泰凌的產測工具默認提供了多個產測固件，比如測試射頻RF，測試低功耗電流，這些都屬于前置測試，即測試PCBA硬件是否存在異常。如果PCBA板子有sensor之類的傳感器，是否可以檢測硬件異常呢？這是可以實現的。泰凌的產測系統的實現機制是：先生成一個RAM版本的產測固件，然后通過芯片的燒錄口把RAM版本的產測固件加載到DUT待測設備芯片的RAM中，讓產測固件執行相關指令，就可以達到測試的目的。本文就以TLSR8208 SoC檢測震動傳感器為例介紹產測固件的生成和使用方法。

另外，客戶對產品的各種功能進行的量產測試，我們稱之為功能測試，以便和前置測試區分。這些功能測試，受限與RAM空間和客戶需求不同，只能客戶自行實現。

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如何生成產測固件

1、下載產測固件的工程

因為產測固件需要在RAM運行，有兩點要求，一是啟動文件是ram啟動的，二是固件本身要足夠小，必須小于8K，加載到RAM中才能運行。泰凌已經提供了生成RAM固件的demo工程，就是driver sdk中的dut_demo例程。在泰凌wiki網站下載driver sdk，如下圖所示的V1.5.1版本，此driver sdk包含了B80, B85和B87三個系列芯片的driver demo：

http://wiki.telink-semi.cn/wiki/chip-series/TLSR825x-Series/

2、Dut_Demo說明

此Demo例程的具體代碼并不復雜，請客戶自行理解。此處只說一些關鍵點，如下圖截取的代碼：

• dut_cmd_func結構體數組，一個結構體成員是cmd id，新增了DUTCMD_SENSOR_TEST，定義是0x69，后面腳本文件test.tls中會用到此cmd id。另一個結構體成員就是函數指針，新增的vibration_sensor_test就是一個函數指針，在這個函數內實現震動傳感器的檢測。

• tl_test_cmd_pkt_t_another *g_test_cmd_ptr 是一個指向RAM地址（0x840004地址）的指針。此RAM區域被定義為了量產夾具（JIG EVK）和DUT測試芯片之間通信的buffer，量產的JIG evk可以通過下發指令和參數，也可以讀取產測的結果。比如結構體成員param[2]，是用來做輸入參數（可選的），比如設定檢測的震動次數，在腳本文件test.tls中有使用到。結構體成員resp[3]就是檢測結果的返回值。

3、檢測振動傳感器的代碼

檢測震動傳感器的機制是：使用Timer定時器，來捕獲GPIO的脈沖輸入個數。在規定的時間內，檢測到脈沖數大于設定的個數（10次）則傳感器正常，否則硬件異常。具體代碼如下圖所示。

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如何使用產測固件

1、修改腳本文件test.tls

• 編譯driver sdk中的 DUT_DEMO，生成的bin重命名為：dut_b80_sensor_v0001.bin，然后copy到已經配置過測試項的Evkmonitor/platform/default目錄下：

• 修改腳本文件test.tls腳本，新增下面的指令

說明1：fast_load指令是把產測固件加載到RAM中的，所以輸入參數的名稱務必與第（1）步中產測固件的名稱相同，否則加載錯誤。

說明2：因為 "dut_b80_sensor_v0001.bin"是用戶自定義的測試bin文件，所以在fast_load指令之前必須先設置config[12] = 0.如果后面要繼續使用泰凌提供的測試bin文件，如dut_8258_flash_v0005.bin，則必須重新設置config[12] = 1。

說明3：Dutcmd指令說明參考下圖，

• cmd id是0x69，對應程序中的DUTCMD_SENSOR_TEST宏定義

• Para0 = 10，對應程序中設定的震動次數

• Para1沒有用到，設為0

• 超時時間，設定為5s，也就是dutcmd指令的超時時間；必須大于程序里檢測震動的工作時間3s。

2、產測的使用

更改了test.tls腳本后，需要重新download到JIG EVK里面才能生效。打開Evkmonitor軟件進行在線測試，結果如下。

• 測試通過pass的顯示和測試log。

• 測試失敗的顯示和測試log

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