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東芝第3代SiC MOSFET助于降低應(yīng)用中電源損耗分享個(gè)人觀點(diǎn)

jf_03031258 ? 來源:jf_03031258 ? 作者:jf_03031258 ? 2025-05-16 15:41 ? 次閱讀
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功率器件是管理和降低各種電子設(shè)備電能功耗以及實(shí)現(xiàn)碳中和社會(huì)的重要元器件。由于與比硅材料相比,碳化硅具有更高的電壓和更低的損耗,因此碳化硅(SiC)被廣泛視為下一代功率器件的材料。雖然碳化硅功率器件目前主要用于列車逆變器,但其具有極為廣泛的應(yīng)用前景,包括車輛電氣化和工業(yè)設(shè)備小型化。然而,可靠性問題一直制約著SiC器件的普及和市場(chǎng)發(fā)展。 因此,

東芝第3代SiC MOSFET具有以下特點(diǎn)。 內(nèi)置肖特基勢(shì)壘二極管(SBD)降低正向電壓VDSF,抑制導(dǎo)通電阻RDS(ON)波動(dòng) 降低代表導(dǎo)通損耗與開關(guān)損耗之間關(guān)系的性能指標(biāo)RDS(ON)×Qgd 寬柵源額定電壓VGSS范圍 東芝第3代SiC MOSFET推出電壓分別為650V和1200V的兩款系列產(chǎn)品,可降低服務(wù)器、不間斷電源(UPS)、光伏逆變器等各種應(yīng)用的電源損耗。 東芝第3代SiC
東芝第3代SiC MOSFET具有以下特點(diǎn)。 內(nèi)置肖特基勢(shì)壘二極管(SBD)降低正向電壓VDSF,抑制導(dǎo)通電阻RDS(ON)波動(dòng) 降低代表導(dǎo)通損耗與開關(guān)損耗之間關(guān)系的性能指標(biāo)RDS(ON)×Qgd 寬柵源額定電壓VGSS范圍 東芝第3代SiC MOSFET推出電壓分別為650V和1200V的兩款系列產(chǎn)品,可降低服務(wù)器、不間斷電源(UPS)、光伏逆變器等各種應(yīng)用的電源損耗。 東芝第3代SiC MOSFET具有以下特性。

第3代SiC MOSFET特性 1.內(nèi)置肖特基勢(shì)壘二極管 (SBD) 降低VDSF,抑制導(dǎo)通電阻RDS(ON)波動(dòng) 東芝第3代SiC MOSFET內(nèi)置與漏極和源極之間PN二極管并聯(lián)的肖特基勢(shì)壘二極管(SBD),可將反向?qū)ㄕ螂妷篤DSF降低至1.35V(典型值)。 SBD通電時(shí),我們可抑制因SiC晶體缺陷擴(kuò)散而引起的漏極和源極之間導(dǎo)通電阻RDS(ON) 的波動(dòng)。 當(dāng)從源極到漏極施加250A/cm2電流密度1000小時(shí)時(shí),在體二極管通電作用下,無內(nèi)置SBD的SiC MOSFET導(dǎo)通電阻RDS(ON)最大達(dá)42%。 然而內(nèi)置SBD的第3代SiC MOSFET,由于SBD可以通電,我們能夠?qū)?dǎo)通電阻RDS(ON) 的波動(dòng)抑制在最大3%。需要詳細(xì)了解,建議聯(lián)系技術(shù)支持王工以及查看數(shù)據(jù)手冊(cè)東芝王工V;wdylsq)確認(rèn)封裝尺寸和熱阻參數(shù),以確保與設(shè)計(jì)匹配。

審核編輯 黃宇

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