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首款3nm測試芯片成功流片 采用極紫外光刻(EUV)技術

cMdW_icsmart ? 來源:未知 ? 作者:鄧佳佳 ? 2018-03-19 15:08 ? 次閱讀
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日前,納米電子與數字技術研發創新中心 IMEC 與美國楷登電子( Cadence) 公司聯合宣布,得益于雙方的長期深入合作,業界首款 3nm 測試芯片成功流片。該項目采用極紫外光刻(EUV)技術,193 浸沒式(193i)光刻技術設計規則,以及 Cadence? Innovus? 設計實現系統和 Genus? 綜合解決方案,旨在實現更為先進的 3nm 芯片設計。IMEC 為測試芯片選擇了業界通用的 64-bit CPU,并采用定制 3nm 標準單元庫及 TRIM 金屬的流程,將繞線的中心間距縮短至 21nm。Cadence 與 IMEC 攜手助力 3nm 制程工藝流程的完整驗證,為新一代設計創新保駕護航。

Cadence Innovus 設計實現系統是大規模的并行物理實現系統,幫助工程師交付高質量設計,在滿足功耗、性能和面積(PPA)目標的同時縮短產品上市時間。Cadence Genus 綜合解決方案是新一代高容量 RTL 綜合及物理綜合引擎,滿足最新 FinFET 工藝的節點需求,并將 RTL 設計效率提高達 10 倍。項目期間,EUV 技術及 193i 光刻規則皆經過測試,以滿足所需分辨率;并在兩種不同的圖案化假設下比較了 PPA 目標。

“隨著芯片制程工藝深入到 3nm 節點,互連參數顯得愈加關鍵,“IMEC 半導體技術與系統事業部執行副總裁 An Steegan 表示?!蔽覀冊跍y試芯片上投入了大量精力,助力互連參數的可測量和優化,以及 3nm 制程工藝的驗證。同時,Cadence 數字解決方案也讓 3nm工藝的實現萬事俱備。Cadence 完美集成的工作流讓該解決方案的采納更加簡單,幫助我們的工程設計團隊在開發 3nm 規則集的時候保持高效?!?/p>

“IMEC 領先的基礎設施讓生產前創新領先于業界需求成為可能,是 EDA 行業的關鍵合作伙伴,“ Cadence 公司全球副總裁兼數字與簽核事業部總經理Chin-chi Teng博士表示?!拔覀兣c IMEC 的合作在 2015 年成功流片業界首款 5nm 芯片的基礎上繼續深化,此次3nm 測試芯片的成功流片標志著全新的里程碑,繼續引領未來先進節點移動設計領域的變革?!?/p>


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原文標題:業界首款3nm測試芯片成功流片

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