設(shè)計的可靠性：兩個設(shè)計的可靠性問題
最近研發(fā)部在開發(fā)一款產(chǎn)品時，遇到了兩個設(shè)計的可靠性問題，分享出來.
第一個可靠性問題：霍爾感應(yīng)在高溫實驗后，功能失效.
產(chǎn)品試產(chǎn)后正準備上線生產(chǎn)，但是在做可靠性測試時，品質(zhì)發(fā)現(xiàn)了這個問題，就是高溫后霍爾功能失效.
經(jīng)分析，發(fā)現(xiàn)霍爾與磁鐵的的距離為9MM, 而磁鐵在高溫后磁力會下降，導至霍爾感應(yīng)不到磁鐵. 源頭還是設(shè)計工程師經(jīng)驗不足，考量的不周全. 而且磁鐵還是異形的，做樣周期更長; 模具已經(jīng)定型了，沒法改模具了，只能改善磁鐵了，一是提高磁鐵的溫度系數(shù),二是磁鐵加厚，增加磁鐵磁力. 經(jīng)驗證方案是可行的.
第二個可靠性問題：耳機在充電盒內(nèi)不能斷連
這種問題是概率性的發(fā)生，生產(chǎn)無法 管控，經(jīng)分析是金屬環(huán)與觸摸距離太近了. 由于硬件及模具都已定型并開始小批量生產(chǎn)，只能從軟件上解決了：當耳機在充電盒內(nèi)時，屏蔽觸摸功能;這樣就可以解決這種誤動作了.經(jīng)驗證方法是可行的.
審核編輯：符乾江
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