主要技術指標
4個元件測試夾具（被測件尺寸：0.5 mm至20 mm）
獨立選擇2個通道的參數
直接讀取介電常數、導磁率（選件）
2個材料夾具（工作溫度：-55至+200攝氏度）
多功能分析（溫度、科爾-科爾圖表、松弛時間）
掃描參數（頻率、交流電平、直流偏置、溫度）

描述
Agilent 4291B射頻阻抗/材料分析儀是針對表面封裝元器件和介電/磁性材料的高精度測量的完整解決方案。與反射測量技術不同，Agilent 4291B使用直接的電流－電壓測量技術，可在廣泛的阻抗范圍內提供更的阻抗測量結果。

基本阻抗精度是+/- 0.8%。高Q精度有利于進行低損耗元器件分析。內置合成器掃頻范圍從1 MHz到1.8 GHz，具有1 MHz的分辨率。1.8米長的精密電纜可將分析儀連接到測試站，以便您將測試點延伸到分析儀之外，而不會影響測量精度。先進的矩陣和錯誤補償功能消除了夾具的測量錯誤，確保DUT/MUT的高精度和可重復性。

Agilent 4291B還提供自動電平精度控制和用IBASIC程序功能監視測試信號；可在恒壓或恒流下測量器件。用可選的直流偏置(達40V和100mA)使測量偏置獨立于阻抗特性。只要按一個按鈕，內裝的等效電路分析功能就自動計算5種電路模型的電路常數值。

Agilent 4291B有2個測量通道；每一個通道都可設置為測量1個(即Z)或2個(即Z-theta)阻抗參數。具有分割顯示的彩色TFT可顯示有效示蹤和存儲器示蹤(保存在RAM中)。內部軟盤驅動器以LIF或MS-DOS格式保存程序和測試數據。有了內裝IBASIC，您就能從Agilent 4291B直接控制恒溫箱或園片探測器這類外部測試設備，而不需要單獨的儀器控制器。

審核編輯 黃宇