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由HPC邊緣錨定的單原子Co?N4位點(diǎn)電催化的2e- ORR具有更高選擇性

清新電源 ? 來源:清新電源 ? 作者:清新電源 ? 2022-11-28 10:22 ? 次閱讀
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研究背景

作為一種高增值化學(xué)品,過氧化氫(H2O2)廣泛用于家庭、醫(yī)療、農(nóng)業(yè)和工業(yè)等領(lǐng)域。迄今為止,H2O2的工業(yè)生產(chǎn)主要通過蒽醌法實(shí)現(xiàn),但這種方法需要昂貴的Pd催化劑,非常耗能。近年來,許多研究人員正聚焦于電催化氧還原反應(yīng)(ORR),以更“綠色”的可持續(xù)方案來生產(chǎn)H2O2,其中O2在正極發(fā)生雙電子(2e-)還原反應(yīng)的選擇性對高效H2O2生產(chǎn)至關(guān)重要。然而,電合成H2O2過程中還會發(fā)生競爭性四電子(4e-)ORR,這大大降低了H2O2的產(chǎn)率。因此,除了提高電催化劑的活性和穩(wěn)定性之外,還需要提高2e- ORR的高選擇性。

成果簡介

鑒于此,格里菲斯大學(xué)張山青教授和上海理工大學(xué)Yuhai Dou(共同通訊作者)等系統(tǒng)研究了分級多孔碳(HPC)負(fù)載的單原子催化劑(SACs)邊緣對氧還原反應(yīng)(ORR)的雙電子(2e-)途徑和四電子(4e-)途徑的選擇性有何影響。研究發(fā)現(xiàn),與基面錨定的單原子位點(diǎn)相比,由HPC邊緣錨定的單原子Co?N4位點(diǎn)電催化的2e- ORR具有更高的選擇性。相關(guān)成果以“Edge-hosted Atomic Co?N4 Sites on Hierarchical Porous Carbon for Highly Selective Two-electron Oxygen Reduction Reaction”為題發(fā)表在Angew. Chem. Int. Ed.上。

研究亮點(diǎn)

1、在Co-N4/HPC催化劑中,HPC邊緣錨定的Co–N4位點(diǎn)在堿性介質(zhì)中對2e--ORR路徑呈現(xiàn)95%的高選擇性;

2、ORR期間,含氧官能團(tuán)(OFGs)很容易地吸附在HPC邊緣。

圖文介紹

圖1 a)基面和邊緣錨定的Co-N4經(jīng)優(yōu)化后的原子模型;b)不同Co–N–C結(jié)構(gòu)的形成能;c)2e?-ORR的火山曲線。

基于單層石墨烯的缺陷位點(diǎn),作者構(gòu)建了五種類型的Co–N4構(gòu)型(圖1a),包括基面承載的Co–N4/G(位于石墨烯基面上)、邊緣承載的Co–N4/ACG(位于石墨烯扶手椅型邊緣之間)、Co–N4/AC-edge(位于石墨烯扶手椅型邊緣旁邊)、Co–N4/ZZG(位于石墨烯鋸齒型邊緣之間)和Co–N4/ZZ-edge(位于石墨烯鋸齒型邊緣旁邊)。當(dāng)Co原子嵌入N摻雜石墨烯時,Co–N4構(gòu)型的形成能如圖1b所示。Co–N4/ACG、Co–N4/AC-edge、Co–N4/ZZG和Co–N4/ZZ-edge的形成能低于Co–N4/G的形成能,表明Co原子更傾向于通過形成Co-N鍵而被錨定在邊緣位置。OOH*的吸附自由能(ΔGOOH*)可作為反映2e?-ORR活性的關(guān)鍵描述符。理想情況下,2e--ORR的ΔGOOH*應(yīng)為4.2 eV,熱力學(xué)極限電勢(UL)接近0.7 V。對于4e--ORR,最佳的ΔGOOH*應(yīng)接近3.9 eV。Co–N4/G位于火山圖的左側(cè),ΔGOOH*為3.93 eV,ORR傾向于4e-途徑(圖1c)。而Co–N4/ZZ-edge位于火山圖的峰值附近,具有4.24 eV的適度ΔGOOH*和接近零的H2O2生成過電位。以上結(jié)果表明,錨定位點(diǎn)對ORR的自由能變化有顯著影響,邊緣錨定的Co–N4位點(diǎn)比基面錨定的Co–N4位點(diǎn)更有利于2e--ORR。

圖2 a)由分級多孔碳(HPC)和Co-Phen合成Co-N/HPC催化劑;Co-N/HPC的b)SEM圖像,c)DF-TEM圖像(插圖:SAED圖案),d)BF-STEM圖像,e-f)HAADF-STEM圖像;g)Co-N/HPC的HAADF-STEM和相應(yīng)的元素映射圖。

通過簡單的配體輔助浸漬-煅燒方法實(shí)現(xiàn)了Co在碳基體上的原子級分散。如圖2a所示。選擇鄰二氮菲(Phen)作為配體,與Co2+配位,形成Co-Phen復(fù)合物。以不同邊緣/塊體比值的分級多孔碳(HPC)和石墨烯片(GFs)為載體,通過浸漬法吸附Co-Phen復(fù)合物。通過熱活化和后處理,除去不穩(wěn)定的物質(zhì)后,獲得了Co-N/HPC和Co-N/GFs催化劑。SEM圖像顯示了具有豐富邊緣的Co-N/HPC的分級多孔框架(圖2b)。Co-N/HPC的暗場透射電子顯微鏡(DF-TEM)圖像(圖2c)顯示基面上存在豐富的不規(guī)則微孔和中孔,它們可以提供額外的面內(nèi)孔邊緣作為Co原子的錨定位置。Co-N/HPC的選區(qū)電子衍射(SAED)顯示了模糊的衍射環(huán),表明了該樣品具有無定形碳的典型特征(圖2c的插圖),也進(jìn)一步排除了結(jié)晶Co物種的存在。采用像差校正的掃描透射電子顯微鏡(STEM)來觀察原子級分散的Co物種。明場(BF)像顯示Co-N/HPC呈現(xiàn)豐富的條紋(圖2d),這些條紋為平面外邊緣。同一區(qū)域的高角度環(huán)形暗場像(HAADF)(圖2e)顯示出密集的原子級亮點(diǎn)(用紅色虛線圓圈標(biāo)記),這些亮點(diǎn)為直徑為0.19 nm的孤立Co單原子。此外,在面內(nèi)孔邊緣周圍也存在單原子Co(圖2f)。Co-N/HPC的EDS圖顯示,碳基體中存在N和Co(圖2g)。

圖3 a)Co-N/GFs和Co-N/HPC的拉曼光譜;b)Co-N/GFs和Co-N/HPC的高分辨率C 1s XPS光譜;c)不同樣品的Co K邊緣XANES光譜(插圖:所選區(qū)域的放大圖像);d)Co-N/GFs、Co-N/HPC和參考樣品的k2加權(quán)FT-EXAFS曲線;e) Co箔、CoPc、Co-N/GFs和Co-N/HPC的Co K邊 WT-EXAFS等值線圖。

采用拉曼光譜進(jìn)一步證實(shí)了Co-N/HPC的富邊緣和富缺陷性質(zhì)。如圖3a所示,Co-N/HPC和Co-N/GFs的拉曼光譜可以分為為四個譜帶,對應(yīng)于石墨碳G帶(~1595cm-1)和缺陷相關(guān)D帶:D4帶(~1200cm-1)、D1帶(~1320cm-1)和D3帶(~1505cm-1)。與Co-N/GFs相比,Co-N/HPC的D帶峰更強(qiáng)且更寬,表明邊緣比例更大。

作者用XPS研究了電催化劑的表面化學(xué)狀態(tài)。高分辨C 1s光譜(圖3b)可分為C-C/C=C、C-N、C-O/C=O和O-C=O峰。從幾何角度來看,Co?N4/AC-edge和Co?N4/ZZ-edge模型中暴露的兩個N原子僅與一個碳原子結(jié)合,而Co?N4/G內(nèi)部N原子可以同時與兩個碳原子結(jié)合。因此,扶手椅型和鋸齒型邊緣的Co?N4部分比基面部分具有數(shù)目更少的C?N鍵。Co-N/HPC的C?N鍵含量(13.8%)小于CoN/GFs的C?N鍵含量(22.3%),驗(yàn)證了Co-N/HPC中有更多位于邊緣的Co原子。Co-K邊X射線吸收近邊緣結(jié)構(gòu)(XANES)光譜(圖3c)所示,Co-N/HPC和Co-N/GFs的吸收邊緣接近CoO,表明Co原子帶正電荷。在約7710 eV處注意到前沿峰對應(yīng)于Co的1s→3d躍遷,表明中心Co位置的D4h對稱性扭曲。觀察到Co-N/HPC的峰前強(qiáng)度比Co-N/GFs的峰前強(qiáng)度高,這意味著由于邊緣和孔隙引起的局部空間扭曲使得Co位點(diǎn)的對稱性降低。

傅里葉變換擴(kuò)展X射線吸收精細(xì)結(jié)構(gòu)(FTEXAFS)光譜(圖3d)顯示,在Co-N/HPC和1.43 Co-N/GFs處有一個主峰。根據(jù)鈷酞菁(CoPc)的光譜,該主峰可歸屬于Co-N配位。EXAFS小波變換(WT)分析(圖3e)顯示,Co-N/HPC和Co-N/GFs的最大強(qiáng)度接近CoPc(~4.0 ??1)。在Co-N/HPC和Co-N/GF中沒有觀察到Co箔中Co-Co配位的最大強(qiáng)度(~6.8 ??1)。Co-N/HPC和Co-N/GFs的FT-EXAFS擬合表明,中心Co原子平均與4個N原子成鍵,形成Co?N4配位結(jié)構(gòu)。

圖4 a)在轉(zhuǎn)速為1600轉(zhuǎn)/分的O2飽和的0.1 M KOH中,在RRDE上記錄的LSV曲線;b)計(jì)算的2e--ORR選擇性和電子轉(zhuǎn)移數(shù)(n)與電勢的函數(shù)關(guān)系;c)從LSV曲線得出的塔菲爾圖;d)Co-N/HPC和以前報道的催化劑在堿性介質(zhì)中的2e--ORR起始電位和最大選擇性的比較;e)在0.50 V vs. RHE的固定盤電位下對Co-N/HPC的穩(wěn)定性評價。

線性掃描伏安法(LSV)曲線(圖4a)顯示了記錄在圓盤電極和環(huán)形電極上的氧還原和H2O2氧化的電流信號。Co-N/GFs催化劑呈現(xiàn)典型的準(zhǔn)4e-路徑,具有最早的起始電位、最高的擴(kuò)散限制盤電流密度和最低的環(huán)電流。相反,在Co-N/HPC上觀察到最高的環(huán)電流,表明在ORR過程中產(chǎn)生了更多的H2O2。計(jì)算得到的2e-選擇性和電子轉(zhuǎn)移數(shù)(n)作為電勢的函數(shù)繪制在圖4b中。Co-N/HPC的平均2e--ORR選擇性約為95%,在0.52 V(vs. RHE)時,其最大值為98%。在0.2–0.75V(vs. RHE)的寬電位范圍內(nèi),相應(yīng)的電子轉(zhuǎn)移數(shù)低于2.1,表明Co-N/HPC的2e--ORR途徑具有高度選擇性。

作者通過計(jì)算Tafel斜率,分析了ORR動力學(xué)(圖4c)。在圓盤電極上,Co-N/HPC的Tafel斜率(102.2 mV dec-1)大于Co-N/GFs的Tafel斜率(72.0 mV dec-1),表明ORR的速控步驟為OOH*形成和解離。而Co-N/HPC環(huán)電極的Tafel斜率最低(84.9mV dec-1),表明H2O2生成動力學(xué)最快。CoN/HPC與之前報道的最先進(jìn)催化劑之間的2e--ORR催化性能比較結(jié)果如圖4d所示。Co-N/HPC催化劑表現(xiàn)出與大多數(shù)SACs相當(dāng)?shù)拇呋钚裕⒈憩F(xiàn)出最高的催化選擇性。Co-N/HPC還顯示出優(yōu)異的催化穩(wěn)定性,在10 h計(jì)時電流測試期間,環(huán)電流和盤電流的衰減可忽略,選擇性保持在90%以上(圖4e)。

圖5 Co-N/HPC和Co-N/OHPC的a)XPS光譜和b)K邊XANES光譜;c)在O2飽和的0.1 M KOH中,在RRDE上記錄的Co-N/HPC和Co-N/OHPC的LSV曲線;d)計(jì)算出的2e-選擇性和電子轉(zhuǎn)移數(shù)(n)與外加電勢的函數(shù)關(guān)系;e)Co?N4/ACG-O2,Co?N4/AC-edge-O1,Co?N4/ZZG-COOH和Co?N4/ZZ-edge-OH的優(yōu)化結(jié)構(gòu)模型;f)2e--ORR的相應(yīng)火山圖。

為了檢查電催化反應(yīng)后催化劑的組成和結(jié)構(gòu)變化,作者收集了ORR反應(yīng)后的Co-N/HPC催化劑(記為CoN/OHPC),并進(jìn)行表征。XPS圖譜顯示,O濃度從Co-N/HPC的4.0 at.%增加到Co-N/OHPC的7.6 at.%。(圖5a) 采用基于同步加速器的軟XAS來鑒別附著在催化劑上的氧物種。在O k邊XANES光譜中(圖5b),531.8 eV處的A峰屬于酮和/或羧酸中的C=O基團(tuán)。534.3 eV處的B峰源于1s→π*激發(fā),這是由于C和O之間的電荷轉(zhuǎn)移(包括C=O和C–O)。537.2 eV處的C峰和539.6 eV處的D峰可分別歸因于σ* C–O和σ* C=O共振。可以看出,OFGs的峰值信號在CoN/OHPC更加明顯,為ORR運(yùn)行期間OFGs的形成提供了證據(jù)。進(jìn)一步檢測了氧官能化CoN/OHPC的2e--ORR活性和選擇性。如圖5c所示,對于Co-N/OHPC,盤電流和環(huán)電流增加。與Co-N/HPC相比,選擇性略有下降,但仍保持在90%以上(圖5d)。通過計(jì)算各種構(gòu)型的ΔGOOH*,發(fā)現(xiàn)帶有環(huán)氧基的Co?N4/ACG-O2、帶有羰基的Co?N4/AC-edge-O1和帶有羧基的Co?N4/ZZG-COOH具有更合適的ΔGOOH*值,并表現(xiàn)出高催化活性(圖5f)。位于火山頂部的–OH官能化鋸齒型邊緣(Co–N4/ZZ edge-OH)的Co–N4位點(diǎn)具有零過電位和最高的2e--ORR催化活性。附近的OFGs可以進(jìn)一步調(diào)整OOH*在Co–N4位置上的結(jié)合強(qiáng)度,使其在熱力學(xué)上更有利于2e--ORR。

總結(jié)與展望

本文闡明了碳邊緣結(jié)構(gòu)在控制Co-SACs催化的ORR途徑(即2e-和4e-途徑)中的重要作用。理論計(jì)算表明,位于邊緣的Co?N4位點(diǎn)表現(xiàn)出高選擇性的2e--ORR。在富含邊緣的CoN/HPC催化劑上實(shí)現(xiàn)了約95%的選擇性。在ORR過程中,暴露的邊緣很容易被氧官能團(tuán)氧化,這促進(jìn)了2e--ORR動力學(xué),并將選擇性保持在90%以上。本工作揭示了錨定位點(diǎn)和功能基團(tuán)對調(diào)控SACs上ORR途徑的作用,并為大規(guī)模、低成本的電合成H2O2提供了一條途徑。

審核編輯:郭婷

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原文標(biāo)題:Angew:分級多孔碳邊緣錨定Co?N4位點(diǎn),提高雙電子氧還原反應(yīng)的選擇性

文章出處:【微信號:清新電源,微信公眾號:清新電源】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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    發(fā)表于 03-18 18:39
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    什么是高選擇性蝕刻

    不同材料的刻蝕速率比,達(dá)到?>5:1?甚至更高選擇比標(biāo)準(zhǔn)?。 一、核心價值與定義 l?精準(zhǔn)材料去除? 高選擇性蝕刻通過調(diào)整反應(yīng)條件,使目標(biāo)材料(如多晶硅、氮化硅)的刻蝕速率遠(yuǎn)高于掩膜或底層材料(如氧化硅、光刻膠),實(shí)現(xiàn)
    的頭像 發(fā)表于 03-12 17:02 ?1010次閱讀