為了更好服務車規客戶，上海季豐電子股份有限公司（以下簡稱“季豐電子”）與上海孤波科技有限公司（以下簡稱“孤波科技”）宣布在車規芯片量產測試及可靠性的大數據應用方面建立戰略合作。

本次合作旨在結合季豐電子在車規級量產測試及可靠性方面的專業能力，以及孤波科技在半導體大數據分析方面的創新實力，共同幫助國內設計公司提升芯片質量。

車規芯片的量產測試中0DPPM要求需要通過嚴格的CP/FT flow(三溫測試，SLT，Burn-in)以及相關的測試篩選方法來保證實現的。

季豐測試廠推薦執行的車規CP Flow 如下：

季豐測試廠推薦執行的車規FT Flow 如下：

實際上，在AEC-Q標準體系中，對PAT（Part Average Testing）方法和SBA/SYA（Statistical Bin Yield Analysis）方法都做了詳細定義。PAT和SBA/SYA方法并不是使用自動化測試機臺進行的篩選流程，而是基于統計學原理對已完成的測試結果進行的篩選，量產大數據系統是必要的選擇。

季豐電子和孤波科技合作以后，量產系統除了完成基本的PAT和SBA/SYA管控之外，還具有了以下能力：

芯片數據追溯

根據芯片ECID或者OTP中的XY坐標，追溯芯片在CP、FT，SLT等各站點數據，對RMA以及良率分析提供幫助， 例如filter out出某測試項目低良，對其Map重組，提交foundry分析并進行良率提升。

Tester/LB/Probe card以及lot本身的相關良率問題快速確定

根據歷史lot數據，對tester/LB/Probe card 可以進行by site的良率和distribution分析，快速確定硬件問題、setup問題或者lot本身問題，給design house的PE快速處理低良lot提供幫助。

CP測試后重新分Bin

根據RMA分析結果改變收緊某些測試項目limit，或者根據多個測試項目的結果進行計算，得出新的Map 用來release給下道工序。

測試良率模擬

CP/FT測試程序在決定調整測試項的limit時，利用歷史數據，快速模擬調整后的良率給項目組提供參考。

全自動異常發現系統

一個全自動化的離群值預防系統（Excursion Prevention System） ，它可以自動跟蹤產品在基線生產過程中的任何變化。算法規則包括DPAT, GOAT (Cluster, GDBN等), NIR等，針對CP測試，還可以根據質量管控設定的ink算法，產生車規CP量產需要的ink 后的Map。

Gubo OneData 典型應用場景

Drill Down的數據分析

利用FT/SLT數據重組Map

季豐電子將與孤波科技共同推進數據融合，利用季豐電子在量產測試及可靠性和失效分析方面的深厚經驗，結合孤波科技在半導體大數據管理平臺OneData的創新能力，共同打造更加精準和高效的分析平臺，為芯片公司車規芯片量產提供有力支持。

季豐電子執行副總裁倪衛華表示：“ 這次合作不僅是技術上的強強聯合，更是雙方在戰略上的共贏。我們相信，通過雙方的共同努力，將能夠為半導體設計公司的工程團隊提供更加完善和專業的解決方案，推動行業的持續發展。”

孤波科技CEO何為也表達了對合作的期待：“此次與季豐電子的合作，將使我們能夠更好地發揮自身在半導體測試和大數據分析的技術優勢，結合季豐電子的廣大客戶群體的實際需求，加速我們的產品創新和服務升級。”

季豐電子

季豐電子成立于2008年，是一家聚焦半導體領域，深耕集成電路檢測相關的軟硬件研發及技術服務的賦能型平臺科技公司。公司業務分為四大板塊，分別為基礎實驗室、軟硬件開發、測試封裝和儀器設備，可為芯片設計、晶圓制造、封裝測試、材料裝備等半導體產業鏈和新能源領域公司提供一站式的檢測分析解決方案。

季豐電子通過國家級專精特新“小巨人”、國家高新技術企業、上海市“科技小巨人”、上海市企業技術中心、研發機構、公共服務平臺等企業資質認定，通過了ISO9001、 ISO17025、CMA、CNAS等認證。公司員工近1000人，總部位于上海，在浙江、北京、深圳、成都等地設有分公司。