選擇合適的晶振測試儀主要取決于您的具體需求和測試環境。以下是一些考慮因素：

頻率范圍：根據需要測試的晶振頻率范圍，選擇能夠覆蓋該范圍的測試儀。

精度和分辨率：高精度和分辨率的測試儀可以提供更準確的測試結果。考慮您對測試結果的要求，選擇能夠滿足您需求的測試儀。

測試功能：不同的晶振測試儀可能提供不同的測試功能，例如阻抗測量、負載電容測量、PPM測量、Q值測量等。根據您的需求，選擇具有所需測試功能的測試儀。

操作便捷性：考慮儀器的操作界面、操作步驟以及報告生成等便捷性。一個易于使用的測試儀可以節省您的測試時間。

預算：根據您的預算，選擇適合您經濟狀況的晶振測試儀。

一、產品簡介

晶振測試儀GDS-80系列是高性價比的晶振測試系統，采用網絡分析技術，實現智能化測量，符合IEC-444標準。測量頻率范圍10KHz-200KHz,1MHz-200MHz，附USB接口進行數據通迅。

晶振測試儀GDS-80系列采用π型網絡零相位法實現串聯諧振頻率的測量，采用直接阻抗法來測試負載諧振頻率和負載電容，它測量精度高，速度快。具有串聯諧振頻率Fs、負載諧振頻率FL、串聯諧振電阻Rs、負載諧振電阻RL、負載電容CL、動態電容C1、動態電感L1、品質因數Q、靜電容C0、頻率牽引力Ts等參數測量功能，負載電容在1-100P范圍內任意編程設置，從滿足不同負載電容的晶振測試，智能網絡分析技術運算克服了市場上晶振測試設備使用實體電容法測試精度差，無法測試電參數的缺點、解除了手工校對的麻煩，讓晶振測試變得更輕松。

依據標準：

SJ/Z 9154.1-87/ IEC 444-1(1989)《用π型網絡零相位法測量石英晶體元件參數第一部分：用π型網絡零相位法測量石英晶體元件諧振頻率和諧振電阻的基本方法》；

SJ/Z 9154.2-87/ IEC 444-2(1980)《用π型網絡零相位法測量石英晶體元件參數第二部分測量石英晶體元件動態電容的相位偏置法》；

GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶體元件參數的測量第11部分：采用自動網絡分析技術和誤差校正確定負載諧振頻率和有效負載電容的標準方法》；

二、主要技術指標

中心頻率范圍： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意設定

掃描范圍：±1000ppm（默認±400ppm）

負載電容：1-100P任意設定

串聯諧振頻率Fs測量范圍：±1000ppm（默認±400ppm） 測量精度：±5ppm

串聯諧振電阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω（2±10%*R Ω）

10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）

負載電容CL測量范圍：1-200PF

時基誤差：±1ppm

負載諧振頻率FL測量精度：±5ppm+時基誤差+0.5Pf*頻率牽引力Ts

配件：插件式100歐π網絡測試座（標配），貼片式100歐π網絡測試座（選配），插件式表晶測試座（選配），貼片式表晶測試座（選配），2520/3225/5032/7050貼片晶振適配套件（選配），通信軟件（僅GDS-80P/S）。

審核編輯 黃宇