SMU 源測量單元的概念始創于上個世紀50年代，隨著半導體工業的元器件以及各式新穎材料的開發。直到今天SMU （源測量單元）依舊是半導體分立元器件以及各類新穎材料I-V測量的常見工具。例如大家熟知的二極管、三極管、精密電阻等分立器件，以及超導材料、納米材料、各類半導體材料、鐵電材料、壓電材料不一一贅述。

時至今日，以寬禁帶半導體、量子計算、VCSEL、硅光技術、腦機接口、憶阻器為代表的新技術，持續推動元器件性能的提升，但同時也給測試和測量帶來了新的挑戰。用戶不再僅僅考慮I-V 測試， C-V 測試，脈沖測試類的傳統測試項目，而是向著高壓、高流、高頻、高通道密度的方向繼續快速發展，傳統儀表從滿足技術要求或是預算的上限上看都開始顯得越發的吃力。

基于上述考慮，是德科技為用戶設計推出了新一代高性能的PXI模塊化測試平臺，這個平臺具有極高的靈活性，PXI的卡槽也為后續的擴展和性能升級留出了物理空間。在提升SMU密度，降低單個輸出通道的成本方面具備無與倫比的優勢。

不僅如此，PXI模塊化平臺不僅僅只有SMU模塊，還提供用戶常用的DMM數字化模塊、示波器模塊、射頻儀器模塊等等常見的PXI板卡式的測試儀器，為用戶構建不同類型的測試系統提供了極大的便利。

以VCSEL為例：VCSEL從誕生起，是作為新一代光存儲和光通信應用的核心器件，應用在光并行處理、光識別、光互聯系統、光存儲等領域。

隨著工藝、材料技術改進和VCSEL技術的成熟，VCSEL元器件在功耗、制造成本、集成、散熱等領域的優勢開始顯現，以其作為核心元件的光學感測技術進入了行業應用，同時已在激光打印機、光學鼠標、汽車激光雷達（LiDAR）、輔助駕駛、氣體傳感器、活體檢測、虹膜識別、AR/VR、機器人視覺、醫療美容等領域得以初探，并逐漸應用于工業加熱、環境監測、醫療設備等商業級應用以及3D感知、ToF鏡頭等消費級應用。