晶振，又名晶體振蕩器或者石英晶體振蕩器，主要用作電子產(chǎn)品內(nèi)部作為時(shí)間、頻率基準(zhǔn)使用，可以為電子產(chǎn)品提供一個(gè)計(jì)時(shí)的標(biāo)準(zhǔn)間隔以及相對(duì)于LC振蕩器頻率更為穩(wěn)定的電子元器件。SYN5305型晶振測(cè)試儀在通信設(shè)備、汽車(chē)電子設(shè)備、醫(yī)療電子、安防電子、工業(yè)自動(dòng)化設(shè)備中應(yīng)用廣泛。

一、無(wú)源晶振和有源晶振的區(qū)別
SYN5305型晶振測(cè)試儀可同時(shí)測(cè)量有源晶振，無(wú)源晶振，直插晶振等。有源晶振是指不依靠外部電路,通過(guò)自身產(chǎn)生震蕩。無(wú)源晶振就是一個(gè)晶體振蕩器，無(wú)法通過(guò)自身產(chǎn)生震蕩。有源晶振與無(wú)源晶振相比，有源晶振信號(hào)電平幾乎是不變的，價(jià)格方面也會(huì)更高。
二、晶振的作用原理
晶振的壓電效應(yīng)是指某些電介質(zhì)在沿一定方向上受到外力的作用而變形時(shí)，其內(nèi)部會(huì)產(chǎn)生極化現(xiàn)象，同時(shí)在它的兩個(gè)相對(duì)表面上出現(xiàn)正負(fù)相反的電荷。當(dāng)在晶體表面上施加機(jī)械壓力時(shí)，與機(jī)械壓力成比例的電壓出現(xiàn)在晶體上。該電壓會(huì)導(dǎo)致晶體失真，失真的量將與施加的電壓成比例，并且還與施加在晶體上的交流電壓成正比，從而導(dǎo)致晶體以其固有頻率振動(dòng)。這種壓電效應(yīng)會(huì)產(chǎn)生機(jī)械振動(dòng)或振蕩，可用來(lái)代替以前的振蕩器中的標(biāo)準(zhǔn)LC振蕩電路。

三、晶振頻率測(cè)試儀的特點(diǎn)
SYN5305型晶振測(cè)試儀采用7寸大觸摸屏設(shè)計(jì)，便于用戶(hù)實(shí)際操作，提高工作效率。頻率測(cè)量分辨率最高可達(dá)12位/s，被測(cè)頻率范圍高達(dá)60GHz，頻率測(cè)量功能可與一流頻率計(jì)媲美。負(fù)載電容在5P～20P范圍內(nèi)任意可調(diào)，支持ppm/ppb/瞬時(shí)日差/瞬時(shí)月差/瞬時(shí)年差/上下限測(cè)量。

四、石英晶振測(cè)試儀使用注意事項(xiàng)
SYN5305型晶振測(cè)試儀系統(tǒng)前面板包括語(yǔ)音出輸出、USB存儲(chǔ)、電源開(kāi)關(guān)、7寸觸摸液晶屏、通道1，通道2，通道3及可調(diào)旋鈕。三個(gè)通道為測(cè)試輸入接口，可輸入頻率和脈沖信號(hào)。測(cè)試使用時(shí)給相應(yīng)通道輸入頻率信號(hào)，開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。系統(tǒng)會(huì)自動(dòng)顯示相應(yīng)的統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù)，需要注意的是，標(biāo)稱(chēng)值是根據(jù)輸入信號(hào)自動(dòng)算出來(lái)了，如果標(biāo)稱(chēng)值和實(shí)際輸入頻的中心頻率不符，可以通過(guò)點(diǎn)擊標(biāo)稱(chēng)值欄手動(dòng)修改。

五、晶振測(cè)試儀夾具使用操作
SYN5305型晶振測(cè)試儀在測(cè)試貼片晶振中，輸出SMA口即可測(cè)得晶振輸出信號(hào)。待測(cè)晶振頻率為＜1MHz需要短接跳線帽，待測(cè)晶振頻率為1MHz～30MHz需要斷開(kāi)跳線帽。直插晶振的匹配電容，可調(diào)范圍 5pF～20pF。如無(wú)信號(hào)輸出，可根據(jù)匹配電容適當(dāng)增大減小。也可根據(jù)封裝大小將匹配電容放置0603、0805調(diào)試卡槽中，使其接觸良好。

審核編輯 黃宇