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M.2_KEY_B/E測試夾具應用場景

高頻高速研究中心 ? 來源:信號完整性與電源完整性 ? 作者:信號完整性與電源 ? 2021-11-19 10:23 ? 次閱讀
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1.應用場景

支持M.2接口基板測試(M.2-Based Board Test)。

2.主要特點

· 阻抗一致性優越,差分阻抗85Ω±%5。

· 極低的插入損耗。

· 各通道skew差異小于±2ps。

· SI性能優化至16Gbps,符合PCIE4.0,SATA3.0協議。

· 高性能SMP連接器,最大帶寬支持到60Ghz。

3.產品描述

M.2_KEY-B/E測試夾具采用標準M.2_KEEY_B/E金手指接口,支持PCIE1.0~4.0和SATA1.0~SATA3.0數據測試,采用SMP高速連接器與儀器連接,單塊板卡機械尺寸為標準M.2板卡尺寸,22mm*80mm。

4.產品設計

M.2_KEY-B/E測試夾具板卡是測試主板的,代替M.2接口的板卡插在主板上測試信號

M.2_KEY-B/E單板全部走微帶線,無打孔,阻抗設計控制差分85歐姆,包含2倍校準線。采用高速SMP接頭與儀器連接(最大帶寬支持60Ghz)。

5.產品測試

測試儀器:KEYSIGHT 網絡分析儀 E5071C(300khz—20Ghz)

通過同軸線纜和SMP轉接線連接單板校準線,測試單板實際差分阻抗

經網絡分析儀測試,單板PCIE信號線差分阻抗控制在85±5Ω

通過過同軸線纜和SMP轉接線連接單板校準線,測試單板插入損耗。

經測試,20Ghz帶寬內無諧振,測試結果為走線雙倍線長的插入損耗,大概是-5.9~-6.2db,我們單根SMA轉SMP線纜損耗是-1db,所以線纜總損耗是-2~-2.1db(8Ghz)

責任編輯:haq

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原文標題:M.2_KEY_B/E 測試夾具

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