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DRAM的技術(shù)研發(fā)趨勢

jf_BPGiaoE5 ? 來源:半導(dǎo)體行業(yè)觀察 ? 2023-10-29 09:46 ? 次閱讀
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在2023年2月在國際學(xué)會(huì)ISSCC上,三星電子正是披露了公司研發(fā)的存儲(chǔ)容量為24Gbit的DDR5 DRAM的概要(下圖左)和硅芯片(下圖右)。就在學(xué)會(huì)上發(fā)布的DRAM而言,該DRAM容量堪稱最大。

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自DRAM的生產(chǎn)技術(shù)世代進(jìn)入10納米代際(及20納米代際以下)以來,已經(jīng)過去五年。在這五年里,DRAM技術(shù)、產(chǎn)品情況皆出現(xiàn)了明顯變化。雖然筆者一直在匯總一下DRAM的技術(shù)研發(fā)趨勢,但其定位卻發(fā)生了較大變化。本文中,筆者首先從2000年以來的DRAM技術(shù)開始回顧。

微縮化進(jìn)步的牽引力不再是DRAM

業(yè)界普遍認(rèn)為,在2000年之前,半導(dǎo)體生產(chǎn)技術(shù)的進(jìn)步皆由DRAM的微縮化引領(lǐng),甚至一度被譽(yù)為拉動(dòng)工藝技術(shù)進(jìn)步的“Process Driver(工藝牽引力)”。但是,進(jìn)入2000年,情況卻發(fā)生了變化。NAND閃存(當(dāng)時(shí)的平面型存儲(chǔ)半導(dǎo)體)的進(jìn)步極大了帶動(dòng)了生產(chǎn)技術(shù)的微縮化發(fā)展。NAND閃存成為了微縮化加工的“牽引力主角”。

線路技術(shù)國際學(xué)會(huì)ISSCC(IEEE International Solid-State Circuits Conference,每年二月在美國舊金山舉辦會(huì)議)是全球半導(dǎo)體業(yè)界最知名單位,近期公布了其試做芯片的研發(fā)成果。2009年一2011年的技術(shù)節(jié)點(diǎn)(最小加工尺寸)如下,DRAM為56nm一44nm,NAND閃存(Planer型)為32nm一21nm。

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DRAM和NAND閃存(僅Planer型)的技術(shù)節(jié)點(diǎn)(生產(chǎn)技術(shù)代際:2009年一2017年)。上圖為筆者總結(jié)的國際學(xué)會(huì)ISSCC公布的試做芯片數(shù)據(jù)。(圖片出自:pc.watch)

一度走在微縮化最前沿的NAND閃存在2015年達(dá)到極限,并放棄了加工尺寸的微縮化,改為3D堆疊。NAND閃存的微縮化幾乎不再進(jìn)步,2015年以后DRAM再次成為微縮化的主要驅(qū)動(dòng)。

邏輯半導(dǎo)體的“技術(shù)節(jié)點(diǎn)名”與實(shí)際尺寸背離

2000年以前,主要由DRAM驅(qū)動(dòng)整個(gè)半導(dǎo)體業(yè)界(存儲(chǔ)半導(dǎo)體和邏輯半導(dǎo)體)的微縮化發(fā)展;但2015年一2024年DRAM卻沒有引領(lǐng)邏輯半導(dǎo)體微縮化發(fā)展。理由有以下兩點(diǎn)。

其一,邏輯半導(dǎo)體晶體管的3D化。MOS FET結(jié)構(gòu)從平面型改為3D FinFET,因此門極長度(Gate Length,或者是“溝道長度”,一直是半導(dǎo)體微縮化的指標(biāo))的定義將不再有意義。取而代之的是“標(biāo)準(zhǔn)單元(Standard Cell,邏輯半導(dǎo)體的最小單位)”的“門極間距(Gate Pitch)”和最小線寬(嚴(yán)密來講,應(yīng)該是二者的積)。當(dāng)下最尖端邏輯半導(dǎo)體的“技術(shù)節(jié)點(diǎn)”5納米、7納米等數(shù)值,不過是一個(gè)標(biāo)簽符號,實(shí)際(硅芯片)是不存在的。

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2017年版的半導(dǎo)體技術(shù)藍(lán)圖(IRDS)。從上至下為邏輯半導(dǎo)體、NAND、DRAM、NAND閃存(技術(shù)代際為筆者推測)。可以看出,找不到邏輯半導(dǎo)體技術(shù)節(jié)點(diǎn)(紅框)對應(yīng)的尺寸。(圖片出自:pc.watch)

其二,邏輯半導(dǎo)體芯片·工藝技術(shù)與DRAM芯片·工藝技術(shù)的差異很大。在每一代邏輯半導(dǎo)體生產(chǎn)工藝中,晶體管的技術(shù)變化或大或小,如應(yīng)變硅(Strained Silicon)、HKMG(高介電率金屬門極)、FinFET、COAG(Contact Over Active Gate)等。此外,還已經(jīng)研發(fā)了銅(Cu)排線、低介電率的絕緣層膜等,并全面投入應(yīng)用于多層排線。

DRAM的技術(shù)節(jié)點(diǎn)反映了真實(shí)的物理尺寸

DRAM的技術(shù)節(jié)點(diǎn)名稱與實(shí)際尺寸接近,且不同于邏輯半導(dǎo)體。DRAM的技術(shù)節(jié)點(diǎn)名稱多以代碼來表示,如30納米代際為“D3z”、20納米代際為“D2x”。

依據(jù)代碼也不難推測出其技術(shù)節(jié)點(diǎn),如“D2x”約為28納米、“D2y”約為25納米、“D2z”約為22納米。雖然技術(shù)節(jié)點(diǎn)的代碼依DRAM廠家不同而不同,但差異不大。

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大型DRAM廠家的技術(shù)節(jié)點(diǎn)和設(shè)計(jì)規(guī)則(D/R)之間的關(guān)系。可以看出,大型DRAM廠家的技術(shù)節(jié)點(diǎn)名稱和實(shí)際設(shè)計(jì)規(guī)則之間存在差異。出自TechInsights公司(一家提供半導(dǎo)體芯片解析服務(wù)的企業(yè))于2023年8月在“閃存峰會(huì)”上公布的資料。(圖片出自:pc.watch)

技術(shù)節(jié)點(diǎn)相當(dāng)于尺寸的現(xiàn)象存在于存儲(chǔ)單元陣列(Memory Cell Array)的“活躍區(qū)(Active Region,或有源區(qū)、主動(dòng)區(qū))”。“活躍區(qū)”排列準(zhǔn)確,且間距(Pitch)的1/2(Half Pitch)即為技術(shù)節(jié)點(diǎn)名稱。換句話說,“D1x”代際(18納米代際、也被成為1Xnm)的DRAM硅芯片的單元晶體管以36nm間距排列。

從TechInsights公司于2018年12月的披露的數(shù)據(jù)來看,三家DRAM廠家的“D1x”代際(1Xnm、Half-pitch)的最小尺寸如下,三星電子為18納米、SK海力士為17.5納米、鎂光科技為19納米。三家差異不大。

DRAM芯片的基本架構(gòu)

接下來筆者將介紹DRAM芯片的基本架構(gòu)(Architecture)。在DRAM的制造工藝中,廠家會(huì)盡可能多地在硅晶圓上制作DRAM芯片。從硅晶圓上切出的一顆DRAM芯片通常分為“存儲(chǔ)單元陣列區(qū)域(通常由偶數(shù)個(gè)Sub-array構(gòu)成)”和“周邊線路區(qū)域(Peripheral)”

“存儲(chǔ)單元陣列”作為DRAM的存儲(chǔ)區(qū)域,理論上應(yīng)該是2維陣列形狀(Matrix)。就如同象棋棋盤或者奧賽羅(Othello)黑白棋的棋盤一樣,行和列的交叉點(diǎn)即為“存儲(chǔ)單元(Memory Cell)”,由“行的編號”和“列的編號”鎖定存儲(chǔ)單元的范圍。此處,行的編號為“行地址(Row Address)”、列的編號為“列地址(Column Address)”。

在存儲(chǔ)單元陣列區(qū)域,又分為“存儲(chǔ)單元”、“核(Core)”。存儲(chǔ)單元用于存儲(chǔ)信號,由一個(gè)晶體管(MOSFET)和一個(gè)電容(Capacitor,即Cell Capacitor)構(gòu)成。核(Core)內(nèi)線路如下,從存儲(chǔ)單元陣列中選擇所需存儲(chǔ)單元,并讀取、寫入數(shù)據(jù)。且配有“字線解碼器(Word Line Decoder,用于選擇單元晶體管的門極(字線))”、“位線解碼器(Bit Line Decoder,用于選擇源極(位線))”、用于放大數(shù)據(jù)讀取和寫入信號的“Sense Amplifier”、用于連接各部分的排線等。

周邊線路(Peripheral)由控制線路和輸出線路構(gòu)成。控制線路主要根據(jù)外部輸入的指令、地址,讓DRAM內(nèi)部工作。輸出/輸入線路負(fù)責(zé)數(shù)據(jù)的輸入(寫入)、輸出(讀取)。

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上圖為DRAM的基本架構(gòu)說明圖。左上角為硅晶圓照片(推測實(shí)際直徑尺寸為300mm)。左下角為DRAM的硅芯片照片。硅芯片中心左右兩側(cè)有周邊線路、輸出/輸入Pad點(diǎn)、行解碼器(Row Decoder),中央的上下部分有列解碼器(Column Decoder)。上圖右下角是存儲(chǔ)單元陣列(Sub-array)的基本結(jié)構(gòu)。紅色字線(WL)和黃色位線(WL)的交叉點(diǎn)上有一個(gè)存儲(chǔ)單元。字線的端部配與副字線驅(qū)動(dòng)(SWD)相連、位線的端部與讀出放大器(Sense Amplifier,簡稱為“SA”)相連。上圖右上角為各部分占硅芯片的比例。存儲(chǔ)單元占50一55%,核(解碼器、驅(qū)動(dòng)器、讀出放大器、相互連接部分)占25一30%,周邊線路(Peripheral,控制線路和輸出線路)占20%左右。在2018年的國際學(xué)會(huì)IEDM的技術(shù)講座上,三星電子公布了其相關(guān)資料,上圖出自其資料。(圖片出自:pc.watch)

通過將電荷儲(chǔ)存于電容,存儲(chǔ)理論值

DRAM的存儲(chǔ)單元由一個(gè)晶體管(簡稱為:“T”)和一個(gè)電容(簡稱為:“C”)構(gòu)成。在存儲(chǔ)半導(dǎo)體行業(yè),普遍稱之為“1T1C”。晶體管具有選擇開關(guān)的作用,因此也被稱為“選擇晶體管”。讀取/寫入動(dòng)作時(shí),字線解碼器和位線解碼器選擇的位線和字線的交叉點(diǎn)的“選擇晶體管”成為“ON”狀態(tài)。

存儲(chǔ)單元的電容(在性能上與作為電子零部件的電容類似)主要存儲(chǔ)電荷信號,也被稱為“單元電容”。當(dāng)電容存儲(chǔ)一定容量的電荷后,存儲(chǔ)單元的理論值為“高(或者1)”。相反,當(dāng)存儲(chǔ)的電荷不滿時(shí),存儲(chǔ)單元的理論值為“低(或者0)”。

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DRAM存儲(chǔ)單元的線路事例(左圖)、電子顯微鏡下觀測到的存儲(chǔ)單元斷面圖(右圖)。左側(cè)線路圖下,選擇晶體管(通常為n渠道MOSFET)的門極為字線(紅色:WL)、源極為位線(黃色:WL)。選擇晶體管的漏極(Drain)經(jīng)由單元電容與平板(Plate)電極相連。在右側(cè)的斷面圖中,紅色部分(WL)為選擇晶體管的門極(字線)、BLC為位線連接、SNC為存儲(chǔ)節(jié)點(diǎn)連接(Storage Node Connect)。SNC上方與電容(照片中的Cap部分)相連。SNC文字左側(cè)的黃色字“BL”為“位線”。(圖片出自:pc.watch)

DRAM存儲(chǔ)單元的基本動(dòng)作和Refresh

在將數(shù)據(jù)寫入DRAM時(shí),利用解碼器將指定位置的選擇晶體管改為“ON狀態(tài)”,同時(shí),將讀取的數(shù)據(jù)暫存于輸入緩存區(qū)(Buffer),然后,利用讀取放大器將數(shù)據(jù)轉(zhuǎn)為電流、為單元電容充電。

充電后,隨著電容的不斷放電以及時(shí)間的流逝,寫入的數(shù)據(jù)(電荷)會(huì)逐步消失。因此需要定期寫入數(shù)據(jù)的動(dòng)作。該動(dòng)作被稱為“Refresh”。2000年以前的DRAM而言,采用的是一個(gè)外接的存儲(chǔ)控制器在適當(dāng)?shù)臅r(shí)間點(diǎn)實(shí)施“Refresh”。最近,大部分產(chǎn)品采用的是在產(chǎn)品內(nèi)部實(shí)施“Refresh”。

讀取數(shù)據(jù)時(shí),把選擇晶體管改為“ON”狀態(tài),單元電容的電荷以電流的形式流向“位線”。位線的電流利用讀取放大器(S/A)以電壓的形式增壓,電壓信號經(jīng)由輸出緩存區(qū)向外輸出。

在讀取工作中,需要注意的是單元電容的電荷可能會(huì)因?yàn)樽x取工作而丟失。讀取放大器可以及時(shí)修復(fù)讀取的數(shù)據(jù)(即重新寫入)。

2000年后,DRAM存儲(chǔ)容量增長不明顯

2000年以前,尤其是上世紀(jì)70年代和80年代DRAM的存儲(chǔ)容量增長極其明顯。存儲(chǔ)半導(dǎo)體行業(yè)曾有“三年四倍”的說法,即存儲(chǔ)容量擴(kuò)大了四倍的新一代DRAM會(huì)在三年后量產(chǎn)。主流用戶雖然從20世紀(jì)70年代的Main-flame變成了80年代的Workstation和90年代的PC,但DRAM廠家并沒有辜負(fù)“三年四倍”的慣例。

從國際學(xué)會(huì)ISSCC(每年二月份召開)上公布的硅芯片的概要來看DRAM的研發(fā)情況,如下,最初為最大存儲(chǔ)容量,20世紀(jì)90年代初期,容量進(jìn)步速度遠(yuǎn)超“三年四倍(甚至為1年1.59倍)”。1990年為16Mbit,在1995年為1Gbit,即“五年64倍(1年2.3倍)”。

然而,1995年以后,存儲(chǔ)容量的增長就不再明顯。1999年之前,一直保持著1Gbit的最大容量。后來,又徘徊于256Mbit和512Mbit、1Gbit、2Gbit、4Gbit。但卻遲遲沒有進(jìn)入新一代的4Gbit。2014年和2016年公布了8Gbit的硅芯片,可以說終于從1Gbit進(jìn)步了1.5個(gè)代際。其實(shí),進(jìn)步速度為“20年8倍”(1年1.11倍),可以說是DRAM研發(fā)歷史上容量進(jìn)步最慢的一次。

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DRAM最大存儲(chǔ)容量(單個(gè)硅芯片)(1990年一2014年)。此圖為筆者匯總自國際學(xué)會(huì)ISSCC披露的數(shù)據(jù)。可以看出,1996年~2012年期間,容量進(jìn)步不明顯(年度擴(kuò)大率為1.11倍)。(圖片出自:pc.watch)

DRAM研發(fā)的“顛覆性轉(zhuǎn)換”

1995年~2014年期間的20年中,DRAM研發(fā)又發(fā)生了什么呢?粗略來講,研發(fā)方向發(fā)生了很大變化。甚至可以說是“顛覆性轉(zhuǎn)換(Paradigm Shift)”,即DRAM的研發(fā)方不再是擴(kuò)大容量,而是提升速度。

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DRAM數(shù)據(jù)傳輸速度(單個(gè)輸入/輸出Pin)的推移表(2000年一2012年)。筆者匯總自國際學(xué)會(huì)ISSCC披露的數(shù)據(jù)。上述三個(gè)系列的年度容量擴(kuò)大速度均超多1.11倍。(圖片出自:pc.watch)

為了提升存儲(chǔ)速度,采用“時(shí)鐘(Clock)同步”的方式控制動(dòng)作時(shí)間。最初,為了與傳統(tǒng)的DRAM(Clock-less式非同步DRAM)區(qū)分,稱之為“SDRAM(S:Synchronous)”。如今,大家看到“DRAM”一般就默認(rèn)為“同步式”(或者不去刻意區(qū)分同步還是非同步)。嚴(yán)格來講,DRAM(如DDR、LPDDR、GDDR等)應(yīng)該被記為“SDRAM”,因此在企業(yè)的產(chǎn)品目錄、學(xué)會(huì)論文中一般會(huì)記錄為“SDRAM”。

可以看出,SDRAM的新一代標(biāo)準(zhǔn)式樣是有意強(qiáng)調(diào)其速度之快而做成的。最初的SDRAM是以時(shí)鐘速度輸入/輸出速度的。此時(shí)的時(shí)鐘頻率為133MHz。新一代SDRAM可以以兩倍時(shí)鐘速度輸入/輸出數(shù)據(jù),即“DDR(Double Data Rate) SDRAM”。時(shí)鐘頻率高達(dá)200MHz,數(shù)據(jù)的輸入/輸出速度是時(shí)鐘的兩倍,即400MT/s的輸入/輸出Pin(此處T=Transfer,即傳輸次數(shù),即一次傳輸接收/發(fā)送1bit,bit/秒)。

近年來,每一代DDR系列SDRAM的數(shù)據(jù)輸入/輸出速度都較前一代提升兩倍。在國際學(xué)會(huì)ISSCC上公布的DDR系列SDRAM的數(shù)據(jù)傳輸速度如下,自2003年至2012年,9年內(nèi)提升到4.4倍,即1.18倍/年。

Graphics DRAM(顯存)也采用DDR,并積極提升傳輸速度,即G(Graphics)DDR、SGRAM(Synchronous Graphics RAM)。GDDR系列的SGRAM的傳輸速度正不斷攀升。國際學(xué)會(huì)ISSCC上披露的GDDR系列SGRAM的數(shù)據(jù)傳輸速度如下,2004年至2010年期間的六年內(nèi),增長至4.4倍,即1.28倍/年。

隨著智能手機(jī)的普及,開始研發(fā)低功耗版的SDRAM。最初被稱為“Mobile DRAM”,后來基于“LP(Low Power)DDR SDRAM”的名稱研發(fā)逐步步入正軌。2009年國際學(xué)會(huì)ISSCC上首次披露LPDDR系列的試做版硅芯片。當(dāng)時(shí)的Hynix 半導(dǎo)體公司研發(fā)的1Gbit芯片的數(shù)據(jù)傳輸速度為1.066Gbps/pin。即在2012年之前,LPDDR系列的數(shù)據(jù)傳輸速度提升至1.5倍(1.14倍/年)。

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DRAM研發(fā)方向出現(xiàn)“顛覆性轉(zhuǎn)變”(2000年一2014年)。1995年一2004年(或至2014年)期間的10年(或20年)內(nèi),發(fā)生了諸多變化。(圖片出自:pc.watch)

2000年以后的DRAM研發(fā)戰(zhàn)略方向主要如下,高速化(通過導(dǎo)入時(shí)鐘同步式的設(shè)計(jì))、依據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用方向進(jìn)行研發(fā)、依據(jù)應(yīng)用方向確定封裝(Packing 或Module)標(biāo)準(zhǔn)。NAND閃存是大容量的“主角”。2005年,在ISSCC上披露了NAND閃存存儲(chǔ)密度超過DRAM的信息。可以說,如今已經(jīng)步入了“NAND閃存容量大、DRAM速度高”的時(shí)代。







審核編輯:劉清

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原文標(biāo)題:DRAM,何去?何從?

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    全球存儲(chǔ)解決方案領(lǐng)域的領(lǐng)軍企業(yè)Kioxia Corporation今日宣布,已研發(fā)出具備高堆疊性的氧化物半導(dǎo)體溝道晶體管技術(shù),該技術(shù)將推動(dòng)高密度、低功耗3D DRAM的實(shí)際應(yīng)用。這項(xiàng)
    的頭像 發(fā)表于 12-16 16:40 ?1209次閱讀

    Neway微波產(chǎn)品:技術(shù)領(lǐng)航,創(chuàng)造卓越價(jià)值

    ,助客戶快速推出產(chǎn)品,提升競爭力。l 技術(shù)創(chuàng)新,滿足市場變化經(jīng)驗(yàn)豐富團(tuán)隊(duì)具備全流程能力,持續(xù)創(chuàng)新推出新產(chǎn)品。正在研發(fā)更高頻、低損耗產(chǎn)品,鞏固市場領(lǐng)先地位。Neway以技術(shù)優(yōu)勢緊跟趨勢
    發(fā)表于 12-04 09:17

    SRAM與DRAM的結(jié)構(gòu)差異和特性區(qū)別

    在內(nèi)存技術(shù)持續(xù)革新的今天,SRAM(靜態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)和DRAM(動(dòng)態(tài)隨機(jī)存取存儲(chǔ)器)依然是計(jì)算系統(tǒng)中最核心的存儲(chǔ)組件。盡管出現(xiàn)了MRAM、ReRAM等新興存儲(chǔ)方案,但二者憑借成熟的設(shè)計(jì)與明確
    的頭像 發(fā)表于 12-02 13:50 ?1264次閱讀

    DRAM和SRAM、SDRAM相比有什么特點(diǎn)?

    DRAM利用電容存儲(chǔ)數(shù)據(jù),由于電容存在漏電現(xiàn)象,必須通過周期性刷新來維持?jǐn)?shù)據(jù)。此外,DRAM采用行列地址復(fù)用設(shè)計(jì),提高了存儲(chǔ)密度,但增加了控制復(fù)雜性。它廣泛用于大容量、低成本存儲(chǔ)場景,如計(jì)算機(jī)內(nèi)存。
    的頭像 發(fā)表于 11-18 11:49 ?715次閱讀

    SSD為何需要DRAM緩存?天碩工業(yè)級SSD帶來深度解析!

    在當(dāng)今數(shù)字化轉(zhuǎn)型的浪潮中,工業(yè)存儲(chǔ)設(shè)備的選擇直接關(guān)系到整個(gè)系統(tǒng)的穩(wěn)定性和效率。天碩工業(yè)級SSD固態(tài)硬盤憑借其卓越的DRAM緩存技術(shù),在眾多應(yīng)用場景中展現(xiàn)出獨(dú)特優(yōu)勢。本文將采用問答形式,深入探討這一關(guān)鍵技術(shù)
    的頭像 發(fā)表于 10-20 17:59 ?874次閱讀
    SSD為何需要<b class='flag-5'>DRAM</b>緩存?天碩工業(yè)級SSD帶來深度解析!

    基于數(shù)據(jù)算法驅(qū)動(dòng)的配方研發(fā)新模式

    、實(shí)現(xiàn)自動(dòng)化優(yōu)化,顯著提升了研發(fā)效率、降低了成本,并推動(dòng)了產(chǎn)品創(chuàng)新。以下是該模式的核心框架、技術(shù)路徑、應(yīng)用場景及未來趨勢的詳細(xì)分析。 一、新模式的核心框架 數(shù)據(jù)算法驅(qū)動(dòng)的配方研發(fā)模式以
    的頭像 發(fā)表于 08-06 17:25 ?1158次閱讀

    奧托立夫武漢技術(shù)研發(fā)中心奠基

    2025年7月27日上午,奧托立夫在武漢臨空港智新產(chǎn)業(yè)園項(xiàng)目現(xiàn)場圓滿舉行新研發(fā)中心奠基典禮,新技術(shù)中心落地武漢,標(biāo)志奧托立夫持續(xù)加碼在華研發(fā),進(jìn)一步提高在中國的技術(shù)創(chuàng)新效率和速度。項(xiàng)目
    的頭像 發(fā)表于 07-31 17:53 ?1768次閱讀

    企業(yè)級SSD的核心技術(shù)與市場趨勢

    電子發(fā)燒友網(wǎng)綜合報(bào)道,企業(yè)級SSD由固態(tài)電子存儲(chǔ)芯片陣列制成,核心部件包括主控芯片、固件和存儲(chǔ)介質(zhì)(NAND Flash、DRAM),其中主控芯片和固件直接決定企業(yè)級SSD的性能和可靠性等產(chǎn)品表現(xiàn)
    的頭像 發(fā)表于 07-06 05:34 ?7151次閱讀
    企業(yè)級SSD的核心<b class='flag-5'>技術(shù)</b>與市場<b class='flag-5'>趨勢</b>

    利基DRAM市場趨勢

    特征表現(xiàn)為標(biāo)準(zhǔn)程度高、市場規(guī)模龐大、下游應(yīng)用集中、 周期性顯著且技術(shù)迭代迅速。相比之下,利基DRAM與主流產(chǎn)品相比性能要求不那么嚴(yán)格,依賴成熟工藝技術(shù)。盡管市場規(guī)模較小,但它在滿足汽車、通訊、工業(yè)應(yīng)用、醫(yī)療設(shè)備等行業(yè)的多樣化需求
    的頭像 發(fā)表于 06-07 00:01 ?4572次閱讀
    利基<b class='flag-5'>DRAM</b>市場<b class='flag-5'>趨勢</b>

    無鉛低溫錫膏激光焊接的研發(fā)現(xiàn)狀和市場趨勢

    近年來,隨著環(huán)保法規(guī)的日益嚴(yán)格以及電子設(shè)備向小型化、精密化發(fā)展的趨勢,傳統(tǒng)的含鉛焊料逐漸被無鉛焊料取代。在這一背景下,激光焊錫技術(shù)憑借其高效、精準(zhǔn)、環(huán)保的特點(diǎn),成為電子制造領(lǐng)域的重要發(fā)展方向之一。本文將重點(diǎn)探討無鉛低溫錫膏激光焊接的研發(fā)
    的頭像 發(fā)表于 05-15 13:55 ?1183次閱讀
    無鉛低溫錫膏激光焊接的<b class='flag-5'>研發(fā)</b>現(xiàn)狀和市場<b class='flag-5'>趨勢</b>

    HBM重構(gòu)DRAM市場格局,2025年首季DRAM市占排名

    一季度在AI服務(wù)器保持穩(wěn)健推動(dòng)對服務(wù)器DRAM需求,PC和移動(dòng)需求復(fù)蘇力度也較預(yù)期更為明顯,此外疊加關(guān)稅觸發(fā)的部分補(bǔ)庫存需求的共同影響下,2025年一季度整體表現(xiàn)優(yōu)于預(yù)期,全球DRAM市場規(guī)模同比
    的頭像 發(fā)表于 05-06 15:50 ?1453次閱讀
    HBM重構(gòu)<b class='flag-5'>DRAM</b>市場格局,2025年首季<b class='flag-5'>DRAM</b>市占排名