C-Q101-2021標準
在汽車行業(yè)中,電子器件的可靠性直接關系到車輛的性能和乘客的安全。隨著汽車電子化程度的不斷提高,對電子器件的質(zhì)量和可靠性要求也越來越高。AEC-Q101-2021標準應運而生,為汽車電子器件提供了一套全面的測試和驗證框架,確保這些器件能夠在惡劣的汽車環(huán)境中穩(wěn)定工作。
AEC-Q101-2021標準的核心目標
AEC-Q101-2021標準的核心目標是通過一系列嚴格的測試,確保電子器件能夠在汽車應用中承受高溫、高濕、振動、沖擊等極端條件。這些測試包括:
1. 高溫高濕應力測試(HAST):模擬高溫高濕環(huán)境下器件的耐久性。
2. 超高溫高濕應力測試(UHAST):在比HAST更嚴苛的條件下測試器件的穩(wěn)定性。
3. 加速條件下的電導性測試(AC):評估器件在加速老化條件下的電性能。
4. 高溫逆偏測試(H3TRB):測試器件在高溫和反向偏壓下的穩(wěn)定性。
實驗目的和條件

HAST和UHAST測試的目的是評定非密封電子器件在濕潤環(huán)境中的可靠性。這些測試通過在嚴苛的溫度、濕度和電壓偏置條件下進行,加速水分穿透封裝材料或沿著封裝材料與金屬導體界面的滲透過程,從而快速識別器件的潛在弱點。實驗條件模擬了“85/85”穩(wěn)態(tài)濕度壽命試驗(JESD22-A101)的失效機理,即在85oC/85%RH條件下進行至少1000小時的測試。
實驗設備和過程
實驗設備包括能夠連續(xù)保持規(guī)定的溫度和相對濕度或壓力的試驗箱,同時在規(guī)定的偏置下為被測器件提供電氣連接,并保存試驗周期的相關曲線記錄。
實驗過程中,根據(jù)器件的特性和測試要求,可能需要施加持續(xù)或循環(huán)的電壓偏置。(UHAST/AC無需加偏壓,HAST/H3TRB需要加偏壓,加偏壓分為持續(xù)加壓和循環(huán)加偏壓)
升降溫注意事項
在升降溫過程中,要確保設備的溫度始終在露點溫度之上,并避免在應力作用下使設備表面凝結(jié)。實驗完成后降至常溫的過程也要控制在一定時間內(nèi),以確保器件表面不會冷凝。金鑒實驗室嚴格遵循相關標準,確保每個實驗環(huán)節(jié)都符合規(guī)范。
功能檢查
試驗前后都要檢測外觀和電氣參數(shù),電氣測試應在恢復常溫后的48小時內(nèi)進行。對于試驗中間要檢查電氣參數(shù),應在恢復常溫后盡快測試。
結(jié)論
遵循AEC-Q101-2021標準的汽車制造商和電子器件供應商可以確信,他們選用的器件能夠滿足汽車行業(yè)的高標準要求。這有助于提升汽車電子系統(tǒng)的整體質(zhì)量和安全性,確保消費者在使用過程中的安全性和信任度。
-
電子器件
+關注
關注
2文章
625瀏覽量
33371 -
AEC
+關注
關注
0文章
369瀏覽量
15600 -
汽車
+關注
關注
15文章
4154瀏覽量
41096
發(fā)布評論請先 登錄
AEC-Q101汽車電子基于離散半導體元件應力測試認證的失效機理中文標準
滿足AEC-Q101標準的車載用1200V耐壓IGBT“RGS系列”
淺談AEC-Q101認證標準
白皮書:GaN FET 技術(shù)和 AEC-Q101 認證所需的穩(wěn)健性 – 中文(650 V GaN FET 技術(shù)可提供出色效率,以及 AEC-Q101 認證所需的耐久性)-nexperia_whitepaper_...
白皮書:GaN FET 技術(shù)和 AEC-Q101 認證所需的穩(wěn)健性-nexperia_whitepaper_...
什么是AEC-Q101認證?——華碧實驗室
功率器件AEC-Q101如何選擇測試項目?認證準備及流程有哪些?
AEC-Q101的認證對象和測試項目
AEC-Q101 標準之TC解讀
AEC Q101——HAST試驗介紹
安建半導體40V SGT MOSFET產(chǎn)品已經(jīng)通過AEC-Q101車規(guī)全部測試
MOSFET符合AEC-Q101標準 采用小型有引腳和無引腳DFN的SMD封裝
AEC-Q101——HAST試驗介紹
評論