中VF與VBR是分別給二極管正向與反向1mA的電流，測量此時二極管兩端的電壓，這里需要提前估摸電壓值匹配電阻，避免因電流過大而燒毀器件。

IR是給二級管施加反向電壓，電壓值一般取VRWM，測量此時的漏電流。

一個真實的案例是測試WK7KB0的Vz值，根據規格書電參，Vz@5mA = 7.13~7.88V。

依據目標值7.5V，搭配1KΩ電阻，計算出供電電壓，然后模擬出來的一種測試方法。

而在實際測試中，因目標值可能發生漂移或線纜的阻值，而使得測試不準確。所以，將萬用表串聯在電路中，檢測電流值，調整供電電壓，使得電流值固定在5mA。

1.3 測試基礎器件：三極管，MOS管

1.3.1 三極管的測試：基于DataSheet

OS測試：不管是PNP還是NPN，總是能測出來兩個二極管的正向壓降

BVCEO…：PN結的反向電壓，這里不知道是不是我的問題，有興趣的朋友同學可以試著仿真一下

ICBO…：PN結的反向漏電流，可能我給的電壓太小了，或者是因為剩余的一個腳Floating？

hEF：電流的放大倍數

hEF1 = 149/0.66

≈226

（Ie = 150mA\Vce = 10V）

hEF2 = 99.6/0.363

≈274

（Ie = 0.1mA\Vce = 10V）

VCES…這個就不解釋了啊，我忘記了，哈哈哈！

1.3.2 MOS管的測試：基于DataSheet

BVDSS：漏極與源極的擊穿電壓

測試時將Gate與Source短路接地，使器件處于關斷狀態，并在Drain與Source之間施加一個特定電流，測量此時的漏源電壓。

IDSS：截止狀態下的漏源泄露電流

測試時將Gate與Source短路接地，使器件處于關斷狀態，并在漏極與源極之間施加一個特定電壓（通常略低于BVDSS），測量此時的漏源電流。

IGSS：柵源之間的漏電流

測試時將Drain與Source短路接地，并在Gate與Source之間施加一個特定電壓，測量此時柵源之間的漏電流。

Vth：開啟閾值電壓

測試時將Drain與Gate短路，并在其與源極之間施加一個特定電流，測量此時漏源之間的電壓。

RDSON：=Vds/Id（導通狀態下漏源之間的導通電阻）

測試時在Gate與Source之間施加一個大于Vth的電壓以保證器件開啟，然后在Drain與Source之間施加一個規定電流，測量此時漏源之間的電壓。

RDSON=Vds/Id = 0.578 / 0.5 = 1.156 Ω

VFSD：寄生二極管的正向壓降

測試時將Gate與Source短路，在Source與Drain之間施加一個規定電流，測量此時源漏之間的電壓。如下圖中有個小錯誤，就是我把Gate懸空了。如果測試的話要將G/S短接起來，防止寄生電容誤開啟MOS，MOS管真實應用中也應該避免將G懸空。

如下為用Multisim仿真數值與DataSheet參數對比，結果Pass

好了，就先到這了吧！

以上內容都有仿真+實測過，大家有什么問題可以給我發私信！

還沒想好下次寫什么，有想了解的半導體測試知識，可以聯系我。

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