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AMEYA360:MOS管失效的六大原因

皇華ameya ? 來源:年輕是一場旅行 ? 作者:年輕是一場旅行 ? 2024-04-23 13:56 ? 次閱讀
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功率器件在近幾年的市場方面發(fā)展的非常火爆,尤其是 MOS 管,他主要應(yīng)用在電源適配器,電池管理系統(tǒng)以及逆變器電機控制系統(tǒng)中。

而隨著計算器主板,AI 顯卡,服務(wù)器等行業(yè)的爆發(fā),低壓功率 MOS 管將再次迎來爆發(fā)性的市場需求。

開關(guān)電源應(yīng)用領(lǐng)域,由于電源的 Controller 做的已經(jīng)非常完善,且大部分 Controller 為純硬件控制,廠家一般也會對布局布線和 MOS 的驅(qū)動做專門的優(yōu)化,因此在開關(guān)電源應(yīng)用中的 MOS 燒壞的情況比較少,大部分表現(xiàn)為過熱。

而在電池管理系統(tǒng),和電機控制系統(tǒng)以及逆變器系統(tǒng)中,MOS 管的燒壞概率就變得非常大,其原因在于,電池管理系統(tǒng)的保護瞬間電流突變,電機和逆變器系統(tǒng)中的 MOS 帶載都是非常大的感性負載,尤其是電機控制還面臨著制動帶來的反向電動勢,都對 MOS 管的工作電壓和電流提出了更大的挑戰(zhàn)。

今天我們趁熱打鐵,分析一下 MOS 管最常見的 6 個失效模式。

失效模式 雪崩失效雪崩失效指的就是過壓擊穿,也就是我們常常說的漏極和源極之間的電壓超過了 MOSFET 的額定電壓,并且達到了 MOSFET 耐受的極限,從而導(dǎo)致 MOSFET 失效。

SOA 失效SOA 失效指的是過流損壞,也就是說,電流超過了 MOSFET 的安全工作區(qū)引起的失效,一般是由于 Id 超過了器件規(guī)格測定的最大值,使得 MOSFET 的熱損耗過大,長期熱量累積而導(dǎo)致的失效。

靜電失效靜電失效比較好理解,幾乎任何電子元器件都面臨靜電問題,尤其是在北方干燥的冬天。要知道,MOS 管的一般靜電耐受是 500V,非常的脆弱,所以冬天我們在操作 MOS 管的時候還是盡量使用防靜電手環(huán)和鑷子。

柵極擊穿柵極擊穿指的是柵極遭受異常電壓導(dǎo)致柵極柵氧化層失效,一般我們驅(qū)動 MOS 管的 Vgs 設(shè)定在 12V,器件手冊中雖然標注了 Vth 一般在 2-5V,但是對于不同的 Vgs 會對應(yīng)不同的 Rdson,因此我們通常選用 12V 或者 15V 來保證 MOSFET 的完全開啟。而這個電壓并不能像 MOS 的 Vds 一樣具備很高的耐電壓能力,Vgs 一般會被限制在 20V 以內(nèi),超過 20V 將有可能擊穿柵極。

柵極擊穿后,一般使用萬用表可以測量出來,GS 之間短路,而 DS 之間正常成高阻態(tài)。

諧振失效無論是電池管理系統(tǒng),還是逆變器和電機控制領(lǐng)域,我們通常會使用 MOS 的多并聯(lián)設(shè)計,由于 MOSFET 本身參數(shù)的不一致性會導(dǎo)致每個 MOSFET 的柵極及電路寄生參數(shù)不同,在一同開關(guān)的時候,由于開通的先后順序問題引起開關(guān)震蕩,進一步損壞MOSFET,因此在并聯(lián)使用的時候一定要注意布局布線,以及 MOS 的Vth 選擇和供應(yīng)鏈管理,這一點我將專門另一起篇文章討論。

二極管失效在電機控制,橋式整流和 LLC 等控制系統(tǒng)中,我們需要利用 MOSFET 的體二極管進行續(xù)流,一般情況下體二極管的反向恢復(fù)時間會比較慢,因此容易出現(xiàn)過功率而導(dǎo)致體二極管失效。因此一般控制頻率比較高的系統(tǒng)中,我們需要在 MOSFET 外面并聯(lián)一個快恢復(fù)二極管或者肖特基。下面,我們就過壓擊穿和過流燒毀再詳細分析一下它的失效過程和預(yù)防措施

雪崩失效及其預(yù)防

簡單來說,MOSFET 在電源板上由于母線電壓,變壓器反射電壓,電機的反向電動勢,漏感尖峰電壓等等系統(tǒng)中的高壓交疊之后,都將疊加在 MOSFET 的漏源極之間。MOSFET 的手冊中一般會包含單面沖雪崩能量 Eas、重復(fù)脈沖雪崩能量 Ear 和單次脈沖雪崩電流 Ias 等參數(shù),這些參數(shù)反映了該功率 MOSFET 的雪崩能力。

wKgaomYnTYqAT_REAACpZ0wy41Y920.png

?其實在實際的 MOSFET 中還存在著一個寄生的三極管,就像漏源極之間的續(xù)流二極管一樣,可以看下面的內(nèi)部示意圖和對應(yīng)的等效電路圖:

wKgZomYnTYuATNR-AAEoC1C5_BY774.png

我們可以看到,這個寄生的 BJT 是直接并聯(lián)在 MOSFET 上面的,因此,當 MOSFET 漏極存在一個大電流 Id 和高壓 Vd 時,器件內(nèi)部的電離作用加劇,出現(xiàn)大量的空穴電流,這些電流流過 Rb 電阻進入源極就導(dǎo)致了寄生三極管的基極電勢升高,也就是 Vb 會升高,那么寄生三極管就會導(dǎo)通,從而發(fā)生雪崩擊穿,所以,其內(nèi)部是由于過壓產(chǎn)生了電流流入了寄生三極管,三極管導(dǎo)通了,就等于 MOSFET 也導(dǎo)通了。

預(yù)防的措施:雪崩失效歸根結(jié)底是電壓失效,因此預(yù)防我們著重從電壓來考慮。具體可以參考以下的方式來處理。1:合理降額使用,目前行業(yè)內(nèi)的降額一般選取80%-95%的降額,具體情況根據(jù)企業(yè)的保修條款及電路關(guān)注點進行選取。2:合理的變壓器反射電壓。3:合理的RCD及TVS吸收電路設(shè)計。4:大電流布線盡量采用粗、短的布局結(jié)構(gòu),盡量減少布線寄生電感。5:選擇合理的柵極電阻Rg。6:在大功率電源中,可以根據(jù)需要適當?shù)募尤隦C減震或齊納二極管進行吸收。

SOA失效機器預(yù)防SOA失效是指電源在運行時異常的大電流和電壓同時疊加在MOSFET上面,造成瞬時局部發(fā)熱而導(dǎo)致的破壞模式。或者是芯片與散熱器及封裝不能及時達到熱平衡導(dǎo)致熱積累,持續(xù)的發(fā)熱使溫度超過氧化層限制而導(dǎo)致的熱擊穿模式。關(guān)于SOA各個線的參數(shù)限定值可以參考下面圖片,每個 MOSFET 的數(shù)據(jù)手冊里面都有。

下面我們分析下圖中標注的 5 個區(qū)域的含義

wKgaomYnTYyAbPBeAAFmeW0_HRs873.png

這個地方主要限制最大的額定電流和脈沖電流,因為此刻的橫軸顯示電壓很低,那么更多的是大電流導(dǎo)致的 SOA 失效。

在 2 的區(qū)域內(nèi)屬于電流電壓都安全的區(qū)域,但是也要看器件的結(jié)溫(取決于 Rdson 大小),如果結(jié)溫超過了 150 度,也會導(dǎo)致 SOA 失效。

在 3 號區(qū)域內(nèi),我們可以看到根據(jù)不同的時間被擴展了三次,分別對應(yīng)著 10ms,1ms 和 100us,這里主要看器件的耗散功率,本質(zhì)上是能夠承受住 10ms 的最大電流值。

在 4 號區(qū)域,這是一個電流值封頂?shù)膮^(qū)域,這里指的就是脈沖電流的最大值的限制,超過了就會導(dǎo)致 SOA 失效。

在 5 號區(qū)域,這是一個電壓的封頂區(qū)域,這里主要限制 Vds 上的電壓。

我們電路中的MOSFET,只要保證能器件處于上面限制區(qū)的范圍內(nèi)(2 和 3),就能有效的規(guī)避由于MOSFET而導(dǎo)致的電源失效問題的產(chǎn)生。預(yù)防措施:

確保在最差條件下,MOSFET的所有功率限制條件均在SOA限制線以內(nèi)。

將OCP功能一定要做精確細致。在進行OCP點設(shè)計時,一般可能會取1.1-1.5倍電流余量,然后就根據(jù)IC的保護電壓比如0.7V開始調(diào)試RSENSE電阻。另外有些MOSDriver 還集成了過流保護功能,也可以嘗試,就是貴。

合理的熱設(shè)計冗余也是非常必要的,對于額定電流和最大電流工作時間的可靠性測試必不可少,記得疊加上工作環(huán)境溫度。

審核編輯 黃宇

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