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某產品敏感源頭電容濾波解決輻射抗擾度案例

EMC容冠電磁 ? 來源:EMC容冠電磁 ? 作者:EMC容冠電磁 ? 2022-10-10 09:05 ? 次閱讀
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某產品敏感源頭電容濾波解決輻射抗擾度案例

西安容冠電磁科技有限公司 桃花島主

1

問題描述

某機載平板電腦(見圖1)在進行RS103 200V/m電磁場輻射抗擾度實驗時,產品在150MHz-300MHz頻段出現屏幕回退現象,即從正常顯示回退到操作界面,如圖2所示。

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圖1 正常放映

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圖2 屏幕回退

2

故障診斷

打開機殼,產品后蓋為金屬外殼,顯示屏為非屏蔽普通觸摸屏,另為手持設備采用電池供電,無I/O接口線纜。初步懷疑電磁場輻射通過屏幕開口耦合到內部電路。產品由顯示屏、主板、觸摸屏、按鍵板四部分構成,其中,按鍵板、以太網USB接口與主板都通過排線連接,長度在100mm以上,在排線上加扁平鐵氧體磁環排查,如圖3所示。

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圖3 排線加扁平磁環

當按鍵排線和以太網USB排線加扁平鐵氧體磁環后,再次測試電磁場輻射抗擾度,試驗通過。初步確認為排線耦合的干擾導致問題。

進一步確認,拔掉按鍵排線,同時去掉以太網排線磁環,再次進行200V/m電磁場輻射抗擾度試驗,此時產品工作正常,如圖4所示。反之,當拔掉以太網排線插上按鍵排線時,抗擾度問題復現,因此,確認為按鍵排線受到輻射干擾導致產品出現輻射抗擾度問題。

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圖4 拔掉按鍵排線

使用EMS抗干擾診斷整改系統(容冠電磁)進行診斷,連接好脈沖發生器和磁場探頭,在芯片(核心板)各管腳注入磁場干擾,如圖5所示。當探頭置于核心板左側部分時,此時故障會偶爾復現,如圖6所示。

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圖5 磁場注入

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圖6 核心板敏感部位

將探頭換成針式探頭,如圖7所示。直接在確認的核心板敏感部位對核心板芯片各管腳注入電磁干擾,如圖8所示,當探頭置于按鍵各管腳時,此時故障可以復現,因此確認按鍵信號受到干擾。

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圖7 針式探頭

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圖8 使用針式探頭直接注入

3

原因分析

按鍵信號電路流程如圖9所示。

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圖9 按鍵信號流程

按鍵板主要是控制音量加減、返回、菜單、主頁;核心板內部包含處理器,提供屏幕顯示、數據處理等功能,類似手機主板。因此,按鍵排線耦合的干擾,可以直接進入核心板,干擾處理器。

查看按鍵板和主板原理圖中的按鍵信號,分別如圖10和圖11所示,從圖中可以看出,按鍵信號從按鍵板經過排線進入主板,然后到核心板按鍵管腳,整個鏈路沒有任何電磁干擾濾波措施,那么,按鍵排線耦合的電磁場輻射干擾,可以直接通過排線到達核心板處理器,從而引起電磁干擾問題。

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圖10 按鍵板按鍵信號

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圖11 主板按鍵信號

4

整改措施

根據以上分析,考慮到產品在150MHz-300MHz頻段受到干擾,因此,在芯片按鍵管腳焊接330pF濾波電容,其諧振頻率大約在300MHz,如圖12所示。

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圖12 核心板按鍵管腳加330pF電容濾波

整改后再次使用E1抗擾度診斷整改系統進行驗證,此時在敏感信號管腳注入電磁干擾,屏幕回退問題不再復現。

5

實踐效果

將產品拿到標準實驗室進行200V/m電磁場輻射抗擾度試驗,此時產品在整個頻段工作正常,實驗通過。

【島主點評/點睛】

產品I/O接口是EMC測試的重點考察對象,也是很多產品EMC問題的罪魁禍首,毫不夸張的說,產品EMC成也I/O接口敗也I/O接口,然雪上加霜的是,目前很多處理器出現了直通I/O的信號,使得產品EMC問題更加復雜化,嗚呼,還讓工程師活不活!本案例產品輻射抗擾度問題,經過縝密的診斷和分析,為I/O信號線耦合電磁干擾進入處理器所致,后通過在處理器端I/O信號加電容濾波成功化解。本文的方法和思路,如同暗夜里的一道光芒,不啻給此類問題的解決指引了方向,聽君撥云見日,頓感茅塞頓開。


審核編輯 黃昊宇

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