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東芝推出兩項創新技術提升碳化硅功率器件性能

東芝半導體 ? 來源:東芝半導體 ? 2025-06-20 14:18 ? 次閱讀
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日本川崎——東芝電子元件及存儲裝置株式會社(簡稱“東芝”)研發了一項創新技術,該技術可在增強溝槽型碳化硅(SiC)MOSFET[2]的UIS耐用性[3]的同時,顯著降低其因導通電阻[1]而產生的損耗。同時,東芝還研發了半超結[4]肖特基勢壘二極管(SJ-SBD),有效解決了高溫下導通電阻增大的問題。這兩項技術突破有望顯著提升功率轉換器件的可靠性與效率,尤其在電動汽車和可再生能源系統等領域。

功率半導體為所有電氣設備供電并控制電力,對于節能和碳中和的實現至關重要。隨著汽車的電氣化和工業設備的微型化,預計對功率半導體的需求與日俱增。SiC MOSFET尤其如此。作為下一代器件,SiC MOSFET憑借其遠超傳統硅(Si)MOSFET的功率轉換效率,正獲得日益廣泛的關注。其中,溝槽型SiC MOSFET以其獨特的溝槽式柵極降低了導通電阻,SiC肖特基勢壘二極管(SBD)則憑借金屬半導體結實現了高效的功率轉換,它們均廣泛應用于電動汽車和可再生能源系統等高效功率轉換領域。然而,這些應用場景通常伴隨著高溫工作環境,對可靠性和效率提升構成了嚴峻的考驗。

溝槽型SiC MOSFET需要保護柵極氧化層免受高電場的影響。然而,由于電場保護結構[6]的UIS耐用性與接地電阻[5]之間的關系尚不明確,因此要同時實現高柵極氧化層可靠性與低導通電阻便極具挑戰。

此外,盡管SiC SBD能承受比傳統Si SBD更高的工作溫度,但需要面對高溫下電阻增加進而造成導通電阻變大的問題。

東芝研發了兩項關鍵技術來解決這些問題。

1提高溝槽型SiC MOSFET的UIS耐用性的技術

東芝研究發現,通過在溝槽型SiC MOSFET的溝槽中構建保護層(圖1),并適當降低底部p阱的接地電阻,可提高UIS耐用性。這一發現明確了以往不確定的UIS耐用性與電場保護結構接地電阻之間的關系。與傳統的平面型SiC MOSFET相比,東芝制作的溝槽型SiC MOSFET原型將導通電阻降低了約20%(圖2)。

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圖1. 溝槽型SiC MOSFET結構及底部p阱位置

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圖2. 傳統平面型SiC MOSFET與溝槽型SiC MOSFET的導通電阻比較(東芝測試結果)

2SiC SJ-SBD特性的改進

此外,東芝還研發了SiC SJ-SBD,通過在漂移層中置入基極[7]來抑制高溫下電阻的增加(圖3(b))。通過比較傳統的SiC SBD(圖3(a))和SiC SJ-SBD在不同溫度下的導通電阻變化[8],東芝證實了SiC SJ-SBD在高溫下具有更低的導通電阻(圖4)。這是由于超級結(SJ)結構實現了平坦的電場分布并降低了導通電阻。與傳統的SiC SBD相比,東芝研發的650V SiC SJ-SBD在175℃(448.15K)高溫下將導通電阻降低了約35%。

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圖3. 傳統SiC SBD與SiC SJ-SBD的結構

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圖4. 傳統SiC SBD與SiC SJ-SBD 導通電阻與溫度依賴性比較(東芝測試結果)

這兩項技術進一步降低了溝槽型SiC MOSFET和SiC SBD的損耗,提高了未來用于高效功率轉換應用的器件的可靠性和效率,尤其是在電動汽車和可再生能源系統等領域。東芝將致力于進一步優化這些技術并加速其產業化進程。

在6月1日至5日于日本熊本舉行的第37屆國際功率半導體器件與IC研討會(ISPSD 2025 ISPSD)上,東芝介紹了這些新技術的詳細信息。此項成就基于新能源產業技術綜合開發機構(NEDO)的項目補貼而取得。

[1] 導通電阻是MOSFET工作時(導通)漏極與源極之間的電阻值。

[2] MOSFET:金屬氧化物半導體場效應晶體管,這是一種具有三個電極的開關元件:柵極、漏極和源極。通過向柵極施加電壓,它在漏極與源極之間切換導通和關斷電流

[3] UIS(非鉗位感性開關)耐用性:功率器件承受開關過程中由感性負載引起的能量浪涌的能力。UIS耐用性越高,在惡劣工作條件下的耐久性和可靠性越高。

[4] 超級結(SJ):一種在漂移層中交替形成p型基極和n型基極的結構。

[5] 接地電阻:從底部p阱結構延伸至源極金屬的總電阻。

[6] 電場保護結構:溝槽型MOSFET中的一種結構特征,旨在減輕器件處于關斷狀態(即不導電)時對柵極氧化層的影響,有助于提高高壓條件下柵極氧化層的可靠性。

[7] 基極:在漂移層內形成的摻雜半導體材料的基極區域。在SJ-SBD中,p型和n型基極交替排列以構建超級結結構。

[8] SBD的導通電阻:根據電流-電壓(I-V)曲線的斜率計算得出,并減去SiC襯底的電阻值。

關于東芝電子元件及存儲裝置株式會社

東芝電子元件及存儲裝置株式會社是先進的半導體和存儲解決方案的領先供應商,公司累積了半個多世紀的經驗和創新,為客戶和合作伙伴提供分立半導體、系統LSI和HDD領域的杰出解決方案。

東芝電子元件及存儲裝置株式會社十分注重與客戶的密切協作,旨在促進價值共創,共同開拓新市場,期待為世界各地的人們建設更美好的未來并做出貢獻。

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原文標題:東芝研發出可降低溝槽型SiC MOSFET和半超結肖特基勢壘二極管損耗的新技術

文章出處:【微信號:toshiba_semicon,微信公眾號:東芝半導體】歡迎添加關注!文章轉載請注明出處。

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