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PCB熔錫不良失效分析

新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 來源:新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 作者:新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 2022-08-10 14:25 ? 次閱讀
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案例背景

錫厚度不均勻?qū)е碌腻儗雍辖鸹菬犸L(fēng)整平(噴錫)工藝PCB常見的失效模式。本篇文章針對(duì)此問題,分享以下案例。

不良解析過程

1.外觀目檢

9c2758432eea4dfebf523c4ea449178d~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1660717329&x-signature=mGDJeJUGQ3LVQzJKx3Zmioo4Yl8%3D

說明:PCB焊盤的表面處理方式為熱風(fēng)整平(噴錫)。

2.EDS分析

8bae713780bd4e298bbc6a80e0538509~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1660717329&x-signature=MJzbcaxGO5ocQEjaoKyzxQgvfI0%3D

說明:失效焊點(diǎn)PAD上無(wú)明顯錫膏(Sn)附著,未發(fā)現(xiàn)異常元素, C元素約占30%(助焊劑主要成分之一)。

3.斷面金相分析

6e127d2fe2bb4cc2b74b076bb76da23d~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1660717329&x-signature=qcw8y86Mmn%2BMU9wC96ufis6zDQE%3D

說明:斷面分析顯示,未潤(rùn)濕位置具有表面合金化的典型特征,即IMC層裸露。

4.斷面SEM分析

c2f85e9cd3c24e1d86d9883b2c713156~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1660717329&x-signature=6f65RRo%2BTwNQfBZhCqm282LoVOg%3D

說明:PCB的鍍層分析Sn的厚度,對(duì)PAD位置進(jìn)行斷面SEM分析, PAD表層呈現(xiàn)合金化狀態(tài)。

失效機(jī)理解析

PCB表面Sn鍍層厚度不均勻,導(dǎo)致局部位置焊盤表面的鍍層合金化,即IMC層(Cu6Sn5)裸露,由于IMC含有大量的Cu,其熔點(diǎn)遠(yuǎn)高于錫焊料,從而造成焊盤表面可焊性降低,回流焊接時(shí)易發(fā)生焊盤不潤(rùn)濕,焊錫爬至器件焊端的現(xiàn)象。

4332444a16414cb0b133849dc3f126b8~noop.image?_iz=58558&from=article.pc_detail&x-expires=1660717329&x-signature=iHqvoH9fJ1Hw%2FJb0JVykinEWlxw%3D

本篇文章介紹了PCB熔錫不良失效分析。如需轉(zhuǎn)載本篇文章,后臺(tái)私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載,我們將依法維護(hù)法定權(quán)利。原創(chuàng)不易,感謝支持!
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審核編輯 黃昊宇

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