DDR4測試進(jìn)行對比：

凱智通最新發(fā)布DDR DIMM雙面彈測試治具適用于DDR?/5測試的，與之前常用的導(dǎo)電膠，從材質(zhì)還是工作原理都各不相同，我們今天就來比較一下這兩款的區(qū)別。

圖1 DDR4*8導(dǎo)電膠測試座

圖2 DDR4*16 DIMM雙面彈測試治具

凱智通DDR DIMM雙面測試治具的5大優(yōu)點(diǎn)

1.壽命長

采用臺灣著名廠家生產(chǎn)的內(nèi)存顆粒測試專用PCB，金手指，IC焊盤鍍金層是普通PCB的5倍，保證測試治具有更好的導(dǎo)通和耐磨性，相比同類產(chǎn)品具有更好的超頻性能及機(jī)械壽命。

2.測試穩(wěn)定，不傷錫球

測試穩(wěn)定性：采用專利的彈片設(shè)計結(jié)構(gòu)，彈片和錫球球面接觸，減少對錫球的損壞，同時增加與錫球接觸面，測試更加穩(wěn)定。

3.操作方便

采用手動翻蓋滾軸式結(jié)構(gòu)，操作省力方便，相比同類產(chǎn)品減少磨損，達(dá)到更高的機(jī)械壽命，同時限位框采用吸鐵固定，更換更加簡便。

4.效率高

采用帶定位孔內(nèi)存顆粒測試專用PCB。探針版與PCB孔精確定位，保證探針與PCB精確定位，如有損壞用戶可自行更換自行更換維修，簡單方便，減少返廠維修為客戶爭取寶貴時間。

5.測試頻率高

雙面彈接觸彈片較短（1.9mm），減少芯片與原PCBA的信號傳輸距離，支持高頻測試；

雙面彈膠芯/導(dǎo)電膠/探針性能對比

圖3 對比圖

審核編輯 黃昊宇