在技術日新月異的時代，芯片作為科技發展的核心，其性能和可靠性至關重要。作為芯片測試領域的領軍企業，是德科技以其深入的專業知識和前沿的技術創新，引領著測試行業的發展。我們不僅在芯片設計階段提供精準的建模仿真，還在晶圓級電特性測試和封裝后的功能性測試方面，提供了全方位、高效的解決方案，確保每一顆芯片都能在最嚴苛的條件下表現出色。

圖：集成電路設計與測試生命周期

2023年11月，第二十九屆中國集成電路設計業年會暨廣州集成電路創新發展高峰論壇（ICCAD）如期舉行，是德科技榮幸地成為了這一盛會的參與者。我們不僅展示了自家最新的測試技術，還與行業內的專家和同行共同探討了芯片測試領域的未來趨勢和挑戰。

在展會上，是德科技特別展出了

以下專為數字芯片測試的

創新平臺與方案

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圖：是德科技數字芯片測試框圖

本次展示的高性能平臺包括

UXR0334B示波器：

這款屬于UXR-B系列的示波器，專為發射機Tx測試而設計，提供了眼圖分析和抖動測試等高級功能，確保傳輸信號的質量和穩定性。

圖：UXR-B系列示波器

M8040A誤碼儀：

作為接收機Rx測試的理想選擇，M8040A能夠產生帶壓力的電激勵信號，全面評估接收機的性能以及在不同的信噪比情況下的表現。

圖：M8040A誤碼儀

N5245B網絡儀：

這款PNA-X系列的網絡儀，專門用于評估傳輸通道和鏈路的性能，包括S參數的精確測試，確保信號傳輸的高效和準確。

圖：PNA-X系列網絡儀

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我們深知，技術的進步離不開每一位客戶和合作伙伴的支持與信任。因此，是德科技特別準備了豐富的技術資料和年終抽獎活動，以表達我們的感激之情。是德科技，不只是您的芯片測試專家，更是您在科技探索路上的堅實伙伴。讓我們攜手并進，共同開啟芯片測試的新篇章，共創美好未來！

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