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NAND閃存的應用中的磨損均衡

星星科技指導員 ? 來源:嵌入式計算設計 ? 作者:Gibson Ming-Dar ? 2022-10-24 14:30 ? 次閱讀
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在NAND閃存的應用中,程序/擦除周期存在一個限制,稱為“P/E周期”。在NAND閃存中,當每個塊的P/E周期達到最大值時,這些塊將變得不可工作,需要一個備用塊來替換它。當這些備用塊用完時,此NAND閃存將無法再使用。因此,如果只寫入和擦除某些塊,這些特定塊的P/E周期將被迅速消耗,備用塊將很快耗盡,導致NAND閃存提前失效。

有三種類型的磨損均衡:動態、靜態和全局。動態磨損均衡僅處理可用空間,并確保寫入行為僅發生在同一空間中擦除計數較低的塊中。靜態磨損均衡考慮了整個閃存芯片,包括已寫入的空白區域和塊。此技術將數據從擦除次數較少的塊移動到其他塊,以便可以將寫入時間較短的塊留給將來使用。最后,還有全局磨損均衡,其中與靜態磨損均衡的最大區別在于其范圍擴展到整個設備,而靜態磨損均衡僅適用于單個閃存芯片。這可確保寫入行為發生在整個設備中寫入頻率較低的塊中。

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NAND 閃存控制器的供應商在開發時必須考慮 NAND 的此功能。因此,磨損均衡旨在允許NAND閃存在整個模塊使用過程中均勻分布,以便所有模塊的市盈率在相同數據下上升。該技術允許在產品達到其生命周期之前徹底使用所有模塊,從而延長了NAND閃存的使用壽命。因此,磨損均衡技術可以提高NAND閃存產品的可靠性和耐用性。

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審核編輯:郭婷

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